吸湿による樹脂膨潤を考慮したICパッケージ接着界面のはく離発生評価
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
Adhesion strength evaluation of molding compounds is a critical issue in both structural design and material selection of plastic IC packages. We previously proposed a new adhesion test method that can separate residual stress from adhesion strength, and confirmed that the measured true adhesion strength can be applied to the quantitative prediction of interface delamination in a dry package. This paper describes the influence of moisture absorption of a molding compounds on true adhesion strength. When the average moisture content of an adhesive specimen is the same under the two kinds of moisture conditions (55℃/80%RH, 85℃/85%RH), the drop in true adhesion strength of the specimen that has absorbed moisture at 50℃ is about 40 percent of that at 85℃. We also evaluate interface delamination in a moisturizing package by considering both the adhesion strength drop and the swelling of the molding compound caused by moisture absorption. The predicted temperature at which the delamination occurs agrees well with the experimental results for moisture-absorbed packages.
- 社団法人日本機械学会の論文
- 1997-10-25
著者
-
田中 直敬
株式会社日立製作所 機械研究所
-
西村 朝雄
(株)日立製作所機械研究所
-
田中 直敬
(株)日立製作所機械研究所
-
熊沢 鉄雄
秋田県立大学システム科学技術学部
-
北野 誠
(株)日立製作所機械研究所
-
西村 朝雄
(株)日立製作所半導体グループ
-
西村 朝雄
(株)日立製作所半導体事業部
-
熊沢 鉄雄
(株)日立製作所機械研究所
-
北野 誠
株式会社日立製作所機械研究所
-
田中 直敬
日立機械研
-
北野 誠
(株)日立製作所
-
北野 誠
日立機械研
-
北野 誠
日立製作所
-
熊沢 鉄雄
株式会社日立製作所機械研究所
-
熊沢 鉄雄
(株)日立製作所
-
西村 朝雄
(株)日立製作所
-
田中 直敬
株式会社日立製作所機械研究所
関連論文
- 薄型伝送線リードを用いた43Gbit/s伝送対応半導体パッケージ(次世代電子機器における先端実装技術と環境調和型実装技術論文)
- イメージセンサチップ実装時の反り低減技術
- 常温接続によるシリコン貫通電極チップ三次元化技術(SiP (System in Package)技術,先端電子デバイスパッケージと高密度実装プロセス技術の最新動向論文)
- 常温接続によるシリコン貫通電極チップ三次元化技術(不揮発メモリと関連技術及び一般)
- IC封止樹脂の新接着強度測定法
- 11-226 事前・事後研修を取り入れたインターンシップ活動 : 秋田県立大学における活動について((21)インターンシップ-II)
- 半導体デバイスにおけるシリコン基板転位発生予測手法の提案 : 転位発生限界値のデバイス構造依存性
- シリコン基板内応力特異場における転位発生強度の酸素濃度依存性
- 球圧子を用いたシリコン基板の転位発生強度評価法
- 半導体デバイスにおけるシリコン基板転位発生予測手法の提案
- 5-106 地域の小学生を対象とした建築教室 : 秋田県立大学における創造学習の取り組み(口頭発表論文,(23)地域貢献・地場産業との連携-II)
- ACF 等を用いた接触実装構造における接続信頼性影響因子の解明
- 内部反射を考慮したレセプタクル形LDモジュール
- ダイボンディング用導電性接着剤のリフロー工程の破壊強度評価
- 第 14 回 エレクトロニクス実装学術講演大会印象記
- 起電力による微細はんだボールの変形評価 : 微細接続部の変形測定法の基礎検討
- 応力特異場パラメータを用いた半導体プラスチックパッケージの信頼性評価
- 半導体パッケージの構造設計CAEシステムの開発
- はんだリフロー工程における半導体パッケージクラックに及ぼす熱応力の影響
- 被覆ワイヤボンディング技術の開発
- 吸湿による樹脂膨潤を考慮したICパッケージ接着界面のはく離発生評価
- パッケージング応力起因の半導体素子特性変動(先進材料と信頼性解析・評価)
- シリコン薄膜の結晶化応力に及ぼすリン(P)ドーピングの影響の検討
- 表面実装型IC樹脂封止パッケージの耐リフロークラック性評価装置の試作
- IC封止樹脂の接着強度測定とパッケージ接着界面のはく離発生予測
- はんだリフロー工程で発生するICのパッケージクラックに関する研究 : 第3報,素子接着剤層の影響
- シリカ粒子高充てんエポキシ樹脂の強度特性に及ぼす粒子形状と粒度の影響
- シリカ粒子充てんエポキシ樹脂の破壊じん性に及ぼす充てん材粒度分布の影響(信頼性工学小特集)
- 温度サイクル環境におけるICプラスチックパッケージ内のシリコンチップ熱応力の検討
- ICプラスチックパッケージ内シリコンチップ熱応力の検討
- はんだリフロー工程で発生するICのパッケージクラックに関する研究 : 第2報,応力特異場理論による樹脂の強度評価
- ICパッケージ内シリコンチップ残留応力に及ぼすパッケージ構造の影響
- ICプラスチックパッケージ内シリコンチップ残留応力の検討
- ICプラスチックパッケージ内応力測定素子の開発とその応用
- 105 YAGレーザによる接合同時切断技術の検討
- 高信頼ファインピッチ BGA の構造設計
- 高信頼ファインピッチBGAの構造設計技術 (MES'99 第9回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集) -- (CSP・BGA(2))
- 213 起電力法による鉛フリーはんだボールの熱・弾塑性変形評価(材料力学III)
- はんだボール接合部の寿命評価
- 121 起電力法による鉛フリーはんだ材の応力測定(材料力学IV)
- 101 起電力法とFEM解析による鉛フリーはんだ接合部の応力評価(材料力学I)
- 半導体デバイスの応力測定を目的とした紫外レーザラマン応力測定装置の開発
- 235 有機基板上の超音波フリップチップ接合特性 : 表面清浄化超音波ボンデイングに関する研究(第4報)
- シリカ粒子充てんエポキシ樹脂の強度特性に及ぼす粒子充てん量の影響と破壊メカニズムの検討
- 118 シングルポイントインナーリードボンディングにおける超音波周波数の影響
- 154 半田接合部の化合物形成に与えるAu濃度の影響
- 光部品接着用樹脂の吸湿性
- かしめによる光通信モジュール用光学レンズ実装技術の開発
- 半導体レーザモジュール用レンズ固定の検討
- 半導体レーザ光学系の光軸測定法
- 3D-SiP向けシリコン貫通電極技術
- 貫通電極形成歩留り改善技術の開発
- 製品の機能や形を革新する次世代実装技術 : シリコン貫通電極による三次元インターコネクト(創立110周年記念,つなぐ,つける,はめる)
- 接着接合による微細バンプ接続構造の信頼性評価(信頼性解析技術基礎講座第2回)
- 樹脂フィルムを用いた狭ピッチ対応フリップチップ接合の接続信頼性影響因子の検証
- 狭ピッチ対応フリップチップ接続用途の新材料システムの開発(技術OS3-5 最適構造設計,技術OS3 電子・情報機器と材料力学)
- ウエハプロセスパッケージ搭載マルチチップモジュール高信頼化のための構造最適化
- 820 動的応力解析による狭ピッチワイヤボンディング接合部の接合性評価
- 樹脂製インターポーザーを使用したマルチチップモジュールの構造信頼性向上
- Fan-out タイプ CSP (Chip Scale Package) の構造信頼性設計
- 11. 電子デバイスにおける接着技術
- (8) IC パッケージ接着界面の定量的強度評価手法の開発
- Fan-outタイプCSP(Chip Scale Package)の構造信頼性設計 (MES'99 第9回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集) -- (シミュレーション・評価(2))
- 信頼性解析技術(2)(講演セッション,第23回エレクトロニクス実装学会講演大会セッションサマリー)
- 起電力法による動的変形評価
- 5-109 秋田県立大学における創造工房による自主性・創造性育成の試み((9)ものつくり教育-IV,口頭発表論文)
- 弾性球体を用いた三次元柔軟荷重測定センサの開発
- 113 PPの熱板溶着強度に及ぼす溶着条件の影響(フェロー賞対象講演)
- 信頼性解析技術の現状と展望(エレクトロニクス実装技術の現状と展望)
- 107 おから/生分解性ポリマー複合材料の作製と力学特性(材料力学II)
- はんだの変形にともなう起電力発生とその評価
- PC/LCPブレンドの内部構造と力学特性に及ぼす射出成形条件の影響
- 樹脂封止形ICパッケージの熱抵抗の簡易解析法
- 面付実装形ICパッケージはんだ接合部の熱疲労強度評価 : 第2報, 3種類のリードの比較
- 面付実装形ICパッケージはんだ接合部の熱疲労強度評価
- シリカ粒子充てんエポキシ樹脂の応力特異場理論による強度評価の検討
- (株)日立製作所 機械研究所
- (1)電子部品の強度信頼性設計技術の開発と製品適用(技術功績,日本機械学会賞〔2004年度(平成16年度)審査経過報告〕)
- 電力用半導体パッケージり振動解析
- 4326 ダイボンディング用銀ペースト材のリフロー工程の破壊強度評価(J05-2 接続信頼性,J05 電子情報機器,電子デバイスの熱制御と強度・信頼性評価)
- ダイボンディング用Agペースト材の破壊強度評価手法の検討(技術OS3-2 微小材料強度評価,技術OS3 電子・情報機器と材料力学)
- 1824 動的応力解析によるワイヤ接合性評価手法の検討
- 712 異方性導電樹脂を用いた実装構造における信頼性評価手法の検討
- 5-108 紙を用いた引張・曲げ試験から学ぶ材料力学の教育実践 : 大学1年生を対象とした授業「創造科学の世界A」より((2)専門科目の講義・演習-II)
- カラーテレビ用ブラウン管の破壊機構
- ナノサイズダイヤモンドを分散させた固体潤滑機能層の創出(OS2-4 高分子・ナノ複合材料システム,OS2 先端材料システム設計とメゾメカニックス)
- PC/LCP複合材料の力学特性に及ぼすLCP添加量の影響(材料力学I-1)
- 圧延した形状記憶ポリマーの回復特性(材料力学I-1)
- 形状記憶ポリマーの塑性変形および形状回復特性(OS10-1 材料特性・制振効果,OS10 インテリジェント材料の機能・特性および評価)
- 707 ホプキンソン棒を用いた球状はんだ材の衝撃試験
- 1829 サーモカップルを用いたはんだ材の変形測定
- 「信頼性解析技術」(第 13 回エレクトロニクス実装学術講演大会印象記)
- エレクトロニクス実装における機械的信頼性(検査・信頼性解析技術の動向)
- 秋田県立大学システム科学技術学部機械知能システム学科材料力学講座(熊沢研究室)(研究室訪問)
- 半導体パッケージ実装における最近の応力, ひずみ測定法
- 高圧延率下におけるポリプロピレンの疲労特性に及ぼす圧延と液晶ポリエステル添加の複合効果
- ひずみ測定関連規格の現状と将来
- 信頼性解析技術委員会ワークショップレポート : 21 世紀に向けての信頼性技術の動向と課題
- ダイボンディング用導電性接着剤のリフロー工程の破壊強度評価
- 接着接合による微細バンプ接続構造の信頼性評価(信頼性解析技術基礎講座第2回)