最近の技術 n型SrTiO3半導体粒界における粒界空孔形成
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
- 走査透過型電子顕微鏡--材料界面・表面評価の新展開 (特集 電子顕微鏡技術と理論計算の新展開)
- 先進電子顕微鏡観察によるセラミックス粒界の解明と設計 (特集 原子・電子レベルからの材料界面設計)
- ジルコニア〓3粒界のファセット構造
- 走査透過型電子顕微鏡 : 材料界面・表面評価の新展開
- ZrO_2-Y_2O_3変調構造のTEM-EDS分析
- 最近の技術 n型SrTiO3半導体粒界における粒界空孔形成
- セラミックスの粒界偏析のSTEM直接観察
- アルミナ小傾角粒界に形成された特異部分転位構造のTEM解析
- ナノ機能元素の超微細構造解析
- 最近の研究と技術 走査型透過電子顕微鏡法による界面・表面の研究
- アルミナ粒界におけるY偏析サイトのSTEM観察
- ジルコニア〓9粒界の周期ユニット構造
- 収差補正STEMによる材料界面ドーパント原子直接観察
- PLD法により作製したAlN薄膜とα-Al_2O_3基板の界面構造
- 傾角66°の[001]対称傾角粒界を有するルチル型TiO_2双結晶の粒界原子構造
- SPM-TEMホルダーを用いたTEMその場ナノ計測
- 収差補正STEMによるセラミック材料界面の局所構造解析
- ねじり成分によるアルミナ小傾角粒界の構造変化 (特集 機能元素のナノ材料科学)
- 新進気鋭 最新走査型透過電子顕微鏡法による材料界面研究の新展開
- JIMIC-7第13回界面粒界国際会議(iib2010)会議報告
- 環状明視野(ABF)STEM法の理論と応用
- 埋もれた界面中の原子 1 個の走査型透過電子顕微鏡直接観察
- 埋もれた界面中の原子1個の走査型透過電子顕微鏡直接観察
- 多分割検出による原子分解能STEMの新しい展開
- 低角散乱電子を用いた軽元素の実空間観察
- タイトル無し
- 環状明視野(ABF)STEM法の理論と応用
- ABF STEM法を用いた材料界面研究
- STEMによる材料界面の原子レベル観察