細川 史生 | 日本電子(株)
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概要
関連著者
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細川 史生
日本電子(株)
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細川 史生
日本電子株式会社
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細川 史生
日本電子
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沢田 英敬
日本電子(株)
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細川 史生
Jst-crest:日本電子
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田中 崇之
東工大院理工
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高柳 邦夫
東工大院理工
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奥西 栄治
日本電子(株)
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近藤 行人
日本電子株式会社電子光学機器本部
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近藤 行人
Jst-crest:日本電子
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高柳 邦夫
東京工業大学
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沢田 英敬
Jst-crest:日本電子
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沢田 英敬
東大工
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澤田 英敬
Jst-cresta:日本電子
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奥西 栄治
日本電子:jst-crest
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沢田 英敏
Jst-ceest:日本電子
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高柳 邦夫
東工大理工
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田中 崇之
東工大院理工:jst-crest
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近藤 行人
日本電子
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田中 崇之
東工大院総理工:東工大院理工
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奥西 栄治
日本電子
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田中 崇之
東京工業大学大学院理工学研究科
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佐野 健太郎
東工大院理工
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安藤 雅文
東工大院理工
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安部 悠介
東工大院理工
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川崎 正博
Jeol U.s.a.
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川崎 正博
日本電子株式会社
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川崎 正博
日本電子(株)電子光学機器技術本部応用研究センター1g
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永山 國昭
自然科学研究機構岡崎統合バイオサイエンスセンター
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炭屋 亜美
東工大院総合理工
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進藤 大輔
東北大学素材工学研究所
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池松 陽一
新日本製鐵(株)先端技術研究所
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池松 陽一
東北大学素材工学研究所
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村上 恭和
東北大学素材工学研究所
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高柳 邦夫
東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻
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三宮 工
日本電子(株)
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大橋 嘉公
東北大学素材工学研究所
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Danev Radostin
岡崎国立共同研究機構 統合バイオサイエンスセンター
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永山 國昭
岡崎国立共同研究機構・統合バイオ
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新井 善博
日本電子株式会社
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FRITZ G.
ノーランインスツメンツ
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KALE N.
ノーランインスツメンツ
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高柳 邦夫
東工大
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本田 敏和
日本電子(株)
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新井 善博
日本電子(株)開発本部
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高柳 邦夫
東京工業大学物性物理学専攻
著作論文
- 23pGP-5 電子線非照射下のガス導入による金ナノ粒子/ルチルの構造変化の観察(23pGP ナノ構造・局所光学現象,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 28aYH-4 球面収差補正TEM及びEELSによるグラフェン観察(28aYH 領域7,領域9合同 グラフェン構造・表面物性,領域7(分子性固体・有機導体))
- 25pYG-1 酸素導入による金ナノ粒子/ルチルの界面の状態変化(ナノ構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 29pTE-8 ガス雰囲気中その場観察TEM法による金ナノ粒子/ルチルの構造変化の観察(29pTE 微粒子・クラスタ,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 球面収差補正TEMおよびSTEM
- 試料ドリフト補正による高倍率EDSマッピング
- JEM-3000Fの特性評価
- 6極子によるTEMの球面収差補正
- ディフラクトグラムによる TEM オートチューニング
- マルチスライス法入門
- W5-4 専用型電子位相顕微鏡装置の開発(電子位相顕微鏡法の展開,ワークショップ5,第44回日本組織細胞化学会 第35回日本臨床電子顕微鏡学会 合同学術集会)