1850 ボイドを含むBGAはんだ接合部のき裂進展経路に及ぼす変位振幅の影響(J09-2 はんだ接続部の強度信頼性評価,J09 電子情報機器,電子デバイスの熱制御と強度・信頼性評価)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
We developed a new analysis model for detecting crack propagation in the solder joints for use in LSI packages. In our model, the fatigue life of a solder joint was evaluated based on the damage that accumulated during crack propagation, and the crack paths were automatically calculated. Using the model, we analyzed the effect of displacement amplitude on fatigue crack paths for ball grid array solder joints 0.3mm in the diameter, including a void of 0.1mm at a joint interface. When the displacement amplitude is large, fatigue cracks propagate toward the center of the void. When the displacement amplitude is small, fatigue cracks propagate along the solder joint interface near the void. Large displacement amplitudes increase fatigue life reduction due to void.
- 社団法人日本機械学会の論文
- 2005-09-18
著者
-
寺崎 健
株式会社日立製作所機械研究所高度設計シミュレーションセンタ
-
小島 清美
日立機械研
-
谷江 尚史
株式会社日立製作所機械研究所
-
寺崎 健
(株)日立製作所機械研究所
-
谷江 尚史
(株)日立製作所機械研究所
-
寺崎 健
日立・機械研
-
谷江 尚史
日立・機械研
-
小島 清美
日立・機械研
-
小島 清美
(株)日立製作所日立研究所
関連論文
- Sn-Cuめっきリードの室温におけるウィスカ発生・抑制機構
- PbフリーBGAはんだ接続部の衝撃耐性評価手法の確立(第2報)はんだ接続部応力による衝撃耐性評価方法の検討
- PbフリーBGAはんだ接続部の衝撃耐性評価手法の確立(第1報)衝撃破断モードの基板ひずみ依存性の検討
- 710 Webベース設計支援システムの開発と構造設計への適用(材料強度と構造設計,オーガナイズドセッション)
- PbフリーBGAはんだ接続部の衝撃耐性評価手法の確立 : (第1報)衝撃破断モードの基板ひずみ依存性の検討
- 半導体パッケージの構造設計CAEシステムの開発
- はんだバンプのき裂進展解析
- 半導体パッケージNSMDはんだ接続部の疲労強度評価(電子機器の熱・機械信頼性と機械工学)
- 微細はんだ形状の予測と接続寿命評価への適用
- W04(3) はんだ接合部の強度評価とCAE(W04 接合部の強度評価とCAEへの展開,ワークショップ,21世紀地球環境革命の機械工学:人・マイクロナノ・エネルギー・環境)
- き裂進展モデルに基づくはんだ疲労寿命予測方法
- Sn-Bi系はんだの実用化状況と今後の課題(低温鉛フリーはんだの科学と実用化)
- Fan-out タイプ CSP (Chip Scale Package) の構造信頼性設計
- Fan-outタイプCSP(Chip Scale Package)の構造信頼性設計 (MES'99 第9回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集) -- (シミュレーション・評価(2))
- BGA各種接続構造の寿命評価手法の開発(OS1c 電子デバイス実装・電子材料と計算力学)
- 携帯電子機器BGAはんだ接続部の疲労強度
- シリカ粒子充てんエポキシ樹脂の応力特異場理論による強度評価の検討
- 累積損傷モデルに基づく疲労き裂進展特性の推定方法
- 106 はんだの疲労き裂進展特性の推定(OS01.電子デバイス・電子材料と計算力学(2))
- き裂進展解析による半導体はんだ接続部寿命評価手法
- 3553 BGAはんだ接合部の疲労寿命に及ぼすボイド位置の影響(S23-1 疲労特性,S23 電子実装用はんだの強度特性評価)
- 半導体微細はんだ接続部き裂経路を再現するき裂進展モデル
- 1850 ボイドを含むBGAはんだ接合部のき裂進展経路に及ぼす変位振幅の影響(J09-2 はんだ接続部の強度信頼性評価,J09 電子情報機器,電子デバイスの熱制御と強度・信頼性評価)
- 204 チップ抵抗はんだ接続部の疲労き裂進展挙動の解析(関東支部 茨城講演会)
- 21103 TSOPはんだ接続部の疲労き裂進展挙動の解析(材料力学(破壊))
- 808 構造物の微細化や薄型化が BGA 接続寿命に及ぼす影響
- 620 粒子法による溶融はんだ形状予測手法の開発と接続寿命評価への適用(はんだ,OS01 電子デバイス・電子材料と計算力学)
- 624 粒子法による半導体はんだ接合部溶融形状解析(OS8(1) 締結・接合部の力学・プロセスと信頼性評価)
- 微細はんだ接続部き裂進展解析手法の開発(J01-1 はんだ接続信頼性,J01 エレクトロニクス実装における熱制御および信頼性評価)
- 414 テープ接続型メモリモジュールの信頼性支配因子の検討
- 6・2・4 溶接・接合(6・2 材料加工,6.機械材料・材料加工,機械工学年鑑)
- CIP構造およびCPP構造再生ヘッドの応力解析(磁気記録)
- 310 概念設計のためのWebベース設計支援システムの開発(OS4-(1) 材料強度と構造設計,オーガナイズドセッション)
- 843 Sn-Ag-Cu 系はんだ BGA 接合部の疲労強度評価
- オブジェクト指向を用いた冷凍サイクルCAEシステムの開発
- 1116 Sn-Ag-Bi-Cu系Pbフリーはんだの機械的性質と低サイクル疲労強度(OS-1 鉛フリ-はんだ)
- 921 半導体パッケージ構造設計専用 CAE システムの開発
- 60 Sn・40Pbはんだのひずみ速度を考慮した疲労き裂進展特性評価
- 電子機器の疲労寿命予測のための応力シミュレーション技術
- PbフリーBGAはんだ接続部の衝撃耐性評価手法の確立(第2報) : はんだ接続部応力による衝撃耐性評価方法の検討
- 応力-拡散解析を用いた温度サイクル中の錫ウィスカの成長性評価
- 信頼性解析技術(3)(講演セッション,第23回エレクトロニクス実装学会講演大会セッションサマリー)
- 修正累積損傷モデルによるSn-Ag-Cu系BGAはんだ接合部の断線寿命予測
- 707 応力-拡散解析を用いた錫ウィスカ成長に及ぼす結晶粒形状の影響評価(OS4.電子デバイス・電子材料と計算力学(1),オーガナイズドセッション)
- 修正累積損傷モデルによるSn-Ag-Cu系BGAはんだ接合部の断線寿命予測
- 719 異種接合体の損傷シミュレーションに関する研究(OS4.電子デバイス・電子材料と計算力学(4),オーガナイズドセッション)
- J0601-4-5 はんだ接合積層板の熱ラチェット変形に及ぼす材料モデルの影響([J0601-4]電子情報機器,電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御(4))
- 718 Cuコアはんだボール接続部のき裂進展解析(OS4.電子デバイス・電子材料と計算力学(4),オーガナイズドセッション)
- 721 BGAはんだ接続部の衝撃耐性解析手法の検討(OS4.電子デバイス・電子材料と計算力学(4),オーガナイズドセッション)
- J0601-4-1 高温熱処理後のSn3Ag0.5Cuはんだ接合部の疲労寿命評価([J0601-4]電子情報機器,電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御(4))
- 903 材料シミュレーションにおける実験との連携(CAEフォーラム:ものづくり現場におけるCAEの活用とその問題)
- 604 き裂進展モデルに基づくはんだ疲労寿命予測方法(GS.F-1 疲労)
- 504 はんだ接合積層構造の熱ラチェット反り変形 : 接合材料の影響(締結・接合部の力学・プロセスと信頼性評価(1),ものづくりにおける基礎研究と先端技術の融合)
- 信頼性解析技術の現状と課題
- はんだ接合の強度信頼性評価技術の現状と課題
- 613 はんだ接合材のクリープ破断およびクリープ疲労寿命評価(はんだ・セラミックスの特性評価,高温材料の損傷・寿命評価の展開,オーガナイスドセッション2)
- 241 はんだ接合積層板の熱ラチェット試験の解析(材料モデル・FEM解析,塑性挙動のモデリングとシミュレーション-ナノからマクロまで-,オーガナイスドセッション5)
- PbフリーBGAはんだ接続部の衝撃耐性評価手法の確立 : (第2報)はんだ接続部応力による衝撃耐性評価方法の検討
- 9-334 日立における技術者育成教育の取り組み : 解析主導設計技術推進者の育成教育(OS 企業における技術者継続教育-技術に携わる人の育成,口頭発表)
- 均質化法を用いたBGAパッケージの反り挙動予測