岡田 安正 | 電総研
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概要
関連著者
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岡田 安正
電総研
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鵜殿 治彦
茨城大工
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鵜殿 治彦
茨城大学工学部電気電子工学科
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宮本 晃男
日立金属
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岡田 安正
電子技術総合研究所電子基礎部
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菊間 勲
茨城大学工学部電気電子工学科
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岡田 安正
電子技術総合研究所
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鵜殿 治彦
茨城大
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鵜殿 治彦
茨城大学工学部
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中井 貞雄
阪大レーザー研
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塩田 隆
電子技術総合研究所
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大西 紀男
電総研
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飯塚 隆
電総研田無
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飯塚 隆
電総研
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鹿児島 誠一
電総研
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熊代 幸伸
電総研
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徳本 圓
電総研
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大柳 宏之
電総研
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小林 泰輔
大阪大学大学院
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佐々木 孝友
阪大工
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石黒 武彦
電総研
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中井 貞雄
大阪大学レーザー核融合研究センター
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権田 俊一
電総研
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八百 隆文
電総研
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宮本 晃男
阪大工
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小林 泰輔
阪大工
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森 勇介
阪大工
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佐々木 孝友
大阪大学工学部
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八百 隆文
広島大工
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横谷 篤至
宮崎大
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大西 紀男
電子技術総合研究所
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山崎 正勝
東京工業大学
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能代 幸伸
電総研
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横谷 篤至
新技術事業団木村融液動態ブロジェクト
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宮本 晃男
大阪大学工学部電気工学教室
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宮本 晃男
阪大工学部
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森 勇介
阪大工学部
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佐々木 孝友
阪大工学部
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大西 紀男
電総研田無
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岡田 安正
電総研田無
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岡田 安正
茨城大学工学部電子技術総合研究所
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中川 保雄
神戸大学教養部
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木本 忠昭
広島大学総合科学部
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根本 順吉
気象庁
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藤村 淳
横浜国立大
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小川 修三
名古屋大学
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岡田 安正
通産省電子技術総合研究所
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常石 敬一
長崎大学
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木本 忠昭
広島大学
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中川 保雄
神戸大学
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中井 貞雄
大阪大学レーザーエネルギー学研究センター
著作論文
- BP単結晶ウエハーの作成と計画
- K_7P_3O_フラックスを用いたKTP結晶の屈折率不均一改善 : バルク成長 I フラックス法
- X線2結晶法によるGaAs(001)表面の評価
- X線回折法によるMBE CuInSe2エピタキシャル層の構造的評価 (特集:カルコパイライト半導体) -- (物性評価--結晶構造)
- Gradient Freeze法により成長したGaAs中のSiが関与する欠陥
- MBE成長CIS薄膜のEXAFSによる研究 (特集:カルコパイライト半導体) -- (物性評価--局所構造)
- 大型KTP結晶における屈折率の変化と二倍高調波発生への影響
- 29aC6 KTP結晶内における屈折率一様性に関する測定(溶液成長I)
- 6p-C-8 Siの室温から1500Kでの熱膨張係数の理論的検討
- 31p GF-14 銅イオン導電体"Rb_4Cu_I_7Cl_"の相転移
- 10a-P-9 LiNbO_3単結晶面上hillocksの内部構造
- 4a-L-11 LiNbO_3結晶表面のhillockとpit
- 融液成長ZnSe結晶の格子定数の絶対測定 : Zn分圧下でのその場熱処理による格子定数の変化
- 融液成長ZnSe結晶の格子定数の絶対測定 : Zn分圧下でのその場熱処理による格子定数の変化
- 融液成長ZnSe結晶の格子定数の絶対測定 : Zn分圧下でのその場熱処理による格子定数の変化
- 高Si濃度GaAs結晶中の熱処理による欠陥反応
- 格子定数の精密測定法
- 現代における戦争と科学技術 : SDI問題を考える