大島 義文 | 東工大総理工

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概要

• 同名の論文著者
• 東工大総理工の論文著者

関連著者

• 大島 義文

  東工大総理工

• 高柳 邦夫

  東工大総理工

• 高柳 邦夫

  東工大院理工

• 高柳 邦夫

  東工大理工

• 平山 博之

  東工大総理工

• 久留井 慶彦

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 高柳 邦夫

  東京工業大学

• 大島 義文

  東工大 総理工

• 高柳 邦夫

  東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻

• 近藤 行人

  Jst-crest:日本電子

• 高柳 邦夫

  東工大理

• 高柳 邦夫

  東工大 総理工

• 久留井 慶彦

  東工大院理工

• 高柳 邦夫

  東工大院総合理工

• 高柳 邦夫

  東京工業大学物性物理学専攻

• 谷城 康眞

  東工大院総合理工

• 谷城 康眞

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 吉田 誠

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 大島 義文

  東工大院総理工

• 高柳 邦夫

  東工大

• 吉田 誠

  東工大院理工

• 李 少淵

  東工大

• 高柳 邦夫

  理工

• 谷城 康眞

  東工大院理工:jst-crest

• 澤田 英敬

  Jst-cresta:日本電子

• 沢田 英敏

  Jst-ceest:日本電子

• 岡本 政邦

  日立機械研

• 近藤 行人

  日本電子

• 吉田 誠

  東京工大 大学院理工学研究科

• 谷城 康眞

  東工大院理工

• 近藤 行人

  JST-CREST

• 久留井 慶彦

  東工大総理工

• 近藤 行人

  日本電子株式会社電子光学機器本部

• 平山 博之

  東工大・総理工

• 毛利 啓之介

  東工大総理工

• 小泉 弘明

  東工大総理工

• 恩賀 明子

  東工大総理工

• 橋川 直人

  ルネサステクノロジ

• 大島 義文

  JST-CREST

• 澤田 英敬

  JST-CRESTA

• 沢田 英敬

  Jst-crest:日本電子

• 沢田 英敬

  東大工

• 平山 博之

  東京工業大学大学院総合理工学研究科

• 朝山 匡一郎

  東工大院理工

• 田中 崇之

  東工大院理工:jst-crest

• 大島 義文

  大阪大学超高圧電子顕微鏡センター

• 澤田 英敬

  Jst-crest:日本電子

• 大島 義文

  阪大電顕センター

• 平山 博之

  東工大院・総理工

• 大島 義文

  東京工業大学大学院総合理工学研究科

• 橋本 豊

  東工大

• 高柳 邦夫

  院理工

• 内藤 賀公

  東工大総理工

• 内藤 賀公

  東京工業大学大学院総合理工学研究科

• 沢田 英敬

  日本電子(株)

• 谷口 英広

  東工大総理工

• 橋川 直人

  日本電子

• 金 秀鉉

  東工大院理工

• 久留井 慶彦

  東工大理工

• 大島 義文

  東京工業大学大学院理工学研究科物理学専攻

• 久留井 慶彦

  東工大院総理工

• 佐原 功一郎

  東工大院総理工

• 近藤 行人

  科技団

• 新宮 謙介

  東工大総理工

• 李 少淵

  東工大院総合理工

• 田中 崇之

  東工大院総理工:東工大院理工

• 田中 崇之

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 李 少淵

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 新高 誠司

  理研

• 高木 英典

  理研

• 田中 崇之

  東工大院理工

• 沢田 英敬

  JST-CREST

• 横山 崇

  横浜市大国際総合科学

• 高木 英典

  東京大学大学院新領域創成科学研究科

• 三宅 秀人

  三重大学大学院工学研究科

• 新高 誠司

  理化学研究所

• 高木 英典

  理化学研究所

• 高木 秀典

  東大物性研

• 三宅 秀人

  三重大工

• 奥西 栄治

  日本電子(株)

• 小野 倫也

  阪大院工

• 佐原 功一郎

  東工大総理工

• 竹口 雅樹

  物質・材料研究機構

• 谷城 康眞

  東京工業大学理学部物理

• 朝山 匡一郎

  ルネサステクノロジ

• 谷城 康眞

  JST-CREST

• 高柳 邦夫

  JST-CREST

• Toyoda Haruhisa

  Department Of Material Physics Faculty Of Engineering Science Osaka University

• Takagi Hidenori

  The Institute For Solid State Physics The University Of Tokyo

• 川本 泰

  東工大総理工

• Takagiwa Hiroyuki

  Department Of Physics Aoyama Gakuin University

• 谷城 康眞

  東工大院

• 高木 英典

  理研:東北大多元研:東大新領域

• 三宅 秀人

  三重大

• 三宅 秀人

  三重大学 工学部

• 谷城 康眞

  東京工業大学大学院理工学研究科物性物理学専攻

• 奥西 栄治

  日本電子:jst-crest

• Takagi H

  Institute For Solid State Physics University Of Tokyo

• Takagi Hidenori

  Engineering Research Institute Faculty Of Engineering University Of Tokyo

• Takagi H

  Correlated Electron Research Center (cerc) National Institute Of Advanced Industrial Science And Tec

• Takagi Hidenori

  Department Of Advanced Materials Science University Of Tokyo

• 竹下 茜

  東工大院総理工

• 日比野 紘大

  東工大院理工

• 久保田 忠弘

  本田技研

• 中山 佳子

  Nims

• 橋本 豊

  東工大院総合理工

• 竹口 雅樹

  Nims

• 竹口 雅樹

  物質・材料研究機構 超高圧電子顕微鏡ステーション

• 竹口 雅樹

  (独)物質・材料研究機構 ナノ計測センター

• 小宮山 英明

  東工大院理工

• 山下 淳一

  東工大総理工

• 壱岐 拓則

  東工大総理工

• 金 スヒョン

  東工大院理工

• 久留井 康彦

  東工大院理工

• 大島 義文

  総理工

• 近藤 行人

  日本電子(株)顕微鏡開発研究グループ

• 斉藤 康誌

  東工大理工

• 横山 崇

  金材研

• 久留井 康彦

  東工大総理工

• 小泉 弘明

  東工大理

• 大島 義文

  東工大 理工 総理工

• 大島 義文

  阪大

• Huy Nguyen

  阪大院工

• 中出 浩之

  東工大総理工

• 南郷 智子

  東工大総理工

• 奥西 栄治

  日本電子

• 李 少淵

  東京工業大学物性物理学専攻

• 高柳 邦夫

  総理工・理工

• 高柳 邦夫

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 三宅 秀人

  三重大学

• 田中 崇之

  東京工業大学

• 谷城 康眞

  東京工業大学

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著作論文

• 26aYK-13 収差補正走査型透過電子顕微鏡法によるシリコン結晶中ヒ素ドーパントの検出(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 24pXC-8 金多層ヘリカルナノワイヤのコンダクタンス計測(ナノワイヤ・ナノチューブ,領域9(表面・界面, 結晶成長))
• 21aYE-8 金 HMS ナノワイヤの量子化コンダクタンス III : 非整数コンダクタンス
• 21aYE-7 金 HMS ナノワイヤの量子化コンダクタンス II : 整数コンダクタンス
• 31aZF-2 UHV-TEM 法による Au ナノコンタクト構造に依存した電気伝導度の観察
• 28pPSB-65 UHV-TEM 用冷却ステージの開発
• 20aWD-5 PtナノチューブのUHV-TEM観察
• 20aWD-4 150KでのAuナノワイヤと原子鎖のUHV-TEM観察
• 25pWZ-3 Si結晶中Sbドーパント不活性クラスター構造(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• シリコン結晶中ドーパント原子・クラスターの検出
• 25pWZ-1 CuInSe_2結晶の欠陥のSTEM観察(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 24pPSA-4 Energy-filtering TEMを用いた金EELSの膜厚依存(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 23aW-1 STM探針とSi(111)表面との原子間力相互作用のREM-STM観察
• 2p-YD-11 REM-STMによるSTM探針先端とSi(111)7×7表面のその場観察
• 23aW-4 安定構造をもつPbナノヤイヤーのコンダクタンスの計測
• 24aPS-37 Si結晶の高角度入射-STEM像の定量解析(24aPS 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 20pGP-4 Geometrical dependence of a metal tip on the tunneling conductance(Force Spectroscopy and Tunneling Spectroscopy by SPM and related techniques)
• 26aYH-2 金(111)面および(110)面のトンネルからコンタクトへの遷移のその場観察(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 26aYH-1 引っ張り過程における金, コンタクトの構造とコンダクタンス(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 30pTE-10 金[110]ナノワイヤのバリスティック伝導(30pTE ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 22pPSA-38 カーボンフラーレン分子電極間移動に関する電極間距離・バイアス依存性の観察(22pPSA 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 22pPSA-31 TEM-STMによる金電極ファセット・エッジ局所仕事関数の計測(22pPSA 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 21pXA-6 TEM-STMによる金原子鎖のコンダクタンス揺らぎ計測(21pXA 領域9,領域7合同 ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 21pXA-5 金ナノワイヤにおける(111)面に沿ったエレクトロマイグレーションの観察(21pXA 領域9,領域7合同 ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 透過型電子顕微鏡による金ナノワイヤの電気伝導の研究
• 26pRJ-7 応力印加による金ナノワイヤの歪みとコンダクタンス変化(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 金アトミックシートの電気伝導その場観察 (電顕内でのその場ナノ物性計測)
• 24pXK-7 金の複数原子鎖における整数量子化(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 20pWH-9 フラーレン振動による電気伝導の直接観察(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 20pWH-1 金[110]ナノワイヤのコンダクタンス定量解析(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9,表面・界面,結晶成長)
• ナノ現象の顕微研究
• 20aPS-73 金 HMS ナノワイヤのカイラリティーと魔法数
• 26pYH-10 電極間に置かれたカーボンフラーレンのダイナミックス(26pYH ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 27pRC-13 透過型電子顕微鏡によるカーボンフラーレン・オニオンの構造と電気伝導の同時計測(27pRC フラーレン,領域7(分子性固体・有機導体))
• 24aPS-107 MCBJ機構を用いた金属原子鎖の直接観察法の開発(表面・界面, 結晶成長,領域9(表面・界面, 結晶成長))
• 30pXJ-7 積層欠陥による金ナノワイヤのコンダクタンス変化(30pXJ ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 30pXJ-6 金ナノワイヤのエレクトロマイグレーション(30pXJ ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 21aPS-78 金属ナノコンタクトに見られる非線形電流-電圧特性 : 電極は接近する。(領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 24pXC-7 金ナノコンタクトの非線形性コンダクタンス(ナノワイヤ・ナノチューブ,領域9(表面・界面, 結晶成長))
• 22pT-7 UHV-TEM法におけるAl/Si(001)に現れるクラスター秩序配列の構造解析
• 26pYH-4 金[110]ナノワイヤの断面構造とコンダクタンスの関係(26pYH ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 25pPSB-60 歪による金ナノワイヤのコンダクタンス変化(25pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 24aPS-106 TEM/STMシステムによる金ナノワイヤの動的挙動とコンダクタンスの関係(表面・界面, 結晶成長,領域9(表面・界面, 結晶成長))
• 23aW-2 金原子鎖の電子顕微鏡像シミュレーションによる検討
• 30p-Q-3 UHV-TEM法によるPtナノワイヤーの形成過程の観察
• 環状明視野法によるリチウム原子の定量観察 (Li電池材料解析の最前線)
• 27pPSA-49 超高真空TEM-STM法による金アトミックワイヤのコンダクタンス計測(領域9ポスターセッション)(領域9)
• 27pTN-12 LiV2O4結晶の環状明視野像におけるリチウムカラム強度解析(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 28aTH-1 カーボン原子にアシストされた金アトミックチェーンの生成(28aTH ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 29a-PS-60 Auナノワイヤーの高分解能電子線ホログラフィー観察2
• 25p-YM-11 Auナノワイヤーの高分解能電子線ホログラフィー観察
• 22pT-3 Si(001)面上におけるGe吸着構造のTEM/TED印観察 II
• 26pPSA-20 MgV_2O_4の結晶構造の対称性(26pPSA 領域8ポスターセッション(低温2),領域8(強相関係:高温超伝導,強相関f電子系など))
• 20pYE-7 金ナノワイヤの構造とコンダクタンス同期計測II(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 25aTA-6 融解Pb量子接点のフラクショナルコンダクタンス
• 19aWD-10 ナノ粒子の結晶対称性上昇と臨界サイズ
• 18aWD-7 Si(111)√x√-Ag表面とAg薄膜のC-ICストライプ界面
• 24pW-11 UHV-TEM法によるIndiumナノ粒子安定構造の研究
• 21aJA-10 環状明視野像メカニズムの解明(21aJA X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 1p-YE-2 STMトンネルギャップで形成される単層カーボンナノチューブのTEM観察とコンダクタンス測定
• 球面収差補正透過型電子顕微鏡法を用いたアトミックスケールでの構造解析
• 超高分解能電子顕微鏡によるリチウム原子の可視化
• 収差補正ABF-STEM法によるLi原子の直接観察 (特集 TEMをもちいた電池のイメージング)
• 球面収差補正透過型電子顕微鏡法を用いたアトミックスケールでの構造解析
• 金属ナノチューブの物理
• 30aWP-9 金多層ヘリカルナノワイヤの電気伝導度(ナノ構造量子物性)(領域9)
• 21aYE-11 金カイラルチューブ形成と curved epitaxy の安定性の解析
• 収差補正ABF-STEM法によるLi原子の直接観察
• 25pPSB-58 金ナノチューブのUHV-TEM低温観察(25pPSB 表面界面・結晶成長,領域9(表面・界面,結晶成長分野))
• 27aYF-5 金ヘリカル多層ナノチューブの安定構造(27aYF 表面ナノ構造量子物性,領域9(表面・界面,結晶成長分野))

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