タングステン探針によってシリコン(111)表面に誘起される歪みの反射型電子顕微鏡観察
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概要
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- 2000-03-20
著者
-
平山 博之
東工大総理工
-
大島 義文
東京工業大学大学院総合理工学研究科
-
高柳 邦夫
東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻
-
高柳 邦夫
東京工業大学
-
内藤 賀公
東京工業大学大学院総合理工学研究科
-
平山 博之
東京工業大学大学院総合理工学研究科
-
大島 義文
東京工業大学大学院理工学研究科物理学専攻
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