球面収差補正透過型電子顕微鏡法を用いたアトミックスケールでの構造解析

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概要

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• 2012-06-30

著者

• 高柳 邦夫

  東工大理

• 大島 義文

  東工大総理工

• 高柳 邦夫

  東工大総理工

• 高柳 邦夫

  東工大 総理工

• 高柳 邦夫

  東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻

• 高柳 邦夫

  東京工業大学

• 高柳 邦夫

  東工大理工

• 大島 義文

  東工大 総理工

• 田中 崇之

  東工大院理工:jst-crest

• 大島 義文

  大阪大学超高圧電子顕微鏡センター

• 高柳 邦夫

  東工大院総合理工

• 田中 崇之

  東工大院総理工:東工大院理工

• 高柳 邦夫

  東京工業大学物性物理学専攻

• 谷城 康眞

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 田中 崇之

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 田中 崇之

  東京工業大学

• 谷城 康眞

  東京工業大学

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