REM-RHEEDにおけるエネルギー損失分光 : Ωフィルターによるエネルギーフィルタリング

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 日本表面科学会の論文
• 2003-03-10

著者

• 谷城 康眞

  東工大院理工

• 谷城 康眞

  東京工業大学理学部物理

• 谷城 康眞

  東京工業大学大学院理工学研究科物性物理学専攻

• 谷城 康眞

  東京工業大学大学院理工学研究科

関連論文

• 21pGP-9 宙づり単層及び二層グラフェンの長周期構造直接観察(21pGP グラフェン(成長と評価),領域7(分子性固体・有機導体))
• 20aHT-5 収差補正STEMによる単原子観察とZコントラストイメージング(20aHT 領域10 格子欠陥・ナノ構造(水素,ナノ粒子,金属),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 26aYK-13 収差補正走査型透過電子顕微鏡法によるシリコン結晶中ヒ素ドーパントの検出(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 28aXC-7 反射電子顕微鏡法におけるenergy-filtered electron interferometry II
• 29pPSA-26 高分解能超高真空電子顕微鏡を用いたSi高指数面や微斜面の観察
• 28aTA-14 Si(111)微斜面上の直流通電加熱誘起のin-phase step wanderingの直流電流成分依存性の研究
• 24pPSA-57 Si(111)微斜面上における通電効果のoff角依存性
• 24pPSA-16 Si(5 5 12)面上のAu吸着過程の高分解能REM観察
• 反射電子顕微鏡法におけるEnergy filtered holography
• 25pT-1 Si(111)面上における通電によるSi adatomのドリフト方向
• 24aPS-52 Si(111)面上における直流通電加熱によるステップ不安定性の研究
• 24aPS-51 Si(111)微斜面上のstep-down通電によるin-phase step wandering
• 24aPS-40 反射電子顕微鏡法におけるエネルギーフィルタリング
• 23aT-7 Si表面における通電と吸着によるステップダイナミックス
• 22aT-11 反射電子顕微鏡法におけるEnergy filtered holography
• Si微斜面での通電効果と表面形態
• 26aPS-44 Si(111)面上におけるSi粒子のエレクトロマイグレーション
• 26aPS-29 電界放出型エネルギーフィルター電子顕微鏡の開発と表面研究への応用III : エネルギーフィルタリング
• 20pYE-5 TEM-STMによるAgナノワイヤの構造観察および電気計測II(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 24pXC-6 TEM-STMを用いた銀ナノワイヤの構造とコンダクタンスの研究II(ナノワイヤ・ナノチューブ,領域9(表面・界面, 結晶成長))
• 15aPS-76 TEM-STM を用いた銀ナノワイヤの構造とコンダクタンスの研究(領域 9)
• 12aXG-10 TEM-STM による Ag ナノワイヤの構造観察および電気計測(ナノチューブ・ナノワイヤ, 領域 9)
• 21aYE-9 TEM-STM 内で成長させた銀ナノワイヤーの構造とコンダクタンス
• 20aPS-69 TEM-STM による銀ナノワイヤーのコンダクタンス計測
• 28pPSB-63 電子顕微鏡組込用超小型 STM の開発と金属ナノワイヤーへの応用
• 国産球面収差補正電子顕微鏡R005の開発
• 25pWZ-3 Si結晶中Sbドーパント不活性クラスター構造(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 25pWZ-2 球面収差補正ADF-STEM像におけるZ-contrast(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 25pWZ-1 CuInSe_2結晶の欠陥のSTEM観察(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 21aTG-2 応力変化に伴う金ナノワイヤの構造変化(ナノチューブ・ナノワイヤー,表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 25aYC-3 応力印加に伴う金ナノワイヤの構造変化II(25aYC ナノチューブ・ナノワイヤ・結晶成長,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 30aPS-70 応力印加時の金ナノワイヤの変形・破断過程の構造観察(30aPS 領域9ポスターセッション(表面,界面,結晶成長),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 30pXJ-5 応力変化に伴う金ナノワイヤの構造変化(30pXJ ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 21aPS-79 Auナノワイヤの構造と機械的性質(領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 20pYE-6 TEM-AFMによる金ナノワイヤの力学特性と構造のその場同時観察(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 24pXC-5 TEM-AFMによるAuナノワイヤーの力計測と構造観察II(ナノワイヤ・ナノチューブ,領域9(表面・界面, 結晶成長))
• 28pYH-5 収差補正STEMによる単原子のZコントラストイメージング(微粒子・クラスター,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 27aTE-11 収差補正STEMによる軽元素の単原子観察(27aTE 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 29a-PS-16 双探針STMを用いた金属吸着Si(111)-√×√-Ag表面の研究
• 27a-PS-46 双探針STMの開発II
• 31a-PS-36 双探計STMの開発
• 30pWP-5 金属ナノワイヤの半整数量子化コンダクタンス(ナノチューブ・ナノワイヤ)(領域9)
• 21aYE-10 TEM-AFM による Au ナノワイヤーの構造観察および力計測
• 20aPS-70 TEM-AFM を用いた Au ワイヤーの研究
• 31aZF-8 UHV-TEM 装着用超小型 AFM ユニットの開発
• 28pPSB-64 UHV-TEM 装着用超小型 AFM ユニットを用いた Au ナノワイヤーの力計測
• 24pW-8 通電によるSi(111)微斜面上のステップパンチングとワンダリング
• 29a-PS-18 Si(111)表面およびその微斜面における通電効果II
• 27a-PS-39 Si(111)表面およびその微斜面における通電効果
• 25aWS-8 球面収差補正TEMによるアモルファスカーボン膜上での金単原子の動的観察(25aWS 表面界面構造(金属・酸化物),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 25pPSB-59 高感度CCD-TEM-STMによるナノワイヤ構造変化の動的観察(25pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 30aPS-71 TEM-STMを用いたAgナノワイヤの構造と電気伝導の研究(30aPS 領域9ポスターセッション(表面,界面,結晶成長),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 30pXJ-4 TEM-STMによるAgナノワイヤの構造観察および電気計測III(30pXJ ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 26aPS-28 電界放出型エネルギーフィルター電子顕微鏡の開発と表面研究への応用 II : 高分解能REM
• 24aY-6 電界放出型エネルギーフィルター電子顕微鏡の開発と表面研究への応用 I
• 24aY-4 Si(111), (110)微斜面の熱平衡形状のREM観察III
• Ω型エネルギーフィルターを内臓した超高真空電子顕微鏡の開発
• 27a-PS-16 Si微斜面の熱平衡形状への移行の初期過程のREM観察II
• 31a-PS-13 Si微斜面と高指数表面のREM観察
• 24pPSA-4 Energy-filtering TEMを用いた金EELSの膜厚依存(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 19pPSB-54 超イオン導電体AgIを利用したAg細線の作製
• REM-RHEEDにおけるエネルギー損失分光 : Ωフィルターによるエネルギーフィルタリング
• 領域9「ナノコンタクト・ナノワイヤの伝導」(2003年秋季大会シンポジウム(物性分科会)の報告)
• 超高真空エネルギーフィルター電子顕微鏡による表面研究
• 24aPS-37 Si結晶の高角度入射-STEM像の定量解析(24aPS 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• ナノ現象の顕微研究
• 22pPSB-20 収差補正STEMによる単原子観察(22pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 26pPSB-46 球面収差補正STEMによる低温炭素膜上の金属ナノ粒子観察(領域9ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 26aTD-4 広領域観察可能なTEM-STM開発と半導体物性の研究(表面界面電子物性,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 22aXJ-3 広域観察のTEM-STM開発(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 20aPS-39 広域観察可能なTEM-STMの開発(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 25pPSB-26 広領域観察可能なTEM-STMの開発(25pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 2p-D-1 超高真空電顕によるAg(111)表面ステップの動的観察
• 30a-F-9 超高電圧, 超高真空電顕その場観察用蒸着源の試作
• 超イオン導電体AgIからの銀細線の成長と電気伝導
• 12aXG-9 TEM-AFM による Au ナノワイヤの力計測と構造観察(ナノチューブ・ナノワイヤ, 領域 9)
• 30pWP-10 TEM-AFMによるAuナノワイヤーの構造観察および力計測II(ナノチューブ・ナノワイヤ)(領域9)
• 30a-YF-10 Si(111)急冷表面のSTM観察III
• 27pTN-14 球面収差補正ADF-STEMによるZコントラストイメージング(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27pTN-13 球面収差補正TEMによる非晶質炭素膜を移動する金原子の動的観察(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27pTN-12 LiV2O4結晶の環状明視野像におけるリチウムカラム強度解析(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 超イオン導電体AgIからの銀細線の成長と電気伝導
• 31aZF-4 Agl から析出した Ag 細線のコンダクタンス
• 21aJA-9 球面収差補正STEMによるZコントラストイメージング(21aJA X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 21aJA-10 環状明視野像メカニズムの解明(21aJA X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 29a-PS-17 Si(001)微斜面上における通電効果II
• 27a-PS-38 Si(001)及びその微斜面上における通電効果
• 29a-PS-12 Si高指数面上のAu吸着誘起ファセッティングのREM-RHEED観察II
• 27a-PS-40 Si高指数面上のAu吸着誘起ファセッティングのREM-RHEED観察
• 球面収差補正透過型電子顕微鏡法を用いたアトミックスケールでの構造解析
• 27aCL-4 薄膜試料における環状明視野像メカニズムの解明(27aCL X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27aCL-3 球面収差補正STEMによるZコントラストイメージング(27aCL X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 金属吸着表面上のSiおよびGe成長の研究 : 無機結晶II
• 24pYF-3 反射電子顕微鏡法(REM-RHEED)におけるエネルギーフィルタリング(24pYF 領域9,領域10合同シンポジウム 主題:電子回折の新展開,領域9(表面・界面,結晶成長分野))
• 25pPSB-11 表面プラズモン損失したRHEED電子の触分布:理論計算(25pPSB 表面界面・結晶成長,領域9(表面・界面,結晶成長分野))

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク