走査透過型電子顕微鏡 : 材料界面・表面評価の新展開
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2009-09-01
著者
-
幾原 雄一
東京大学大学院工学系研究科総合研究機構
-
柴田 直哉
東京大学大学院工学系研究科総合研究機構
-
幾原 雄一
東京大学大学院工学研究科総合研究機構
-
幾原 雄一
東大 大学院工学系研究科
-
柴田 直哉
東京大学
-
幾原 雄一
東京大学大学院 工学系研究科 総合研究機構
関連論文
- 21pGE-16 スピネル型LiNi_2O_4における電荷軌道整列相の第一原理計算(21pGE パイロクロア・フラストレーション系,領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))
- 特集「電子顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(6)の企画にあたって
- 誘電体TiO2/SrTiO3ヘテロ界面の構造と電子状態 (特集 機能元素のナノ材料科学)
- ZnO中の傾角粒界の原子構造
- はじめに「機能元素のナノ材料科学」の意義と今後の展開
- 走査透過型電子顕微鏡--材料界面・表面評価の新展開 (特集 電子顕微鏡技術と理論計算の新展開)
- 収差補正走査透過電子顕微鏡法を用いた界面研究の新展開
- セラミックスの微細構造観察法 : 透過電子顕微鏡法を中心に
- 第11回材料科学における電子顕微鏡最前線国際会議
- 先進電子顕微鏡観察によるセラミックス粒界の解明と設計 (特集 原子・電子レベルからの材料界面設計)