Transmission Electron Microscopy Study of Sn-Doped Sintered Indium Oxide

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概要

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• Japan Institute of Metalsの論文
• 2009-05-01

著者

• 幾原 雄一

  ファインセラミックスセンター:東大総研:東北大wpi

• 山本 剛久

  Institute Of Engineering Innovation School Of Engineering The University Of Tokyo

• IKUHARA Yuichi

  Institute of Engineering Innovation, University of Tokyo

• Shibata Naoya

  Institute Of Engineering Innovation School Of Engineering The University Of Tokyo

• YAMAMOTO Takahisa

  Institute of Engineering Innovation, The University of Tokyo

• ISHIKAWA Yoshimitsu

  Tokyo Division, Tosoh Analysis and Research Center Co. Ltd.

• NAGAYAMA Hitoshi

  Tokyo Research Center, Tosoh Corporation

• HOSHINO Hirokuni

  Production Division, Tosoh Speciality Materials Corporation

• OHGAI Michiharu

  Tokyo Division, Tosoh Analysis and Research Center Co. Ltd.

• Nagayama Hitoshi

  Tokyo Research Center Tosoh Corporation

• Yamamoto Takahisa

  Department Of Advanced Materials Science Graduate School Of Frontier Sciences University Of Tokyo

• Ikuhara Yuichi

  World Premier International Research Center Advanced Institute For Materials Research Tohoku Univers

• Ikuhara Yuichi

  Institute Of Engineering Innovation School Of Engineering The University Of Tokyo

• Hoshino Hirokuni

  Production Division Tosoh Speciality Materials Corporation

• Ohgai Michiharu

  Tokyo Division Tosoh Analysis And Research Center Co. Ltd.

• Ishikawa Yoshimitsu

  Tokyo Division Tosoh Analysis And Research Center Co. Ltd.

• Ikuhara Yuichi

  Institute Of Engineering Innovation The University Of Tokyo

• IKUHARA Yuichi

  Faculty of Engineering, The University of Tokyo

• Yamamoto Takahisa

  Institute Of Engineering Innovation The University Of Tokyo

• Ikuhara Yuichi

  World Premier International Research Center Advanced Institute For Materials Research Tohoku Univers

• IKUHARA Yuichi

  Institute of Engeering Innovation, School of Engineering, The University of Tokyo

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