シリカ粒子充てんエポキシ樹脂の応力特異場理論による強度評価の検討
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
Epoxy resins used for encapsulation of integrated circuit(IC)devices are filled with silica particles to reduce the thermal expansion coefficient and to improve the thermal conductivity.We investigated a method for estimating lifetime of cracking of epoxy resins filled with silica particles near the stress singular point.The flexural strength of the resins was measured by using the 4-point bending test on the notched specimens, and the stress distribution near the notch edges was analyzed by using a finite element method.The stress distribution curves obtained from both the particulate-filled epoxy resins and the unfilled epoxy resins with various stress singularity factor(λ)intersected one after another at a specific distance from the stress singular point.The specific distance of particulate-filled epoxy resins varied depending on the volume fraction of the added particle, the diameter of the particle and the adhesion strength at the particle-matrix interface.This specific distance was related to the plastic zone size of the matrix resin.
- 社団法人日本材料学会の論文
- 2000-04-15
著者
-
寺崎 健
株式会社日立製作所機械研究所高度設計シミュレーションセンタ
-
北野 誠
(株)日立製作所機械研究所
-
矢口 昭弘
株式会社日立製作所機械研究所
-
寺崎 健
(株)日立製作所機械研究所
-
矢口 昭弘
(株)日立製作所機械研究所
-
北野 誠
株式会社日立製作所機械研究所
-
北野 誠
(株)日立製作所
-
北野 誠
日立機械研
-
北野 誠
日立製作所
関連論文
- Sn-Cuめっきリードの室温におけるウィスカ発生・抑制機構
- テープBGAタイプCSPの開発
- PbフリーBGAはんだ接続部の衝撃耐性評価手法の確立(第2報)はんだ接続部応力による衝撃耐性評価方法の検討
- PbフリーBGAはんだ接続部の衝撃耐性評価手法の確立(第1報)衝撃破断モードの基板ひずみ依存性の検討
- 半導体デバイスにおけるシリコン基板転位発生予測手法の提案 : 転位発生限界値のデバイス構造依存性
- シリコン基板内応力特異場における転位発生強度の酸素濃度依存性
- 球圧子を用いたシリコン基板の転位発生強度評価法
- 半導体デバイスにおけるシリコン基板転位発生予測手法の提案
- PbフリーBGAはんだ接続部の衝撃耐性評価手法の確立 : (第1報)衝撃破断モードの基板ひずみ依存性の検討
- 半導体パッケージの構造設計CAEシステムの開発
- はんだリフロー工程における半導体パッケージクラックに及ぼす熱応力の影響
- 吸湿による樹脂膨潤を考慮したICパッケージ接着界面のはく離発生評価
- 表面実装型IC樹脂封止パッケージの耐リフロークラック性評価装置の試作
- はんだリフロー工程で発生するICのパッケージクラックに関する研究 : 第3報,素子接着剤層の影響
- シリカ粒子高充てんエポキシ樹脂の強度特性に及ぼす粒子形状と粒度の影響
- シリカ粒子充てんエポキシ樹脂の破壊じん性に及ぼす充てん材粒度分布の影響(信頼性工学小特集)
- 温度サイクル環境におけるICプラスチックパッケージ内のシリコンチップ熱応力の検討
- はんだリフロー工程で発生するICのパッケージクラックに関する研究 : 第2報,応力特異場理論による樹脂の強度評価
- シリカ粒子高充てんエポキシ樹脂の強度特性
- はんだリフロー工程で発生するICのパッケージクラックに関する研究
- 高信頼ファインピッチ BGA の構造設計
- 高信頼ファインピッチBGAの構造設計技術 (MES'99 第9回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集) -- (CSP・BGA(2))
- はんだバンプのき裂進展解析
- 基板ひずみによるBGAはんだ接続部の落下衝撃信頼性評価
- はんだボール接合部の寿命評価
- 半導体パッケージNSMDはんだ接続部の疲労強度評価(電子機器の熱・機械信頼性と機械工学)
- き裂進展モデルに基づくはんだ疲労寿命予測方法
- シリカ粒子高充てんエポキシ樹脂の破壊じん性測定法と破壊特性の検討
- K-0341 有限要素感度解析法による信頼性評価手法の開発(S03-1 コンピュータシミュレーションによる物づくりの高効率化)(S03 コンピュータシミュレーションによる物づくりの高効率化)
- Sn-Bi系はんだの実用化状況と今後の課題(低温鉛フリーはんだの科学と実用化)
- 829 携帯機器用 CSP はんだ接続部の信頼性評価
- Fan-out タイプ CSP (Chip Scale Package) の構造信頼性設計
- Fan-outタイプCSP(Chip Scale Package)の構造信頼性設計 (MES'99 第9回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集) -- (シミュレーション・評価(2))
- 樹脂封止形ICパッケージの熱抵抗の簡易解析法
- 面付実装形ICパッケージはんだ接合部の熱疲労強度評価 : 第2報, 3種類のリードの比較
- 面付実装形ICパッケージはんだ接合部の熱疲労強度評価
- 半導体パッケージはんだ接続パッド引出し配線の疲労強度評価
- 半導体パッケージの反り挙動に及ぼす残留応力の影響 (MEMS 2006 第16回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集)
- BGA各種接続構造の寿命評価手法の開発(OS1c 電子デバイス実装・電子材料と計算力学)
- プリント基板配線の疲労強度評価手法の検討(技術OS3-2 微小材料強度評価,技術OS3 電子・情報機器と材料力学)
- 温度サイクル寿命を向上するNSMDはんだ接続部の寿命予測手法の検討
- 高信頼度BGAパッケージの構造設計
- 携帯電子機器BGAはんだ接続部の疲労強度
- BGAはんだ接続部衝撃強度の負荷時間依存性
- 携帯機器用アンダーフィル実装試験片の強度評価
- PbフリーはんだBGA接続部の衝撃信頼性設計技術
- 衝撃曲げ試験によるBGAはんだ接続部の信頼性評価
- PbフリーはんだBGA接続部の衝撃信頼性設計技術
- 基板ひずみによるBGAはんだ接続部の落下衝撃強度評価
- シリカ粒子充てんエポキシ樹脂の応力特異場理論による強度評価の検討
- (株)日立製作所 機械研究所
- (1)電子部品の強度信頼性設計技術の開発と製品適用(技術功績,日本機械学会賞〔2004年度(平成16年度)審査経過報告〕)
- 電力用半導体パッケージり振動解析
- 電子機器のはんだ接合部の信頼性試験条件設定法の提案
- 累積損傷モデルに基づく疲労き裂進展特性の推定方法
- 106 はんだの疲労き裂進展特性の推定(OS01.電子デバイス・電子材料と計算力学(2))
- き裂進展解析による半導体はんだ接続部寿命評価手法
- 3553 BGAはんだ接合部の疲労寿命に及ぼすボイド位置の影響(S23-1 疲労特性,S23 電子実装用はんだの強度特性評価)
- 半導体微細はんだ接続部き裂経路を再現するき裂進展モデル
- 1850 ボイドを含むBGAはんだ接合部のき裂進展経路に及ぼす変位振幅の影響(J09-2 はんだ接続部の強度信頼性評価,J09 電子情報機器,電子デバイスの熱制御と強度・信頼性評価)
- 204 チップ抵抗はんだ接続部の疲労き裂進展挙動の解析(関東支部 茨城講演会)
- 21103 TSOPはんだ接続部の疲労き裂進展挙動の解析(材料力学(破壊))
- 808 構造物の微細化や薄型化が BGA 接続寿命に及ぼす影響
- CIP構造およびCPP構造再生ヘッドの応力解析(磁気記録)
- 2106 連成問題における有限要素感度解析に基づく構造適正化システムの開発
- 家族のかたち 北野誠 責められない「おやじの死」。おふくろは本当によく踏ん張った
- 843 Sn-Ag-Cu 系はんだ BGA 接合部の疲労強度評価
- 1116 Sn-Ag-Bi-Cu系Pbフリーはんだの機械的性質と低サイクル疲労強度(OS-1 鉛フリ-はんだ)
- 60 Sn・40Pbはんだのひずみ速度を考慮した疲労き裂進展特性評価
- 疲労の基礎と実機疲労設計の最新動向 : 4.電子機器の疲労設計における最近の動向
- 電子機器の疲労寿命予測のための応力シミュレーション技術
- 確実に進化しているはんだとその技術(息の長い技術)
- 放熱フィン一体形プラスチックLSIパッケージの熱設計
- 電子デバイス設計における疲労問題
- PbフリーBGAはんだ接続部の衝撃耐性評価手法の確立(第2報) : はんだ接続部応力による衝撃耐性評価方法の検討
- 表面実装はんだ付けの信頼性(3)
- 表面実装はんだ付けの信頼性(2)
- 応力-拡散解析を用いた温度サイクル中の錫ウィスカの成長性評価
- 信頼性解析技術(3)(講演セッション,第23回エレクトロニクス実装学会講演大会セッションサマリー)
- 修正累積損傷モデルによるSn-Ag-Cu系BGAはんだ接合部の断線寿命予測
- 707 応力-拡散解析を用いた錫ウィスカ成長に及ぼす結晶粒形状の影響評価(OS4.電子デバイス・電子材料と計算力学(1),オーガナイズドセッション)
- 205 電子機器の長期使用中の劣化損傷とその対策
- 修正累積損傷モデルによるSn-Ag-Cu系BGAはんだ接合部の断線寿命予測
- 719 異種接合体の損傷シミュレーションに関する研究(OS4.電子デバイス・電子材料と計算力学(4),オーガナイズドセッション)
- 721 BGAはんだ接続部の衝撃耐性解析手法の検討(OS4.電子デバイス・電子材料と計算力学(4),オーガナイズドセッション)
- 903 材料シミュレーションにおける実験との連携(CAEフォーラム:ものづくり現場におけるCAEの活用とその問題)
- 604 き裂進展モデルに基づくはんだ疲労寿命予測方法(GS.F-1 疲労)
- 信頼性解析技術の現状と課題
- はんだ接合の強度信頼性評価技術の現状と課題
- 613 はんだ接合材のクリープ破断およびクリープ疲労寿命評価(はんだ・セラミックスの特性評価,高温材料の損傷・寿命評価の展開,オーガナイスドセッション2)
- PbフリーBGAはんだ接続部の衝撃耐性評価手法の確立 : (第2報)はんだ接続部応力による衝撃耐性評価方法の検討
- 均質化法を用いたBGAパッケージの反り挙動予測