谷城 康眞 | 東工大院総合理工

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概要

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関連著者

• 谷城 康眞

  東工大院総合理工

• 高柳 邦夫

  東工大院理工

• 谷城 康眞

  東工大院理工

• 谷城 康眞

  東工大院理工:jst-crest

• 高柳 邦夫

  東工大理工

• 谷城 康眞

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 高柳 邦夫

  東京工業大学

• 高柳 邦夫

  東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻

• 高柳 邦夫

  東工大

• 高柳 邦夫

  東工大理

• 高柳 邦夫

  東工大総理工

• 高柳 邦夫

  東工大 総理工

• 高柳 邦夫

  東工大院総合理工

• 高柳 邦夫

  東京工業大学物性物理学専攻

• 沢田 英敏

  Jst-ceest:日本電子

• 大島 義文

  東工大総理工

• 澤田 英敬

  Jst-cresta:日本電子

• 赤堀 千明

  東工大院理工

• 近藤 行人

  Jst-crest:日本電子

• 沢田 英敬

  Jst-crest:日本電子

• 沢田 英敬

  東大工

• 沢田 英敬

  JST-CREST

• 小川 慶太

  東工大院理工

• 三輪 哲史

  東工大院理工

• 大島 義文

  東工大 総理工

• 伊藤 亮治

  東工大院理工

• 神保 雄

  東工大院理工

• 近藤 行人

  JST-CREST

• 服部 司

  東工大院理工:東工大理

• 奥西 栄治

  日本電子:jst-crest

• 寺口 聡

  東工大院理工

• 金 秀鉉

  東工大院理工

• 和田 麻友香

  東工大院理工

• 小柳 聖

  東工大院理工

• 田中 崇之

  東工大院理工:jst-crest

• 寺口 聡

  東工大院理工:東工大理

• 李 少淵

  東工大

• 李 少淵

  東工大院総合理工

• 大島 義文

  阪大電顕センター

• 田中 崇之

  東工大院理工

• 橋本 豊

  東工大

• 橋川 直人

  ルネサステクノロジ

• 大島 義文

  JST-CREST

• 澤田 英敬

  JST-CRESTA

• 沢田 英敬

  日本電子(株)

• 大島 義文

  東工大院総理工

• 柴田 沙希子

  東工大院総理工

• 朝山 匡一郎

  東工大院理工

• 奥西 栄治

  JST-CEEST

• 近藤 行人

  日本電子

• 澤田 英敬

  Jst-crest:日本電子

• 田中 崇之

  東工大院総理工:東工大院理工

• 田中 崇之

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 安部 悠介

  東工大院理工

• 大島 義文

  東京工業大学大学院総合理工学研究科

• 三宅 秀人

  三重大学大学院工学研究科

• 三宅 秀人

  三重大工

• 奥西 栄治

  日本電子(株)

• 谷城 康眞

  東京工業大学理学部物理

• 朝山 匡一郎

  ルネサステクノロジ

• 谷城 康眞

  JST-CREST

• 高柳 邦夫

  JST-CREST

• 小川 慶大

  東工大院理工

• 谷城 康眞

  独立行政法人科学技術振興機構・CREST

• 近藤 行人

  独立行政法人科学技術振興機構・CREST

• 高柳 邦夫

  独立行政法人科学技術振興機構・CREST

• 谷城 康眞

  東工大院

• 三宅 秀人

  三重大

• 三宅 秀人

  三重大学 工学部

• 谷城 康眞

  東京工業大学大学院理工学研究科物性物理学専攻

• 大橋 宣宏

  東工大理

• 三輪 菅史

  東工大院理工

• 赤堀 千明

  東工大理

• 竹下 茜

  東工大院総理工

• 日比野 紘大

  東工大院理工

• 久保田 忠弘

  本田技研

• 橋本 豊

  東工大院総合理工

• 金 スヒョン

  東工大院理工

• 橋川 直人

  日本電子

• 近藤 行人

  日本電子(株)顕微鏡開発研究グループ

• 大島 義文

  東京工業大学大学院理工学研究科物理学専攻

• 奥西 栄治

  日本電子

• 三宅 秀人

  三重大学

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著作論文

• 21pGP-9 宙づり単層及び二層グラフェンの長周期構造直接観察(21pGP グラフェン(成長と評価),領域7(分子性固体・有機導体))
• 20aHT-5 収差補正STEMによる単原子観察とZコントラストイメージング(20aHT 領域10 格子欠陥・ナノ構造(水素,ナノ粒子,金属),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 26aYK-13 収差補正走査型透過電子顕微鏡法によるシリコン結晶中ヒ素ドーパントの検出(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 20pYE-5 TEM-STMによるAgナノワイヤの構造観察および電気計測II(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 24pXC-6 TEM-STMを用いた銀ナノワイヤの構造とコンダクタンスの研究II(ナノワイヤ・ナノチューブ,領域9(表面・界面, 結晶成長))
• 15aPS-76 TEM-STM を用いた銀ナノワイヤの構造とコンダクタンスの研究(領域 9)
• 12aXG-10 TEM-STM による Ag ナノワイヤの構造観察および電気計測(ナノチューブ・ナノワイヤ, 領域 9)
• 21aYE-9 TEM-STM 内で成長させた銀ナノワイヤーの構造とコンダクタンス
• 国産球面収差補正電子顕微鏡R005の開発
• 25pWZ-3 Si結晶中Sbドーパント不活性クラスター構造(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 25pWZ-2 球面収差補正ADF-STEM像におけるZ-contrast(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 25pWZ-1 CuInSe_2結晶の欠陥のSTEM観察(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 21aTG-2 応力変化に伴う金ナノワイヤの構造変化(ナノチューブ・ナノワイヤー,表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 25aYC-3 応力印加に伴う金ナノワイヤの構造変化II(25aYC ナノチューブ・ナノワイヤ・結晶成長,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 30aPS-70 応力印加時の金ナノワイヤの変形・破断過程の構造観察(30aPS 領域9ポスターセッション(表面,界面,結晶成長),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 30pXJ-5 応力変化に伴う金ナノワイヤの構造変化(30pXJ ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 21aPS-79 Auナノワイヤの構造と機械的性質(領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 20pYE-6 TEM-AFMによる金ナノワイヤの力学特性と構造のその場同時観察(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 24pXC-5 TEM-AFMによるAuナノワイヤーの力計測と構造観察II(ナノワイヤ・ナノチューブ,領域9(表面・界面, 結晶成長))
• 28pYH-5 収差補正STEMによる単原子のZコントラストイメージング(微粒子・クラスター,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 27aTE-11 収差補正STEMによる軽元素の単原子観察(27aTE 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 25aWS-8 球面収差補正TEMによるアモルファスカーボン膜上での金単原子の動的観察(25aWS 表面界面構造(金属・酸化物),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 25pPSB-59 高感度CCD-TEM-STMによるナノワイヤ構造変化の動的観察(25pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 30aPS-71 TEM-STMを用いたAgナノワイヤの構造と電気伝導の研究(30aPS 領域9ポスターセッション(表面,界面,結晶成長),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 30pXJ-4 TEM-STMによるAgナノワイヤの構造観察および電気計測III(30pXJ ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 24pPSA-4 Energy-filtering TEMを用いた金EELSの膜厚依存(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
• ナノ現象の顕微研究
• 22pPSB-20 収差補正STEMによる単原子観察(22pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 26pPSB-46 球面収差補正STEMによる低温炭素膜上の金属ナノ粒子観察(領域9ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 26aTD-4 広領域観察可能なTEM-STM開発と半導体物性の研究(表面界面電子物性,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 20aPS-39 広域観察可能なTEM-STMの開発(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 25pPSB-26 広領域観察可能なTEM-STMの開発(25pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 12aXG-9 TEM-AFM による Au ナノワイヤの力計測と構造観察(ナノチューブ・ナノワイヤ, 領域 9)
• 30pWP-10 TEM-AFMによるAuナノワイヤーの構造観察および力計測II(ナノチューブ・ナノワイヤ)(領域9)
• 27pTN-14 球面収差補正ADF-STEMによるZコントラストイメージング(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27pTN-13 球面収差補正TEMによる非晶質炭素膜を移動する金原子の動的観察(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27pTN-12 LiV2O4結晶の環状明視野像におけるリチウムカラム強度解析(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 21aJA-9 球面収差補正STEMによるZコントラストイメージング(21aJA X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 21aJA-10 環状明視野像メカニズムの解明(21aJA X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 球面収差補正透過型電子顕微鏡法を用いたアトミックスケールでの構造解析
• 27aCL-4 薄膜試料における環状明視野像メカニズムの解明(27aCL X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

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