山崎 順 | 名古屋大学エコトピア科学研究所
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概要
関連著者
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山崎 順
名古屋大学エコトピア科学研究所
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田中 信夫
名古屋大学
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山崎 順
名古屋大学エコトピア科学研究機構工学研究科
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山崎 順
名大エコトピア研
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田中 信夫
名大エコトピア研
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田中 信夫
名古屋大学エコトピア科学研究所
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森下 茂幸
名大院工
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齋藤 晃
名大エコトピア研
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齋藤 晃
東北大多元研
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齋藤 晃
名古屋大学エコトピア科学研究所
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斎藤 晃
東北大学多元物質科学研究所
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森下 茂幸
名古屋大学工学研究科
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趙 星彪
名大エコ研
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斎藤 晃
東北大学 科学計測研究所
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竹田 精治
大阪大学大学院理学研究科
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竹田 美和
名古屋大学工学研究科結晶材料工学専攻
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中村 圭介
名大院工
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渕 真悟
名古屋大学工学研究科
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竹田 美和
名古屋大学
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竹田 美和
名古屋大学大学院工学研究科
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竹田 美和
名古屋大学小型シンクロトロン光研究センター
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趙 星彪
CREST-JST
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田中 信夫
CREST-JST
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吉田 健太
Jfcc
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Takeda Shingo
Faculty Of Science Himeji Institute Of Technology
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Takeda Shingo
Graduate School Of Science Himeji Inst. Of Tech.
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河合 智之
名古屋大学大学院情報科学研究科
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斎藤 晃
名古屋大学エコトピア科学研究所
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平原 佳織
名城大理工
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山崎 順
名古屋大学理工科学総合研究センター
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奥西 栄治
日本電子株式会社
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川野 晋司
名古屋大学工学研究科結晶材料工学専攻
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趙 星彪
名古屋大学エコトピア科学研究所
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平原 佳織
名古屋大学エコトピア科学研究所
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竹田 精治
大阪大学・大学院理学研究科
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竹田 精治
阪大・教養
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奥西 栄治
日本電子:jst-crest
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吉田 健太
ファインセラミックスセンター
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牧原 正樹
名古屋大学
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南原 孝弘
名古屋大学
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沢田 英敬
日本電子株式会社
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中村 圭介
名古屋大学大学院工学研究科
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河合 智之
名大院・工学研究科
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平原 佳織
阪大
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渕 真悟
名古屋大学大学院工学研究科
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佐々木 宏和
古河電工株式会社
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太田 圭祐
名古屋大学工学研究科
著作論文
- 球面収差補正高分解能TEMによるInGaAs量子ドットの局所歪状態の観察
- 回折顕微法による原子配列構造の可視化 : 制限視野回折図形からのSiダンベル構造再生
- 球面収差補正高分解能電子顕微鏡のナノ材料観察への応用
- UHV in-situとC_s-corrected HRTEMによる極薄Si酸化膜上でのGeナノドットの核形成・成長,および微細構造の評価(結晶評価技術の新展開)
- 19pXC-8 収差補正STEM/TEMによる半導体ナノ構造体の研究 : 量子ドット・クラスター・単原子(シンポジウム 最新電子顕微鏡法を使った物性研究のいぶき,領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 電子線トモグラフィーによる酸化チタン光触媒材料の反応表面の研究
- 球面収差補正STEMによるシリコン結晶中アンチモン原子の置換位置移動の直接観察
- 電子照射によるシリコンのアモルファス化とその素過程
- 21aYM-9 球面収差補正制限視野ナノ回折法による半導体界面構造の解析(X線・粒子線(中性子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- Microscopy and Microanalysis 2007 会議報告
- 第2回ヨーロッパ電子線ホログラフィーワークショップに参加して
- 球面収差補正TEM法の材料研究への応用
- 25pYS-7 球面収差補正電子顕微鏡における非線形コントラストの低減法(X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
- 制限視野ナノ電子回折を用いた回折顕微法による原子分解能再構成
- 制限視野ナノ電子回折を用いた回折顕微法による原子分解能再構成
- 27aCL-7 電子回折顕微法を用いた電子波位相像観察(27aCL X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))