高柳 邦夫 | 東工大

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概要

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関連著者

• 高柳 邦夫

  東工大

• 高柳 邦夫

  東工大院理工

• 高柳 邦夫

  東工大総理工

• 高柳 邦夫

  東京工業大学

• 高柳 邦夫

  東工大理工

• 高柳 邦夫

  東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻

• 高柳 邦夫

  東京工業大学物性物理学専攻

• 谷城 康眞

  東工大院理工

• 高柳 邦夫

  東工大 総理工

• 高柳 邦夫

  東工大理

• 沢田 英敏

  Jst-ceest:日本電子

• 谷城 康眞

  東工大院総合理工

• 高柳 邦夫

  東工大院総合理工

• 谷城 康眞

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 澤田 英敬

  Jst-cresta:日本電子

• 平山 博之

  東工大総理工

• 谷城 康眞

  東工大院理工:jst-crest

• 沢田 英敬

  Jst-crest:日本電子

• 沢田 英敬

  東大工

• 近藤 行人

  Jst-crest:日本電子

• 近藤 行人

  JST-CREST

• 大島 義文

  東工大総理工

• 大島 義文

  東工大 総理工

• 田中 崇之

  東工大院理工

• 沢田 英敬

  JST-CREST

• 小林 国男

  東工大 理

• 田中 崇之

  東工大院理工:jst-crest

• 田中 崇之

  東工大院総理工:東工大院理工

• 田中 崇之

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 八木 克道

  東工大

• 小林 国男

  東工大

• 高柳 邦夫

  東工大・総理工

• 小林 国男

  東工大・理

• 八木 克道

  東工大 理

• 八木 克道

  東工大・理

• 小林 国男

  東工大理

• 奥西 栄治

  日本電子:jst-crest

• 小林 國男

  東工大 理

• 炭屋 亜美

  東工大院総合理工

• 佐野 健太郎

  東工大院理工

• 平山 博之

  東工大・総理工

• 橋川 直人

  ルネサステクノロジ

• 大島 義文

  JST-CREST

• 澤田 英敬

  JST-CRESTA

• 細川 史生

  日本電子株式会社

• 川田 隆弘

  東工大総理工

• 朝山 匡一郎

  東工大院理工

• 小柳 聖

  東工大院理工

• 近藤 行人

  日本電子

• 細川 史生

  Jst-crest:日本電子

• 澤田 英敬

  Jst-crest:日本電子

• 谷城 康真

  東工大

• 安部 悠介

  東工大院理工

• 山本 直紀

  東工大 理

• 奥西 栄治

  日本電子(株)

• 平山 博之

  東工大 総理工

• 本庄 五郎

  東工大

• 沢田 英敬

  日本電子(株)

• 谷城 康眞

  東工大 理

• 堀江 亮子

  東工大総理工

• 小溝 剛弘

  東工大理工

• 橋川 直人

  日本電子

• 奥西 栄治

  JST-CEEST

• 神保 雄

  東工大院理工

• 和田 麻友香

  東工大院理工

• 李 少淵

  東工大

• 大島 義文

  阪大電顕センター

• 奥西 栄治

  日本電子

• 岡本 創

  Ntt物性基礎研

• 久留井 慶彦

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 三宅 秀人

  三重大学大学院工学研究科

• 田中 高穂

  無機材研

• 本庄 五郎

  東工大理

• 橋本 豊

  東工大

• 三宅 秀人

  三重大工

• 小野 倫也

  阪大院工

• 細川 史夫

  JST-CREST

• 近藤 行人

  日本電子株式会社電子光学機器本部

• 山崎 彩子

  東工大・総理工

• 水野 悠

  東工大総理工

• 竹口 雅樹

  物質・材料研究機構

• 中田 和成

  東工大 総理工

• 山口 直

  東工大総理工

• 朝山 匡一郎

  ルネサステクノロジ

• 谷城 康眞

  JST-CREST

• 高柳 邦夫

  JST-CREST

• 長倉 繁麿

  東京工業大学・工学部

• 長倉 繁麿

  東工大工

• 谷城 康眞

  東工大院

• 谷城 康真

  東工大:crest

• 三宅 秀人

  三重大

• 三宅 秀人

  三重大学 工学部

• 新澤 雄彦

  東工大総理工

• 内藤 賀公

  東京工業大学大学院総合理工学研究科

• 宇田 毅

  アトムテクノロジー研究体

• 長倉 繁磨

  東工大工

• 細川 史生

  日本電子(株)

• 原田 嘉晏

  日本電子

• 平野 治男

  日本電子株式会社

• 中山 博之

  東工大総理工

• 竹下 茜

  東工大院総理工

• 日比野 紘大

  東工大院理工

• 久保田 忠弘

  本田技研

• 大島 義文

  東工大院総理工

• 長倉 繁磨

  東京工大・工

• 谷城 康真

  東工大 理

• 中山 佳子

  Nims

• 長倉 繁磨

  東工大.工

• 大森 雅夫

  東工大・総理工

• 竹口 雅樹

  Nims

• 竹口 雅樹

  物質・材料研究機構 超高圧電子顕微鏡ステーション

• 竹口 雅樹

  (独)物質・材料研究機構 ナノ計測センター

• 岡本 創

  東工大・総理工

• 宮里 美季江

  東工大総理工

• 池沢 弘範

  東工大理工

• 平山 博之

  東工大理工

• 杉原 範昭

  東工大院 理 物理

• 平山 博之

  東工大院 理 物理

• 高柳 邦夫

  東工大院 理 物理

• 金 スヒョン

  東工大院理工

• 金 秀鉉

  東工大院理工

• 久留井 慶彦

  東工大院理工

• 岡本 政邦

  日立機械研

• 安藤 雅文

  東工大院理工

• 細川 史生

  JST-CEEST

• 小平 靖宣

  東工大

• 高橋 正悦

  東工大

• 本吉 秀世

  東工大

• 本庄 五郎

  東工大.物理

• 本庄 五郎

  東京工業大学理学部

• 細川 史生

  日本電子

• 長倉 繁麿

  東工大.工

• 大島 義文

  東工大 理工 総理工

• 高橋 正悦

  東工大理

• Lehmpfuhl G.

  Fhi Der Mpg

• 岡本 政邦

  アトムテクノロジー研究体

• 李 少淵

  東工大院総合理工

• Huy Nguyen

  阪大院工

• 秋山 和弘

  東工大

• 大井 公郎

  日本電子

• 石橋 有

  日本電子

• 小林 秀雄

  日本電子

• 三宅 秀人

  三重大学

• 平野 治男

  日本電子

• 長倉 繁麿

  東工大, 工

• 山本 直紀

  東工大

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著作論文

• 21pGP-9 宙づり単層及び二層グラフェンの長周期構造直接観察(21pGP グラフェン(成長と評価),領域7(分子性固体・有機導体))
• 21pPSA-16 ガス導入(O_2,N_2)によるAu/TiO_2の構造変化の観察(21pPSA 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 20aHT-5 収差補正STEMによる単原子観察とZコントラストイメージング(20aHT 領域10 格子欠陥・ナノ構造(水素,ナノ粒子,金属),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 23pGP-5 電子線非照射下のガス導入による金ナノ粒子/ルチルの構造変化の観察(23pGP ナノ構造・局所光学現象,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 28aYG-6 球面収差補正TEM法によるグラフェン単原子直接観察(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 26aYK-13 収差補正走査型透過電子顕微鏡法によるシリコン結晶中ヒ素ドーパントの検出(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 19pPSB-30 Ge/Si(001)表面上Siエピタキシャル成長のSTM観察
• 19pPSB-18 Si(111)7x7表面上のAg薄膜成長時のSHG強度振動
• 2a-YE-11 YB_(001)表面上におけるC_クラスター結晶成長のSTM観察
• 19aRH-7 Ag/Si(111)ショットキー障壁
• 25pWZ-3 Si結晶中Sbドーパント不活性クラスター構造(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 25pWZ-2 球面収差補正ADF-STEM像におけるZ-contrast(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 25pWZ-1 CuInSe_2結晶の欠陥のSTEM観察(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 25aWS-7 O_2導入によって形成されるAu/TiO_2界面のピラー構造のTEM観察(25aWS 表面界面構造(金属・酸化物),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 28pYH-5 収差補正STEMによる単原子のZコントラストイメージング(微粒子・クラスター,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 25aWS-8 球面収差補正TEMによるアモルファスカーボン膜上での金単原子の動的観察(25aWS 表面界面構造(金属・酸化物),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 23aW-3 デュアル探針を用いた電子コンタクトの直列接続
• 31p-YF-15 表面欠陥を導入したSi(111)表面上のAg薄膜成長のSTM観察
• 2a-E-13 超高電圧・超高真空電顕の高分解能像
• 領域9「表面光電子分光法の技術革新 : 表面量子準位からナノ構造まで」(2002年秋季大会シンポジウム(物性分科会)の報告)
• 30aYQ-2 Si(111)7x7及び√√-Ag表面SHG郷土の励起光波長依存性
• 23aTD-4 原子ワイヤと量子化コンダクタンス
• 23aTD-4 原子ワイヤと量子化コンダクタンス
• 22aWA-4 Si(111)√√表面SHG強度の励起光波長依存性
• 23aT-5 Si(111)-3×1-Ag表面上のAgナノislandの自己組織的成長
• 22pW-5 Ag/Si(111)表面から発生するSHG光の位相測定
• STMと組み合わせた超高真空電子顕微鏡でみる深針-シリコン表面
• 27aW-3 光第2高調波発生(SHG)によるAg/Si(111)界面形成モニタリング
• 24aY-7 Ag原子点欠陥導入によるSi(111)-√×√-Ag表面上のAgナノクラスター形成過程の制御
• 30p-Q-8 融解金属(In, Pb)の量子化コンダクタンス
• 28p-S-14 Ag/Si(111)7×7界面の"1×1"欠陥とショットキー障壁
• 28p-Q-15 Ge(111)2×1π-bond chain構造にchain-leftはあるか?
• 28a-YM-3 MBE-Si/Geの{111}劈開表面におけるミスフィット転位起源ステップ
• 24aPS-37 Si結晶の高角度入射-STEM像の定量解析(24aPS 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 26pPSB-46 球面収差補正STEMによる低温炭素膜上の金属ナノ粒子観察(領域9ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 2p-D-1 超高真空電顕によるAg(111)表面ステップの動的観察
• 30a-F-9 超高電圧, 超高真空電顕その場観察用蒸着源の試作
• 31a-L-8 超高真空透過電子顕微鏡によるSi(111)-7×7表面の観察
• 創立30周年記念特集号に寄せて
• 環状明視野法によるリチウム原子の定量観察 (Li電池材料解析の最前線)
• 27pTN-14 球面収差補正ADF-STEMによるZコントラストイメージング(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27pTN-13 球面収差補正TEMによる非晶質炭素膜を移動する金原子の動的観察(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27pTN-12 LiV2O4結晶の環状明視野像におけるリチウムカラム強度解析(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 28aTH-1 カーボン原子にアシストされた金アトミックチェーンの生成(28aTH ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 30p-W-13 電顕内蒸着によるその場観察 Sn/SnTe
• 28aYS-2 ヘリカル金属細線の量子コンダクタンス
• 23pWB-12 液体窒素冷却による金ナノ粒子安定構造のUHV-TEM観察
• 31p-N-10 単原子層表面ステップの透過電顕観察
• 表面・結晶成長ミクロプロセス―超高真空・高分解能電顕による観察―
• タイトル無し
• タイトル無し

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