Sn-Cuめっきリードの室温におけるウィスカ発生・抑制機構
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概要
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- 2010-03-01
著者
-
加藤 隆彦
株式会社日立製作所材料研究所電子材料研究部
-
赤星 晴夫
株式会社日立製作所日立研究所
-
中村 真人
株式会社日立製作所生産技術研究所実装ソリューション研究部
-
寺崎 健
株式会社日立製作所機械研究所高度設計シミュレーションセンタ
-
岩崎 富生
株式会社日立製作所機械研究所高度設計シミュレーションセンタ
-
橋本 知明
株式会社ルネサステクノロジ生産本部技術開発統括部
-
西村 朝雄
株式会社実装パートナーズ
-
寺崎 健
(株)日立製作所機械研究所
-
寺崎 健
日立・機械研
-
加藤 隆彦
株式会社日立製作所原子力事業部
-
寺崎 健
日立
-
寺崎 健
株式会社日立製作所機械研究所
-
寺崎 健
株式会社日立製作所日立研究所機械研究センタ
-
中村 真人
株式会社日立製作所日立事業所
-
寺崎 健
株式会社日立製作所日立研究所
-
岩崎 富生
株式会社日立製作所日立研究所
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