24pXC-8 金多層ヘリカルナノワイヤのコンダクタンス計測(ナノワイヤ・ナノチューブ,領域9(表面・界面, 結晶成長))

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2005-03-04

著者

• 平山 博之

  東工大総理工

• 平山 博之

  東工大・総理工

• 大島 義文

  東工大総理工

• 高柳 邦夫

  院理工

• 平山 博之

  東京工業大学大学院総合理工学研究科

• 平山 博之

  東工大院・総理工

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