高柳 邦夫 | 東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻

スポンサーリンク

概要

• 同名の論文著者
• 東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻の論文著者

関連著者

• 高柳 邦夫

  東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻

• 高柳 邦夫

  東京工業大学

• 高柳 邦夫

  東工大理工

• 高柳 邦夫

  東工大院理工

• 高柳 邦夫

  東工大理

• 高柳 邦夫

  東工大総理工

• 高柳 邦夫

  東工大 総理工

• 高柳 邦夫

  東工大院総合理工

• 高柳 邦夫

  東京工業大学物性物理学専攻

• 高柳 邦夫

  東工大

• 大島 義文

  東工大総理工

• 谷城 康眞

  東工大院総合理工

• 谷城 康眞

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 大島 義文

  東工大 総理工

• 谷城 康眞

  東工大院理工

• 近藤 行人

  Jst-crest:日本電子

• 澤田 英敬

  Jst-cresta:日本電子

• 沢田 英敏

  Jst-ceest:日本電子

• 谷城 康眞

  東工大院理工:jst-crest

• 沢田 英敬

  Jst-crest:日本電子

• 沢田 英敬

  東大工

• 李 少淵

  東工大

• 近藤 行人

  JST-CREST

• 田中 崇之

  東工大院理工:jst-crest

• 田中 崇之

  東工大院総理工:東工大院理工

• 田中 崇之

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 田中 崇之

  東工大院理工

• 沢田 英敬

  JST-CREST

• 大島 義文

  東京工業大学大学院総合理工学研究科

• 大島 義文

  JST-CREST

• 大島 義文

  東京工業大学大学院理工学研究科物理学専攻

• 大島 義文

  阪大電顕センター

• 炭屋 亜美

  東工大院総合理工

• 佐野 健太郎

  東工大院理工

• 橋川 直人

  ルネサステクノロジ

• 澤田 英敬

  JST-CRESTA

• 内藤 賀公

  東京工業大学大学院総合理工学研究科

• 沢田 英敬

  日本電子(株)

• 朝山 匡一郎

  東工大院理工

• 和田 麻友香

  東工大院理工

• 近藤 行人

  日本電子

• 大島 義文

  大阪大学超高圧電子顕微鏡センター

• 澤田 英敬

  Jst-crest:日本電子

• 李 少淵

  東工大院総合理工

• 久留井 慶彦

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 奥西 栄治

  日本電子(株)

• 大西 秀朗

  大阪大学超高圧電子顕微鏡センター

• 近藤 行人

  日本電子株式会社電子光学機器本部

• 谷城 康眞

  東京工業大学理学部物理

• 谷城 康眞

  東工大院

• 木村 嘉伸

  東工大総理工

• 奥西 栄治

  日本電子:jst-crest

• 木村 嘉伸

  東京工業大学総理工

• 細川 史生

  日本電子株式会社

• 平山 博之

  東京工業大学大学院総合理工学研究科

• 橋川 直人

  日本電子

• 小柳 聖

  東工大院理工

• 木村 嘉伸

  東京工業大学大学院理工学研究科物理学専攻

• 細川 史生

  Jst-crest:日本電子

• 奥西 栄治

  日本電子

• 李 少淵

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 山本 直紀

  東工大院理工

• 安部 悠介

  東工大院理工

• 平山 博之

  東工大総理工

• 三宅 秀人

  三重大学大学院工学研究科

• 箕田 弘喜

  東京農工大工

• 橋本 豊

  東工大

• 三宅 秀人

  三重大工

• 小野 倫也

  阪大院工

• 細川 史夫

  JST-CREST

• 竹口 雅樹

  物質・材料研究機構

• 佐々木 健

  東京工業大学情報理工学研究科

• 朝山 匡一郎

  ルネサステクノロジ

• 谷城 康眞

  JST-CREST

• 高柳 邦夫

  JST-CREST

• 近藤 行人

  日本電子株式会社

• 柴田 晃秀

  理工

• 三宅 秀人

  三重大

• 三宅 秀人

  三重大学 工学部

• 谷城 康眞

  東京工業大学大学院理工学研究科物性物理学専攻

• 箕田 弘喜

  東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻

• 柴田 晃秀

  東京工業大学, 総理工

• 杉田 利男

  東京工業大学大学院総合理工学研究科

• 細川 史生

  日本電子(株)

• 竹下 茜

  東工大院総理工

• 日比野 紘大

  東工大院理工

• 久保田 忠弘

  本田技研

• 大島 義文

  東工大院総理工

• 中山 佳子

  Nims

• 竹口 雅樹

  Nims

• 竹口 雅樹

  物質・材料研究機構 超高圧電子顕微鏡ステーション

• 竹口 雅樹

  (独)物質・材料研究機構 ナノ計測センター

• 金 スヒョン

  東工大院理工

• 金 秀鉉

  東工大院理工

• 久留井 慶彦

  東工大院理工

• 安藤 雅文

  東工大院理工

• 近藤 行人

  日本電子(株)顕微鏡開発研究グループ

• 神保 雄

  東工大院理工

• 杉田 利男

  東京理科大学工学部・近代科学資料館

• 有本 明希子

  東京工業大学大学院理工学研究科材料物理科学専攻

• 細川 史生

  日本電子

• 高柳 邦夫

  東京工業大学理学部物理学科

• 近藤 行人

  創造科学プロジェクト「粒子表面」, 科学技術振興事業団

• 大西 秀朗

  創造科学プロジェクト「粒子表面」, 科学技術振興事業団

• 江成 めぐみ

  東工大院理工

• Huy Nguyen

  阪大院工

• 李 少淵

  東京工業大学物性物理学専攻

• 高柳 邦夫

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 木村 嘉伸

  東京工業大学総合理工学研究科

• 三宅 秀人

  三重大学

• 高柳 邦夫

  東工大院総合理工:JST-CREST

• 李 少〓

  東工大院総合理工

• 大島 義文

  JST-CREST:阪大電顕センター

• 田中 崇之

  東京工業大学

• 谷城 康眞

  東京工業大学

もっと見る 閉じる

著作論文

• 21pGP-9 宙づり単層及び二層グラフェンの長周期構造直接観察(21pGP グラフェン(成長と評価),領域7(分子性固体・有機導体))
• 21pPSA-16 ガス導入(O_2,N_2)によるAu/TiO_2の構造変化の観察(21pPSA 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 20aHT-5 収差補正STEMによる単原子観察とZコントラストイメージング(20aHT 領域10 格子欠陥・ナノ構造(水素,ナノ粒子,金属),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 23pGP-5 電子線非照射下のガス導入による金ナノ粒子/ルチルの構造変化の観察(23pGP ナノ構造・局所光学現象,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 26aYK-13 収差補正走査型透過電子顕微鏡法によるシリコン結晶中ヒ素ドーパントの検出(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 5a-Q-9 表面変性エピタクシー : 表面偏析の最適条件
• 25pWZ-3 Si結晶中Sbドーパント不活性クラスター構造(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 収差補正装置の現状と将来
• 感動と美しさ : 国際顕微鏡学会議へ向けて
• ティッピング・ポイント
• 表面
• 電子発見100年 : 過去・現在・未来 : 電子発見100年記念国際シンポジウム
• 第12回表面化学研究会の報告ダイヤモンド表面の負性電子親和力(NEA) : 次世代表示デバイスの可能性
• Step Structure(ICVGE-7(The Seventh International Conference on Vapour Growth and Epitaxy))
• 表面を探る : 2. 表面顕微鏡: 表面相: 顕微鏡法による表面再構成の観察 ( 表面)
• Si (111) 7×7 再配列構造
• 25pWZ-2 球面収差補正ADF-STEM像におけるZ-contrast(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 25pWZ-1 CuInSe_2結晶の欠陥のSTEM観察(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 25aWS-7 O_2導入によって形成されるAu/TiO_2界面のピラー構造のTEM観察(25aWS 表面界面構造(金属・酸化物),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 原子間力顕微鏡による液体ナノ接点に働く力の研究
• 25aWS-8 球面収差補正TEMによるアモルファスカーボン膜上での金単原子の動的観察(25aWS 表面界面構造(金属・酸化物),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 27p-ZG-3 表面再構成と変性エピタクシー
• STMと組み合わせた超高真空電子顕微鏡でみる深針-シリコン表面
• タングステン探針によってシリコン(111)表面に誘起される歪みの反射型電子顕微鏡観察
• REM-STMによるSTM探針・表面相互作用の研究
• 24aPS-37 Si結晶の高角度入射-STEM像の定量解析(24aPS 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 透過型電子顕微鏡による金ナノワイヤの電気伝導の研究
• ナノ現象の顕微研究
• Au ナノワイヤのコンダクタンス量子化
• 超イオン導電体AgIからの銀細線の成長と電気伝導
• 創立30周年記念特集号に寄せて
• 量子コンタクト
• 2.4 金属・半導体界面
• 環状明視野法によるリチウム原子の定量観察 (Li電池材料解析の最前線)
• 27pTN-14 球面収差補正ADF-STEMによるZコントラストイメージング(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27pTN-13 球面収差補正TEMによる非晶質炭素膜を移動する金原子の動的観察(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27pTN-12 LiV2O4結晶の環状明視野像におけるリチウムカラム強度解析(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 28aTH-1 カーボン原子にアシストされた金アトミックチェーンの生成(28aTH ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 21aJA-9 球面収差補正STEMによるZコントラストイメージング(21aJA X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 21aJA-10 環状明視野像メカニズムの解明(21aJA X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 超高分解能電子顕微鏡によるリチウム原子の可視化
• 収差補正ABF-STEM法によるLi原子の直接観察 (特集 TEMをもちいた電池のイメージング)
• 球面収差補正透過型電子顕微鏡法を用いたアトミックスケールでの構造解析
• 27pBL-8 表面プラズモンによるZnOナノワイヤーのルミネッセンス増強(27pBL 微粒子・ナノ結晶,顕微・近接場分光,領域5(光物性))
• 27aCL-4 薄膜試料における環状明視野像メカニズムの解明(27aCL X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 収差補正ABF-STEM法によるLi原子の直接観察
• 25aJB-9 イオン液体とマンガン酸リチウム界面におけるリチウムイオン移動と電極相変化(結晶成長,領域9(表面・界面,結晶成長))

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク