MBE成長CIS薄膜のEXAFSによる研究 (特集:カルコパイライト半導体) -- (物性評価--局所構造)

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概要

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• 電子技術総合研究所の論文

著者

• 大柳 宏之

  電総研

• 岡田 安正

  電総研

• 塩田 隆

  電子技術総合研究所

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