EXAFS法によるCuInSe2薄膜の局所構造の研究 (特集:カルコパイライト半導体) -- (物性評価--局所構造)

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概要

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• 電子技術総合研究所の論文

著者

• 大柳 宏之

  電総研

• 青野 正和

  物材機構mana

• 山口 博隆

  産総研

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