内部応力型ウィスカの発生メカニズムと抑制技術(ウィスカ関係,<特集>高密度実装設計に要求される新しい信頼性技術)

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概要

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• 社団法人エレクトロニクス実装学会の論文
• 2008-08-01

著者

• 西村 朝雄

  株式会社実装パートナーズ

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