細川 史生 | 日本電子株式会社
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概要
関連著者
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細川 史生
日本電子株式会社
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細川 史生
Jst-crest:日本電子
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沢田 英敏
Jst-ceest:日本電子
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近藤 行人
Jst-crest:日本電子
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田中 崇之
東工大院理工
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高柳 邦夫
東工大院理工
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沢田 英敬
Jst-crest:日本電子
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沢田 英敬
東大工
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澤田 英敬
Jst-cresta:日本電子
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高柳 邦夫
東工大理工
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田中 崇之
東工大院理工:jst-crest
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田中 崇之
東工大院総理工:東工大院理工
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田中 崇之
東京工業大学大学院理工学研究科
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佐野 健太郎
東工大院理工
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高柳 邦夫
東京工業大学
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奥西 栄治
日本電子:jst-crest
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細川 史生
日本電子(株)
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安藤 雅文
東工大院理工
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沢田 英敬
日本電子(株)
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細川 史生
日本電子
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奥西 栄治
日本電子(株)
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近藤 行人
JST-CREST
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近藤 行人
日本電子株式会社電子光学機器本部
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近藤 行人
日本電子
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奥西 栄治
日本電子
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沢田 英敬
JST-CREST
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高柳 邦夫
東工大
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細川 史生
JST-CEEST
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安部 悠介
東工大院理工
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永山 國昭
自然科学研究機構岡崎統合バイオサイエンスセンター
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炭屋 亜美
東工大院総合理工
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石川 勇
日本電子株式会社電子光学機器本部
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近藤 行人
日本電子株式会社
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高柳 邦夫
東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻
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奥西 栄治
日本電子株式会社
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Danev Radostin
岡崎国立共同研究機構 統合バイオサイエンスセンター
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永山 國昭
岡崎国立共同研究機構・統合バイオ
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新井 善博
日本電子株式会社
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沢田 英敬
日本電子株式会社
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堀 まどか
日本電子株式会社 EM ビジネスユニット
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高柳 邦夫
東京工業大学物性物理学専攻
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細川 史夫
JST-CREST
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大河原 浩
自然科学機構・生理研
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及川 哲夫
日本電子
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森 信文
富士写真フイルム(株)
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及川 哲夫
日本電子株式会社
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元木 創平
日本電子株式会社
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及川 哲夫
日本電子(株)電子光学機器本部
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三宮 工
日本電子(株)
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小倉 信彦
富士写真フィルム(株)宮台技術開発センター
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Danev Radostin
岡崎バイオサイエンスセンター
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大河原 浩
岡崎バイオサイエンスセンター
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永山 國昭
岡崎バイオサイエンスセンター
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奥西 栄治
JST-CEEST
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沢田 英敬
JS-CREST
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細川 史生
JS-CREST
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近藤 行人
JS-CREST
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森 信文
富士写真フイルム株式会社宮台技術開発センター
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小倉 信彦
富士写真フイルム株式会社宮台技術開発センター
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小倉 信彦
富士写真フィルム(株)
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新井 善博
日本電子(株)開発本部
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堀 まどか
日本電子株式会社emビジネスユニット
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石川 勇
日本電子株式会社emビジネスユニット
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及川 哲夫
日本電子株式会社電子光学機器技術本部
著作論文
- 21pPSA-16 ガス導入(O_2,N_2)によるAu/TiO_2の構造変化の観察(21pPSA 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 23pGP-5 電子線非照射下のガス導入による金ナノ粒子/ルチルの構造変化の観察(23pGP ナノ構造・局所光学現象,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 28aYG-6 球面収差補正TEM法によるグラフェン単原子直接観察(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 28aYH-4 球面収差補正TEM及びEELSによるグラフェン観察(28aYH 領域7,領域9合同 グラフェン構造・表面物性,領域7(分子性固体・有機導体))
- 収差補正の発展--Delta型新球面収差補正装置の開発 (分析技術の進展--ハードの最前線)
- 25pYG-1 酸素導入による金ナノ粒子/ルチルの界面の状態変化(ナノ構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 29pTE-8 ガス雰囲気中その場観察TEM法による金ナノ粒子/ルチルの構造変化の観察(29pTE 微粒子・クラスタ,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 22aXB-1 収差補正TEM法による金ナノ粒子/ルチルの界面構造の差異の観察(22aXB 微粒子・クラスタ,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 23aTD-8 収差補正TEM法による酸素原子を含む金ナノ粒子/ルチルの界面構造の観察(表面ナノ構造量子物性,微粒子クラスタ,領域9,表面・界面,結晶成長)
- TEM/STEM機におけるCsコレクタとその応用 (電子顕微鏡・装置開発の将来を探る)
- 球面収差補正TEMおよびSTEM
- WS3-2 位相差電子顕微鏡法の装置上の特長(A.原理と実践,ワークショップ3 位相差電子顕微鏡の組織化学への適用,第46回日本組織細胞化学会総会・学術集会)
- 21aXJ-3 金ナノ粒子/ルチル界面の酸素原子カラムの観察(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 透過電子顕微鏡用イメージングプレート・システムの開発
- Cs補正TEM (日本顕微鏡学会第48回シンポジウム 材料科学と生命科学のクロストーク--顕微解析の最前線) -- (非生物系セッション2 電子光学の最近の進展と利用法--電子顕微鏡の限界を打破するために)
- 収差補正走査透過電子顕微鏡を用いた環状明視野法による軽元素位置の直接観察
- 収差補正走査透過電子顕微鏡を用いた環状明視野法による軽元素位置の直接観察
- W5-4 専用型電子位相顕微鏡装置の開発(電子位相顕微鏡法の展開,ワークショップ5,第44回日本組織細胞化学会 第35回日本臨床電子顕微鏡学会 合同学術集会)