沢田 英敬 | 日本電子株式会社

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概要

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関連著者

• 沢田 英敬

  日本電子株式会社

• 奥西 栄治

  日本電子株式会社

• 奥西 栄治

  日本電子:jst-crest

• 山崎 順

  名大エコトピア研

• 田中 信夫

  名大エコトピア研

• 田中 信夫

  名古屋大学

• 石川 勇

  日本電子株式会社電子光学機器本部

• 近藤 行人

  日本電子株式会社

• 富田 健

  日本電子株式会社

• 細川 史生

  日本電子株式会社

• 沢田 英敏

  Jst-ceest:日本電子

• 堀 まどか

  日本電子株式会社 EM ビジネスユニット

• 山本 剛久

  東京大学大学院 新領域創成科学研究科物質系専攻

• 奥西 栄治

  日本電子(株)

• 近藤 行人

  Jst-crest:日本電子

• 山崎 順

  名古屋大学エコトピア科学研究機構工学研究科

• 沢田 英敬

  日本電子(株)

• 山崎 順

  名古屋大学エコトピア科学研究所

• 細川 史生

  Jst-crest:日本電子

• 末永 和知

  産業技術総合研

• 堀 まどか

  日本電子株式会社emビジネスユニット

• 石川 勇

  日本電子株式会社emビジネスユニット

• 佐々木 健夫

  日本電子株式会社

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著作論文

• 収差補正200kV TEM・STEM
• 収差補正STEMを用いたEDSによる原子カラムマッピング
• 収差補正STEMを用いたEELSによる原子カラムマッピング
• 球面収差補正STEMによるシリコン結晶中アンチモン原子の置換位置移動の直接観察
• 24aYK-11 球面収差補正STEMによるシリコン中ドーパント原子の運動の観察(24aYK X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 収差補正200kV TEM・STEM (特集:収差補正技術を用いた応用研究最前線)
• 収差補正走査透過電子顕微鏡を用いた環状明視野法による軽元素位置の直接観察
• 収差補正走査透過電子顕微鏡を用いた環状明視野法による軽元素位置の直接観察
• 原子分解能収差補正STEMと低加速への発展

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