原 史朗 | 電子技術総合研究所
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概要
関連著者
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原 史朗
産業技術総合研究所
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原 史朗
電子技術総合研究所
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原 史朗
独立行政法人産業技術総合研究所
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原 史朗
独立行政法人 産業技術総合研究所
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大串 秀世
電子技術総合研究所
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吉田 貞史
電子技術総合研究所
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園田 早紀
日本真空技術(株)
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清水 三郎
日本真空技術(株)
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柴田 典義
(財)ファインセラミックスセンター材料技術研究所
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三沢 俊司
電総研
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幾原 雄一
東京大学工学部
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奥村 元
産業技術総合研究所 パワーエレクトロニクス研究センター
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奥村 元
電子技術総合研究所
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菅原 義弘
ファインセラミックスセンター
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菅原 義弘
財団法人ファインセラミックスセンター
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梶村 皓二
電子技術総合研究所
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沈 旭強
産業技術総合研究所 パワーエレクトロニクス研究センター
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井手 利英
産業技術総合研究所
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北村 順也
電子技術総合研究所
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大串 秀世
電子技術総合研究所材料科学部
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三沢 俊司
日本真空超材研
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園田 早紀
(株)アルバック 技術開発部
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清水 三聡
産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
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清水 三聡
電子技術総合研究所
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Shen Xu-Qiang
産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
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沈 旭強
電子技術総合研究所
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井手 利英
明治大学理工学部電子通信工学科
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清水 三郎
(株)アルバック 技術開発部第一研究部
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清水 三郎
日本真空技術
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沈 旭強
産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
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井手 利英
産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
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柴田 典義
Japan Fine Ceramics Center
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菅原 義弘
(財)ファインセラミックスセンター
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幾原 雄一
東京大学工学系:東北大学WPI-AIMR:ファインセラミックスセンター
著作論文
- 2p-YF-5 3C-SiC(001)-c(2×2)炭素終端表面の原子配列構造
- MBE成長窒化物半導体の表面構造
- fcc-Ti/6H-SiCの異相界面構造
- 金属/6H-SiC界面で見いだされたショットキーリミットと電荷中性点
- 7p-YH-3 SiC表面の原子配列とその制御
- SiCにおける表面構造の本質的乱れ