収差補正200kV TEM・STEM

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 2006-03-31

著者

• 山本 剛久

  東京大学大学院 新領域創成科学研究科物質系専攻

• 奥西 栄治

  日本電子株式会社

• 富田 健

  日本電子株式会社

• 奥西 栄治

  日本電子:jst-crest

• 沢田 英敬

  日本電子株式会社

関連論文

• 超音速フリージェットPVD
• 特集「電子顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(6)の企画にあたって
• 23pGP-5 電子線非照射下のガス導入による金ナノ粒子/ルチルの構造変化の観察(23pGP ナノ構造・局所光学現象,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 28aYG-6 球面収差補正TEM法によるグラフェン単原子直接観察(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
• ZnO中の傾角粒界の原子構造
• HRTEM による Cu/α-Al_2O_3(0001) 界面の原子構造解析(セラミック材料)
• 27pRE-9 収差補正TEM/STEMを用いたLa_2O_3/Si界面ラフネスの精密解析(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 25aYH-3 HRTEMおよびHAADF-STEMによるβ-FeSi_2ナノドットの微細構造評価(25aYH 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 28aYH-4 球面収差補正TEM及びEELSによるグラフェン観察(28aYH 領域7,領域9合同 グラフェン構造・表面物性,領域7(分子性固体・有機導体))
• 位相コントラストによる超高分解能元素マッピング
• 23pTC-9 極薄Si酸化膜を用いたSi(001)表面上のGeナノドットの微細構造および組成の評価(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 急冷凝固Ti-Pd合金における逆位相境界のHAADF-STEM観察
• セラミックスの粒界偏析のSTEM直接観察
• アルミナ小傾角粒界に形成された特異部分転位構造のTEM解析
• アルミナ粒界におけるY偏析サイトのSTEM観察
• ジルコニア〓9粒界の周期ユニット構造
• PLD法により作製したAlN薄膜とα-Al_2O_3基板の界面構造
• 傾角66°の[001]対称傾角粒界を有するルチル型TiO_2双結晶の粒界原子構造
• 22pXB-8 球面収差補正 TEM によるシリコン界面の原子直視観察
• 格子欠陥制御に基づく機能材料の開発
• 収差補正200kV TEM・STEM
• 13pTJ-8 高分解能電子顕微鏡像及び HAADF STEM 像による Si/SiO_2 界面の構造決定(電子線, 領域 10)
• 28pXM-6 HAADF STEM法によるSi/SiO_2界面の構造解析(X線・粒子線(電子線))(領域10)
• 28aXM-4 高分解能small angle BF STEM及びlarge angle BF STEM像の形成機構(X線・粒子線(電子線))(領域10)
• 25pYG-1 酸素導入による金ナノ粒子/ルチルの界面の状態変化(ナノ構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 29pPSB-27 ガス導入TEMホルダーによるAu/TiO_2触媒のその場観察II(29pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 29pTE-8 ガス雰囲気中その場観察TEM法による金ナノ粒子/ルチルの構造変化の観察(29pTE 微粒子・クラスタ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 28pYH-5 収差補正STEMによる単原子のZコントラストイメージング(微粒子・クラスター,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 27aTE-11 収差補正STEMによる軽元素の単原子観察(27aTE 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 解析・評価技術編 原子分解能分析電子顕微鏡「JEM-ARM200F」 (特集 エレクトロニクス分野の検査・計測・解析技術の最新動向)
• 極限の分解能を実現するTEMおよびSTEM (特集 最先端の電子顕微鏡技術と応用展開)
• 分析電顕としてのCsコレクター (最新分析手法とその応用)
• 収差補正STEMを用いたEDSによる原子カラムマッピング
• 収差補正STEMを用いたEELSによる原子カラムマッピング
• 球面収差補正STEMによるシリコン結晶中アンチモン原子の置換位置移動の直接観察
• 24aYK-11 球面収差補正STEMによるシリコン中ドーパント原子の運動の観察(24aYK X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• Z-コントラストとドリフト補正EDSマッピングによるアルミニウム合金中の板状析出物の高分解能極微小領域分析
• ZnOにおける不純物偏析および電気特性の粒界依存性
• 集束イオンビームによる新しいTEM試料作製法の開発再加工が可能な方法
• ナノティップ電界放射電子銃の開発
• ELNESと理論計算を組み合わせた結晶界面の原子・電子構造解析
• 高輝度電子銃の開発 (分析電顕のハード最前線)
• アルミナ双結晶の粒界構造と高温変形挙動
• 収差補正200kV TEM・STEM (特集:収差補正技術を用いた応用研究最前線)
• ナノスケールでの結晶構造・電子状態解析へ向けて
• 6a-B4-6 UHV-高分解能SEMの作成
• 4a-M-9 電界放出型電子銃を用いた収束電子回折
• 分析電子顕微鏡における試料汚染の改善
• 9a-Z-2 収束電子線回折装置作製とその応用
• その場観察によるYSZの破壊過程の直接観察
• 安全に実験を行うために
• 電子エネルギー損失スペクトルを用いたCu/Al_2O_3(0001)界面の局所化学結合状態解析
• セラミックス破壊の微視的観察と原子論的メカニズム
• TEM内その場観察法による窒化ケイ素の粒内破壊に伴う亀裂進展経路の同定
• 超音速フリージェットPVDによる鉄膜の形成と膜組織観察
• 超音速フリージェットPVDによる多結晶Si膜の形成と膜組織観察
• 超音速フリージェットPVDによるアパタイト粒子分散Ti膜の形成
• 転位配列制御によるナノ細線設計
• VC添加WC-Co合金のWC/Co界面構造解析
• 企画にあたって
• 第1回最先端の電子顕微鏡と理論計算に関する国際シンポジウム
• 実験結果のまとめと公表
• 分析
• 電極付け
• セラミックスの加工 ( 2 ) 研削・研磨
• セラミックスの加工(1)切断
• α-Al_2O_3単結晶の高温変形挙動と転位構造(セラミック材料)
• 121 収束電子線回折法によるアルミナ双結晶界面の高精度ひずみ測定(信頼性手法・評価)(先進材料開発と信頼性設計・評価)(オーガナイスドセッション7)
• 収差補正走査透過電子顕微鏡を用いた環状明視野法による軽元素位置の直接観察
• 超高真空走査電子顕微鏡
• 分析電子顕微鏡における試料汚染の改善
• 分析電子顕微鏡における試料汚染の改善
• 第1分科(エネルギー材料) : エネルギー・環境材料の研究をどう捉えるか
• β型Ti合金に生成する時効ω相の微細構造
• 収差補正走査透過電子顕微鏡を用いた環状明視野法による軽元素位置の直接観察
• 27pTN-12 LiV2O4結晶の環状明視野像におけるリチウムカラム強度解析(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• VC を添加した WC-Co 超硬合金の界面構造
• チタン酸バリウム結晶粒界のHREMおよびEELSによる構造評価
• 収差補正STEM-EDSによる原子分解能マッピング
• EDSおよびEELSの現状 : ハードウェアの進歩による分析の高度化
• 機能元素によるイットリアセラミックスの焼結性向上
• 原子分解能収差補正STEMと低加速への発展
• モノクロメータ付き200kV原子分解能分析電子顕微鏡

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク