30a-D-11 表面敏感EXAFSによる単原子界面層の構造解析 (I) : Si/Ge/Si
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1986-09-12
著者
-
大柳 宏之
電総研
-
松下 正
高エ研
-
松下 正
Kek-pf
-
松下 正
Kek
-
石黒 武彦
京大理:crest(科技団)
-
石黒 武彦
電総研
-
坂本 邦博
電総研
-
坂本 統徳
電総研
-
八百 隆文
電総研
-
八百 隆文
広島大工
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