奥西 栄治 | 日本電子(株)

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概要

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関連著者

• 奥西 栄治

  日本電子(株)

• 奥西 栄治

  日本電子:jst-crest

• 奥西 栄治

  日本電子

• 沢田 英敬

  日本電子(株)

• 高柳 邦夫

  東工大院理工

• 近藤 行人

  Jst-crest:日本電子

• 高柳 邦夫

  東京工業大学

• 澤田 英敬

  Jst-cresta:日本電子

• 沢田 英敏

  Jst-ceest:日本電子

• 高柳 邦夫

  東工大理工

• 近藤 行人

  日本電子

• 田中 崇之

  東工大院理工

• 近藤 行人

  日本電子株式会社電子光学機器本部

• 沢田 英敬

  Jst-crest:日本電子

• 沢田 英敬

  東大工

• 田中 崇之

  東工大院理工:jst-crest

• 田中 崇之

  東工大院総理工:東工大院理工

• 田中 崇之

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 山崎 順

  名大エコトピア研

• 田中 信夫

  名大エコトピア研

• 田中 信夫

  名古屋大学

• 佐野 健太郎

  東工大院理工

• 細川 史生

  日本電子(株)

• 細川 史生

  日本電子株式会社

• 細川 史生

  Jst-crest:日本電子

• 細川 史生

  日本電子

• 橋本 巌

  東理大理

• 渡辺 和人

  都立産技高専

• 山崎 貴司

  東理大理

• 渡辺 和人

  都立高専

• 中西 伸登

  東理大理

• 菊地 吉男

  MIRAIプロジェクト

• 安藤 雅文

  東工大院理工

• 山崎 順

  名大エコ研

• 市川 昌和

  東大工

• 橋本 巖

  東理大理

• 市川 昌和

  東京大学大学院工学系研究科物理工学専攻

• 高柳 邦夫

  東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻

• 趙 星彪

  名大エコ研

• 菊地 吉男

  ASET

• 高柳 邦夫

  東工大

• 高柳 邦夫

  東京工業大学物性物理学専攻

• 安部 悠介

  東工大院理工

• 田中 信夫

  名大エコ研

• 波多 聰

  九州大学大学院総合理工学研究院

• 中島 英治

  九州大学大学院総合理工学研究院

• 稲元 伸

  名大院工

• 川崎 正博

  日本電子株式会社

• 川崎 正博

  日本電子(株)電子光学機器技術本部応用研究センター1g

• 浅野 英司

  東理大理

• 板倉 賢

  九州大学

• 角嶋 邦之

  東工大総理工

• 岩井 洋

  東工大フロンティア研

• 炭屋 亜美

  東工大院総合理工

• 高柳 邦夫

  東工大理

• 及川 哲夫

  日本電子(株)

• 大島 義文

  東工大総理工

• 高柳 邦夫

  東工大総理工

• 中村 芳明

  東大工

• 趙 星彪

  CREST-JST

• 市川 昌和

  CREST-JST

• 田中 信夫

  CREST-JST

• 趙 星彪

  CIRSE-JST

• 中村 芳明

  CIRSE-JST

• 田中 信夫

  CIRSE-JST

• 市川 昌和

  CIRSE-JST

• 岩井 洋

  東京工業大学フロンティア創造共同研究センター

• 光原 昌寿

  九州大学大学院総合理工学研究院

• 高柳 邦夫

  東工大 総理工

• 菊地 吉男

  半導体MIRAIプロジェクト

• 板倉 賢

  九州大学大学院総合理工学研究院

• Shklyaev Alexander

  CREST-JST

• 奥西 栄治

  日本電子株式会社

• 波多 聡

  九大

• 岩井 洋

  東京工業大学フロンティア研究機構

• 及川 哲夫

  日本電子(株)応用研究センター

• 沢田 英敬

  日本電子株式会社

• 大島 義文

  東工大 総理工

• 岩井 洋

  (株)東芝研究開発センターulsi研究所

• 西田 稔

  九州大学大学院総合理工学研究院

• Nakashima Hideharu

  Interdisciplinary Graduate School Of Engineering Sciences Kyushu University

• 中村 芳明

  大阪大学大学院基礎工学研究科

• 波多 聰

  九州大学大学院 総合理工学研究院 融合創造理工学部門

• 李 少淵

  東工大

• 谷城 康眞

  東工大院総合理工

• 李 少淵

  東工大院総合理工

• 大島 義文

  阪大電顕センター

• 高柳 邦夫

  東工大院総合理工

• 中島 英治

  九州大学 大学院 総合理工学研究院

• 波多 聰

  九州大学 大学院 総合理工学研究院

• 板倉 賢

  九州大学大学院 総合理工学研究院 融合創造理工学部門

• Nakashima Hideharu

  Department Of Electrical And Materials Science Faculty Of Engineering Sciences Kyushu University

• 谷城 康眞

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 中島 英治

  九州大学大学院総合理工学府

• 光原 昌寿

  九州大学大学院総合理工学府

• 波多 聰

  九州大学大学院 総合理工学研究院

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著作論文

• 23pGP-5 電子線非照射下のガス導入による金ナノ粒子/ルチルの構造変化の観察(23pGP ナノ構造・局所光学現象,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 27pRE-9 収差補正TEM/STEMを用いたLa_2O_3/Si界面ラフネスの精密解析(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 25aYH-3 HRTEMおよびHAADF-STEMによるβ-FeSi_2ナノドットの微細構造評価(25aYH 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 28aYH-4 球面収差補正TEM及びEELSによるグラフェン観察(28aYH 領域7,領域9合同 グラフェン構造・表面物性,領域7(分子性固体・有機導体))
• 23pTC-9 極薄Si酸化膜を用いたSi(001)表面上のGeナノドットの微細構造および組成の評価(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 13pTJ-8 高分解能電子顕微鏡像及び HAADF STEM 像による Si/SiO_2 界面の構造決定(電子線, 領域 10)
• 28pXM-6 HAADF STEM法によるSi/SiO_2界面の構造解析(X線・粒子線(電子線))(領域10)
• 28aXM-4 高分解能small angle BF STEM及びlarge angle BF STEM像の形成機構(X線・粒子線(電子線))(領域10)
• 25pYG-1 酸素導入による金ナノ粒子/ルチルの界面の状態変化(ナノ構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 29pPSB-27 ガス導入TEMホルダーによるAu/TiO_2触媒のその場観察II(29pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 29pTE-8 ガス雰囲気中その場観察TEM法による金ナノ粒子/ルチルの構造変化の観察(29pTE 微粒子・クラスタ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 分析電顕としてのCsコレクター (最新分析手法とその応用)
• 24aYK-11 球面収差補正STEMによるシリコン中ドーパント原子の運動の観察(24aYK X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 最近の電子顕微鏡によるナノ観察と分析技術
• 半導体デバイスにおけるハイブリッドTEM/STEMの応用
• β型Ti合金に生成する時効ω相の微細構造
• 27pTN-12 LiV2O4結晶の環状明視野像におけるリチウムカラム強度解析(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

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