山崎 順 | 名大エコトピア研

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概要

• 同名の論文著者
• 名大エコトピア研の論文著者

関連著者

• 山崎 順

  名大エコトピア研

• 田中 信夫

  名大エコトピア研

• 田中 信夫

  名古屋大学

• 山崎 順

  名大エコ研

• 山崎 順

  名古屋大学エコトピア科学研究所

• 田中 信夫

  名大エコ研

• 山崎 順

  名古屋大学エコトピア科学研究機構工学研究科

• 森下 茂幸

  名大院工

• 田中 信夫

  名古屋大学エコトピア科学研究所

• 齋藤 晃

  名大エコトピア研

• 齋藤 晃

  東北大多元研

• 斎藤 晃

  東北大学多元物質科学研究所

• 斎藤 晃

  東北大学 科学計測研究所

• 加藤 丈晴

  ファインセラミックスセンター

• 奥西 栄治

  日本電子:jst-crest

• 河合 智之

  名大院・工学研究科

• 加藤 丈晴

  (財)ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所

• 加藤 丈晴

  JFCC

• 奥西 栄治

  日本電子(株)

• 中村 圭介

  名大院工

• 齋藤 晃

  名古屋大学エコトピア科学研究所

• 趙 星彪

  名大エコ研

• 田中 信夫

  名大工

• 吉田 健太

  Jfcc

• 田中 信夫

  名大理工総研

• 山崎 順

  名大理工総研

• 山崎 順

  名大工

• 河合 智之

  名大工

• 齋藤 晃

  名大エコトピア

• 濱邊 麻衣子

  名大院工

• 稲元 伸

  名大院工

• 玉置 央和

  名大院工

• 市川 昌和

  東大工

• 趙 星彪

  CREST-JST

• 田中 信夫

  CREST-JST

• 山崎 順

  名大・理工総研

• 田中 信夫

  名大・理工総研

• 平原 佳織

  名城大理工

• 市川 昌和

  東京大学大学院工学系研究科物理工学専攻

• 平原 佳織

  名古屋大学エコトピア科学研究所

• 沢田 英敬

  日本電子株式会社

• 吉田 健太

  名大工

• 木村 圭

  名大工

• 平原 佳織

  阪大

• 奥西 栄治

  日本電子

• 杉江 尚

  名大・院工

• 長谷川 正

  名大院工

• 竹田 美和

  名古屋大学工学研究科結晶材料工学専攻

• 弘津 禎彦

  阪大産研

• 財満 鎭明

  名古屋大学大学院工学研究科

• 弘津 禎彦

  大阪大学産業科学研究所

• 平田 秋彦

  大阪大学産業科学研究所

• 角嶋 邦之

  東工大総理工

• 岩井 洋

  東工大フロンティア研

• 弘津 禎彦

  長岡技科大

• 酒井 朗

  大阪大学

• 渕 真悟

  名古屋大学工学研究科

• 竹田 美和

  名古屋大学

• 竹田 美和

  名古屋大学大学院工学研究科

• 竹田 美和

  名古屋大学小型シンクロトロン光研究センター

• 平田 秋彦

  阪大産研

• 中村 芳明

  東大工

• 市川 昌和

  CREST-JST

• 趙 星彪

  CIRSE-JST

• 中村 芳明

  CIRSE-JST

• 田中 信夫

  CIRSE-JST

• 市川 昌和

  CIRSE-JST

• 岩井 洋

  東京工業大学フロンティア創造共同研究センター

• 安田 幸夫

  名古屋大学大学院工学研究科結晶材料工学専攻:(現)高知工科大学総合研究所

• 中塚 理

  名古屋大学

• 河合 智之

  名古屋大学大学院情報科学研究科

• 加藤 秀美

  東北大金研

• 中塚 理

  名大・理工総研

• 大久保 和哉

  名大・院工

• 酒井 朗

  名大・院工

• 財満 鎭明

  名大・先端研

• 安田 幸夫

  名大・院工

• 斎藤 晃

  名古屋大学エコトピア科学研究所

• 弘津 禎彦

  大阪大学産業科学研究所高次制御材料科学研究部門材料機能物性研究分野

• Shklyaev Alexander

  CREST-JST

• 奥西 栄治

  日本電子株式会社

• 澤田 英敬

  Jst-cresta:日本電子

• 澤田 英敬

  日本電子(株)

• 富田 健

  日本電子(株)

• 富田 健

  日本電子株式会社

• 森下 茂幸

  名古屋大学工学研究科

• 黒島 光

  名大院工

• 川野 晋司

  名古屋大学工学研究科結晶材料工学専攻

• 趙 星彪

  名古屋大学エコトピア科学研究所

• 国枝 大佳

  名大院工

• 岩井 洋

  東京工業大学フロンティア研究機構

• 沢田 英敬

  日本電子(株)

• 吉田 健太

  ファインセラミックスセンター

• 牧原 正樹

  名古屋大学

• 南原 孝弘

  名古屋大学

• 沢田 英敏

  Jst-ceest:日本電子

• 中村 圭介

  名古屋大学大学院工学研究科

• 平原 佳織

  名大エコトピア研究所

• 岩井 洋

  (株)東芝研究開発センターulsi研究所

• Huang Pan

  名大工

• 三村 英俊

  名大院工

• 中村 芳明

  大阪大学大学院基礎工学研究科

• 財満 鎭明

  名古屋大学

• 渕 真悟

  名古屋大学大学院工学研究科

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著作論文

• 21aHS-7 HOLZ線のロッキングカーブプロファイルをもちいた3次元格子歪み分布解析II(21aHS X線・粒子(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 21aHS-8 電子回折顕微法の再生結果に及ぼす量子ノイズの影響(21aHS X線・粒子(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 26aYK-2 収差補正TEMによる3C-SiC/Si(100)界面の原子配列精密解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 27pRE-9 収差補正TEM/STEMを用いたLa_2O_3/Si界面ラフネスの精密解析(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 25aYH-3 HRTEMおよびHAADF-STEMによるβ-FeSi_2ナノドットの微細構造評価(25aYH 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 23pTC-12 球面収差補正TEM・ナノ電子回折を用いた金属ガラスの局所構造解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 22pXB-10 HRTEM, EELS, EDX を用いた Ni/Si 界面反応への添加元素の影響とナノ構造の研究
• 23pTC-9 極薄Si酸化膜を用いたSi(001)表面上のGeナノドットの微細構造および組成の評価(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 球面収差補正高分解能TEMによるInGaAs量子ドットの局所歪状態の観察
• 22pXB-8 球面収差補正 TEM によるシリコン界面の原子直視観察
• 回折顕微法による原子配列構造の可視化 : 制限視野回折図形からのSiダンベル構造再生
• 26aYK-8 HOLZ線のロッキングカーブプロファイルをもちいた3次元格子歪み分布解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 27pRE-11 収差補正STEMを用いた非晶質カーボン膜中白金原子の運動の観察(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 27pRE-10 収差補正TEM像における焦点基準位置の検討(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 27pRE-4 電子回折顕微法によるサブオングストローム分解能観察の可能性(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 球面収差補正高分解能電子顕微鏡のナノ材料観察への応用
• UHV in-situとC_s-corrected HRTEMによる極薄Si酸化膜上でのGeナノドットの核形成・成長,および微細構造の評価(結晶評価技術の新展開)
• 19pXC-8 収差補正STEM/TEMによる半導体ナノ構造体の研究 : 量子ドット・クラスター・単原子(シンポジウム 最新電子顕微鏡法を使った物性研究のいぶき,領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 26aYF-7 球面収差補正制限視野ナノ回折法を用いた入射波動場及び可干渉度の測定(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 電子線トモグラフィーによる酸化チタン光触媒材料の反応表面の研究
• 23pTC-11 差し引き法による強位相物体の球面収差補正HRTEM像の理論(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 23pTC-13 制限視野ナノ電子回折法を用いた回折顕微法(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 球面収差補正STEMによるシリコン結晶中アンチモン原子の置換位置移動の直接観察
• 24aYK-11 球面収差補正STEMによるシリコン中ドーパント原子の運動の観察(24aYK X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 19aXC-6 制限視野ナノ回折図形の照射系による影響(X線・粒子線(電子線),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 22pXB-6 光照射誘起反応その場観察 TEM 装置の開発とその応用
• 20aPS-53 透過型電子顕微鏡による TiO_2 光触媒反応のその場観察
• 21aYM-9 球面収差補正制限視野ナノ回折法による半導体界面構造の解析(X線・粒子線(中性子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 24aYK-10 単層炭素ナノチューブの球面収差補正高分解能電子顕微鏡像の深さ分解能(24aYK X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 球面収差補正TEM法の材料研究への応用
• 28pYA-10 球面収差補正TEMによるイオン価数観測の可能性(28pYA X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 25pYS-8 球面収差補正高分解能TEMによる炭素ナノチューブの原子構造の直接観察(X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
• 25pYS-7 球面収差補正電子顕微鏡における非線形コントラストの低減法(X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
• 28aXM-3 収差補正TEMによる極薄MgO膜中の酸素原子の観察(X線・粒子線(電子線))(領域10)
• 28aXM-2 球面収差補正TEMの結像理論と負の収差係数の役割(X線・粒子線(電子線))(領域10)
• 22pXB-3 HAADF-STEM による SIGe{111} 積層欠陥の観察と解析
• 制限視野ナノ電子回折を用いた回折顕微法による原子分解能再構成

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