シリカ粒子充てんエポキシ樹脂の強度特性に及ぼす粒子充てん量の影響と破壊メカニズムの検討
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
Epoxy resins for encapsulating integrated circuit (IC) devices are filled with silica particles to reduce the thermal expansion coefficient and to improve thermal conductivity. Recently, the size of chips mounted in a package has increased rapidly with advances in large-scale integration technology. This trend creates a problem: increased mechanical stress in the package, which sometimes causes cracking in the encapsulation resin under temperature cycling. Hence, evaluation of the fracture propoerties of these materials has become an important issue in package design. This study reports the effects of the filler particle volume fraction on the static strength of smooth specimens and fracture toughness of silica-particulate-filled epoxy resins for IC encapsulation. The smooth specimen strength and fracture toughness were measured, respectively, by the three-point bending test and the double torsion test. It was found that the fracture toughness increased with increasing volume fraction. The static strength of epoxy resins with a small amount of silica particulate was smaller than that of unfilled resins. The crack propagation in resins containing 30% volume fraction of large size particles was unstable. At larger than 45% volume fraction of particles, the crack propagation was stable. These crack propagation properties have been related to the plastic zone size of matrix and particle spacing.
- 社団法人日本材料学会の論文
- 1998-09-15
著者
関連論文
- IC封止樹脂の新接着強度測定法
- 応力特異場パラメータを用いた半導体プラスチックパッケージの信頼性評価
- 半導体パッケージの構造設計CAEシステムの開発
- はんだリフロー工程における半導体パッケージクラックに及ぼす熱応力の影響
- 被覆ワイヤボンディング技術の開発
- 吸湿による樹脂膨潤を考慮したICパッケージ接着界面のはく離発生評価
- パッケージング応力起因の半導体素子特性変動(先進材料と信頼性解析・評価)
- シリコン薄膜の結晶化応力に及ぼすリン(P)ドーピングの影響の検討
- 表面実装型IC樹脂封止パッケージの耐リフロークラック性評価装置の試作
- IC封止樹脂の接着強度測定とパッケージ接着界面のはく離発生予測
- はんだリフロー工程で発生するICのパッケージクラックに関する研究 : 第3報,素子接着剤層の影響
- シリカ粒子高充てんエポキシ樹脂の強度特性に及ぼす粒子形状と粒度の影響
- シリカ粒子充てんエポキシ樹脂の破壊じん性に及ぼす充てん材粒度分布の影響(信頼性工学小特集)
- 温度サイクル環境におけるICプラスチックパッケージ内のシリコンチップ熱応力の検討
- ICプラスチックパッケージ内シリコンチップ熱応力の検討
- はんだリフロー工程で発生するICのパッケージクラックに関する研究 : 第2報,応力特異場理論による樹脂の強度評価
- ICパッケージ内シリコンチップ残留応力に及ぼすパッケージ構造の影響
- シリカ粒子高充てんエポキシ樹脂の強度特性
- ICプラスチックパッケージ内シリコンチップ残留応力の検討
- はんだリフロー工程で発生するICのパッケージクラックに関する研究
- ICプラスチックパッケージ内応力測定素子の開発とその応用
- 105 YAGレーザによる接合同時切断技術の検討
- 半導体デバイスの応力測定を目的とした紫外レーザラマン応力測定装置の開発
- Auめっきテープ基板を用いた超音波プリップチップ接合特性の検討
- 235 有機基板上の超音波フリップチップ接合特性 : 表面清浄化超音波ボンデイングに関する研究(第4報)
- シリカ粒子充てんエポキシ樹脂の強度特性に及ぼす粒子充てん量の影響と破壊メカニズムの検討
- 118 シングルポイントインナーリードボンディングにおける超音波周波数の影響
- 154 半田接合部の化合物形成に与えるAu濃度の影響
- 内圧円筒内面に存在する半だ円表面き裂の応力拡大係数