シリコン・ナノデバイスを用いた室温での単一電子転送と検出 : SOIを使った素子作製とその特性評価
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概要
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- 2005-01-21
著者
-
藤原 聡
Ntt物性科学基礎研究所
-
小野 行徳
NTT物性科学基礎研究所
-
高橋 庸夫
北海道大学大学院情報科学研究科
-
西口 克彦
NTT物性科学基礎研究所
-
猪川 洋
静岡大学電子工学研究所
-
西口 克彦
日本電信電話(株)NTT物性科学基礎研究所
-
高橋 庸夫
北大
-
猪川 洋
Ntt物性研
-
高橋 庸夫
北海道大学 大学院情報科学研究科
-
高橋 庸夫
北海道大学情報科学研究科
-
猪川 洋
静岡大学 電子工学研究所
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