奥西 栄治 | 日本電子株式会社
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概要
関連著者
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奥西 栄治
日本電子株式会社
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沢田 英敬
日本電子株式会社
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奥西 栄治
日本電子:jst-crest
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日本電子株式会社
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日本電子株式会社
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沢田 英敏
Jst-ceest:日本電子
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日本電子株式会社 EM ビジネスユニット
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名大エコトピア研
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名大エコトピア研
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柴田 昌照
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日本電子株式会社
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日本電子株式会社
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日本電子株式会社
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九州大学大学院総合理工学研究院
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大西 市朗
日本電子株式会社
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山崎 順
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西田 稔
熊本大学大学院自然科学研究科
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波多 聡
九大
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富田 健
日本電子株式会社
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柴田 昌輝
日本電子(株)
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宝野 和博
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鈴木 俊明
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西田 稔
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日本電子株式会社応用研究センター
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幾原 雄一
ファインセラミックスセ
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久芳 聡子
日本電子株式会社応用研究センター
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山崎 順
名古屋大学エコトピア科学研究所
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Nishida Minoru
Department Of Applied Science For Electronics And Materials Kyushu University
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西田 稔
九州大学大学院総合理工学研究院
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鈴木 俊明
日本電子株式会社応用研究センター
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平山 司
ファインセラミックスセ ナノ構造研
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細川 史生
Jst-crest:日本電子
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末永 和知
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波多 聰
九州大学大学院 総合理工学研究院 融合創造理工学部門
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堀 まどか
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遠藤 徳明
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遠藤 徳明
日本電子株式会社応用研究センター
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中島 英治
九州大学 大学院 総合理工学研究院
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波多 聰
九州大学 大学院 総合理工学研究院
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石川 勇
日本電子株式会社emビジネスユニット
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板倉 賢
九州大学大学院 総合理工学研究院 融合創造理工学部門
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Nakashima Hideharu
Department Of Electrical And Materials Science Faculty Of Engineering Sciences Kyushu University
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遠藤 徳明
日本電子
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奥西 栄治
日本電子株式会社EM事業ユニットアプリケーション部
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佐々木 健夫
日本電子株式会社
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池田 昭浩
日本電子株式会社
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芦野 公紀
日本電子株式会社
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応本 和也
日本電子株式会社
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福田 知久
日本電子株式会社
著作論文
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- 収差補正STEMを用いたEELSによる原子カラムマッピング
- 球面収差補正STEMによるシリコン結晶中アンチモン原子の置換位置移動の直接観察
- Z-コントラストとドリフト補正EDSマッピングによるアルミニウム合金中の板状析出物の高分解能極微小領域分析
- 集束イオンビームによる新しいTEM試料作製法の開発再加工が可能な方法
- 収差補正走査透過電子顕微鏡を用いた環状明視野法による軽元素位置の直接観察
- β型Ti合金に生成する時効ω相の微細構造
- 収差補正走査透過電子顕微鏡を用いた環状明視野法による軽元素位置の直接観察
- 収差補正STEM-EDSによる原子分解能マッピング
- EDSおよびEELSの現状 : ハードウェアの進歩による分析の高度化
- 原子分解能収差補正STEMと低加速への発展
- モノクロメータ付き200kV原子分解能分析電子顕微鏡