面付実装形ICパッケージはんだ接合部の熱疲労強度評価
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
Long-term reliability against thermal fatigue is required for solder joints of surface mount IC packages. This study was carried out in order to estimate thermal fatigue strength of the solder joints of the surface mount IC packages. First, a simple elastoplastic analysis of the strain produced in the solder joint was developed and the propriety of the analysis was confirmed by the stiffness measurement of the soldered leads. Next, in order to obtain data used for strength estimation, the torsion fatigue test of bulk solder and solder joint specimens was carried out. Finally, the mechanical and thermal fatigue tests of the solder joints of IC packages were carried out. It was found that the fatigue life of the solder joint by the thermal cycling test can be estimated based on the strain calculated by the present analysis and the mechanical fatigue test data of the solder joint specimens or of the solder joints of the real IC packages.
- 社団法人日本機械学会の論文
- 1988-09-25
著者
-
北野 誠
(株)日立製作所機械研究所
-
清水 一男
(株)日立製作所半導体事業部
-
河合 末男
(株)日立製作所機械研究所
-
北野 誠
株式会社日立製作所機械研究所
-
北野 誠
(株)日立製作所
-
北野 誠
日立製作所
関連論文
- テープBGAタイプCSPの開発
- 半導体デバイスにおけるシリコン基板転位発生予測手法の提案 : 転位発生限界値のデバイス構造依存性
- シリコン基板内応力特異場における転位発生強度の酸素濃度依存性
- 球圧子を用いたシリコン基板の転位発生強度評価法
- 半導体デバイスにおけるシリコン基板転位発生予測手法の提案
- 高張力鋼溶接継手の疲労強度に及ぼすビード止端処理の効果
- 241 疲れ強さに及ぼすビード止端形状の影響
- はんだリフロー工程における半導体パッケージクラックに及ぼす熱応力の影響
- 吸湿による樹脂膨潤を考慮したICパッケージ接着界面のはく離発生評価
- 表面実装型IC樹脂封止パッケージの耐リフロークラック性評価装置の試作
- はんだリフロー工程で発生するICのパッケージクラックに関する研究 : 第3報,素子接着剤層の影響
- 温度サイクル環境におけるICプラスチックパッケージ内のシリコンチップ熱応力の検討
- ICプラスチックパッケージ内シリコンチップ熱応力の検討
- はんだリフロー工程で発生するICのパッケージクラックに関する研究 : 第2報,応力特異場理論による樹脂の強度評価
- ICパッケージ内シリコンチップ残留応力に及ぼすパッケージ構造の影響
- ICプラスチックパッケージ内シリコンチップ残留応力の検討
- はんだリフロー工程で発生するICのパッケージクラックに関する研究
- ICプラスチックパッケージ内応力測定素子の開発とその応用
- はんだボール接合部の寿命評価
- シリカ粒子高充てんエポキシ樹脂の破壊じん性測定法と破壊特性の検討
- K-0341 有限要素感度解析法による信頼性評価手法の開発(S03-1 コンピュータシミュレーションによる物づくりの高効率化)(S03 コンピュータシミュレーションによる物づくりの高効率化)
- 実物の車両構体による疲労試験 : 第2報,スポット溶接部の強度評価法に関する検討
- Fan-out タイプ CSP (Chip Scale Package) の構造信頼性設計
- Fan-outタイプCSP(Chip Scale Package)の構造信頼性設計 (MES'99 第9回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集) -- (シミュレーション・評価(2))
- 電子デバイスの構造設計
- 樹脂封止形ICパッケージの熱抵抗の簡易解析法
- 面付実装形ICパッケージはんだ接合部の熱疲労強度評価 : 第2報, 3種類のリードの比較
- 面付実装形ICパッケージはんだ接合部の熱疲労強度評価
- 腐食疲労の許容応力に関する考察
- 13Cr系鋼の腐食環境下の低ΔK領域におけるき裂進展挙動
- 3%食塩水中の低ΔK領域の疲労き裂伝ぱに及ぼす応力比の影響
- 三次元曲面要素を用いた有限要素法による周期構造物の応力解析 : 第2報,非線形解析
- 締りばめ軸継手のねじり疲労強度
- 3%食塩水中のスリーブ付軸材の疲労強度
- シリカ粒子充てんエポキシ樹脂の応力特異場理論による強度評価の検討
- (株)日立製作所 機械研究所
- (1)電子部品の強度信頼性設計技術の開発と製品適用(技術功績,日本機械学会賞〔2004年度(平成16年度)審査経過報告〕)
- 電力用半導体パッケージり振動解析
- 実物の車両構体による疲労試験 : 第1報, 試験方法とその精度
- 電子機器のはんだ接合部の信頼性試験条件設定法の提案
- 2106 連成問題における有限要素感度解析に基づく構造適正化システムの開発
- 家族のかたち 北野誠 責められない「おやじの死」。おふくろは本当によく踏ん張った
- 60 Sn・40Pbはんだのひずみ速度を考慮した疲労き裂進展特性評価
- 疲労の基礎と実機疲労設計の最新動向 : 4.電子機器の疲労設計における最近の動向
- 腐食疲労き裂伝ぱに及ぼす応力波形効果
- 3%食塩水中の疲労き裂伝ぱに及ぼす応力波形および繰返し速度の影響
- 3%食塩水中の疲労き裂伝ぱに及ぼす応力波形および繰返し速度の影響
- 疲労き裂の伝ぱ挙動に及ぼす平均応力および応力履歴の影響
- 100kg/mm^2級ステンレス鋳鋼の疲労強度
- 高い平均応力下の溶接継手の平面曲げ疲れ強さに及ぼすグラインダ仕上及びピーニングの効果
- 115 高い平均応力下の溶接継手の疲れ挙動について : 第2報 HT80の場合
- 216 高い平均応力下の溶接継手の疲れ挙動について
- 確実に進化しているはんだとその技術(息の長い技術)
- 放熱フィン一体形プラスチックLSIパッケージの熱設計
- 電子デバイス設計における疲労問題
- 表面実装はんだ付けの信頼性(3)
- 表面実装はんだ付けの信頼性(2)
- 205 電子機器の長期使用中の劣化損傷とその対策