拡散ポンプ油および真空グリースの二次電子放射
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
Secondary electron emission (SEE) coefficient a and inelastic reflection coefficient η of Octoil-S, DC-704, and DC-705 have been studied by a pulsed-beam method in the primary range 502000 eV. For these three specimens, the maximum values of a are 2.8, 2.0, and 2.0, respectively, and the primary energies corresponding to the maximum a are equally 200 eV. The maximum values of η are 0.14, 0.17, and 0.17, respectively. SEE properties of DC-705 are analyzed by using δ-η diagram (δ =σ-η) and the effective maximum emission depth of true secondaries is determined to be 2030Å. The results are compared with those for other molecular substances. It is also shown that the observation of SEE gives a very sensitive method for detecting organic contamination in vacuum systems.
- 日本真空協会の論文
著者
関連論文
- VAMAS-Type CMAによる標準スペクトルへの一歩
- オージュ電子利得の絶対測定 : スペクトルと真空系
- オ-ジェ電子絶対測定用CMA(VAMASタイプ)の作製--CMA内の漏れ磁場補正方式の検討 (第30回真空に関する連合講演会プロシ-ディングス)
- オ-ジェ電子利得の絶対測定-1-CMAの設計
- フレーム原子吸光法における絶対量測定の応用 : 検量線の適用濃度範囲の拡大
- ペリスタ型ポンプの脈流の特性とその除去
- 銅ニッケル合金のイオン誘起粒界損傷
- イオンスパッタによるコ-ン形成の1つの可能性(Cuの動的観察) (第30回真空に関する連合講演会プロシ-ディングス)
- 標準CMA分光器で得た絶対オージェスペクトル
- SIにつながる真の電子スペクトルを求める実験法(5)
- 講義 SIにつながる真の電子スペクトルを求める実験法(4)
- オージェ電子分光における円筒鏡型標準分光器の作成とその特性
- オージェ電子分光における運動エネルギーの絶対計測
- 絶対オージェ電子分光装置の開発と標準化
- 電子衝撃型試料加熱法
- 絶対オージェスペクトロメトリー
- FFT信号解析装置の製作と1滴法ICPへの応用
- アブストラクト
- アイソレーション・アンプを用いたオージェ電子分光法
- オージェ電子分光法による定量分析
- アブストラクト
- イオンスパッタによるコーン形成の1つの可能性 (Cuの動的観察)
- SIにつながる真の電子スペクトルを求める実験法(3)
- SIにつながる真の電子スペクトルを求める実験法(2)
- SIにつながる真の電子スペクトルを求める実験法(1)
- オージェ電子絶対測定用CMA (VAMASタイプ) の作製 : CMA内の漏れ磁場補正方式の検討
- 雑音平滑化アルゴリズムの検討 : AESにおける測定パラメータ (III)
- オージエ電子利得の絶対測定 (I) : CMAの設計
- AESにおける測定パラメータ (II) : 数値微分法の検討
- AESにおける測定パラメータ (I) : 時定数とS/Nの検討
- 電子ビーム衝撃部への表面吸着硫黄の集中 : 共吸着酸素の影響
- 高速微小電流計の設計と製作
- VAMAS-SCA-WG in Japan活動報告
- 荷電粒子と真空 [II] : 1.多価イオンに関連した原子物理と超高真空技術、2.電子線と表面
- アブストラクト
- アブストラクト
- 電子ビーム衝撃されたタングステン表面へのイオウの付着
- 「表面と分光学」第6講オージエ電子分光法 (AES) その発見からマイクロプローブAESまで
- 油拡散ポンプ系におけるイオン・ゲージによる背圧測定の影響
- ヒックマン・ポンプの到達真空度特性
- 簡単で高安定度の汎用エミッションコントローラー
- オ-ジェ電子分光法の定量化
- 二次電子放出最大深さ決定法としてδ-n解析法の検討 : 表面物理, 薄膜
- 二次電子放射特性の自動記録装置とその応用 : 表面物理, 薄膜
- 拡散ポンプ油および真空グリースの二次電子放射
- 7p-E-1 拡散ポンプ油の二次電子放射
- 有機物で汚れた金属の二次電子放射 : 電子放射
- 拡散ポンプ油DC-704およびOctoil-Sの二次電子放射
- マスフィルターの相対イオン透過率の残留ガスによる測定法