OS8(1)-3(OS08W0163) Measurement of Lattice Defect and Local Strain in Polished Sapphire by Transmission Electron Microscopy
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概要
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- 一般社団法人日本機械学会の論文
- 2003-09-09
著者
-
幾原 雄一
ファインセラミックスセンター:東大総研:東北大wpi
-
YAMAMOTO Takahisa
Engineering Research Institute, The University of Tokyo
-
Kawamoto Hiroshi
Synergy Ceramics Laboratory Fine Ceramics Research Association
-
Ikuhara Yuichi
Engineering Research Institute School Of Engineering The University Of Tokyo
-
Saito Tomohiro
Synergy Ceramics Laboratory Fine Ceramics Research Association
-
Yamamoto Takahisa
Engineering Research Inst. Univ. Of Tokyo
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- PREFACE
- Special Issue on Grain Boundaries, Interfaces, Defects and Localized Quantum Structures in Ceramics
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- OS8(1)-3(OS08W0163) Measurement of Lattice Defect and Local Strain in Polished Sapphire by Transmission Electron Microscopy
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