27pTN-14 球面収差補正ADF-STEMによるZコントラストイメージング(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

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概要

• 論文の詳細を見る
• 2011-03-03

著者

• 谷城 康眞

  東工大院理工

• 高柳 邦夫

  東工大院理工

• 高柳 邦夫

  東工大理

• 高柳 邦夫

  東工大総理工

• 高柳 邦夫

  東工大 総理工

• 高柳 邦夫

  東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻

• 高柳 邦夫

  東京工業大学

• 高柳 邦夫

  東工大

• 高柳 邦夫

  東工大理工

• 和田 麻友香

  東工大院理工

• 谷城 康眞

  東工大院総合理工

• 高柳 邦夫

  東工大院総合理工

• 高柳 邦夫

  東京工業大学物性物理学専攻

• 谷城 康眞

  東京工業大学大学院理工学研究科

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