121 収束電子線回折法によるアルミナ双結晶界面の高精度ひずみ測定(信頼性手法・評価)(先進材料開発と信頼性設計・評価)(オーガナイスドセッション7)
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概要
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- 社団法人日本材料学会の論文
- 2003-05-16
著者
-
山本 剛久
東京大学大学院 新領域創成科学研究科物質系専攻
-
幾原 雄一
東京大学大学院工学系研究科総合研究機構
-
幾原 雄一
ファインセラミックスセンター:東大総研:東北大wpi
-
山本 剛久
Institute Of Engineering Innovation School Of Engineering The University Of Tokyo
-
河本 洋
FCRAシナジー研
-
山本 剛久
東京大学
-
幾原 雄一
東京大学
-
齋藤 智浩
(財)ファインセラミックスセンター微構造解析・計算グループ
-
齋藤 智浩
FCRAシナジー研
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