高柳 邦夫 | 東工大総理工
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
高柳 邦夫
東工大総理工
-
平山 博之
東工大総理工
-
大島 義文
東工大総理工
-
高柳 邦夫
東工大
-
高柳 邦夫
東工大理
-
高柳 邦夫
東工大 総理工
-
高柳 邦夫
東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻
-
高柳 邦夫
東工大理工
-
高柳 邦夫
東工大院総合理工
-
高柳 邦夫
東京工業大学
-
高柳 邦夫
東京工業大学物性物理学専攻
-
高柳 邦夫
東工大院理工
-
大島 義文
東工大 総理工
-
谷城 康眞
東工大院総合理工
-
谷城 康眞
東京工業大学大学院理工学研究科
-
谷城 康眞
東工大院理工
-
近藤 行人
Jst-crest:日本電子
-
澤田 英敬
Jst-cresta:日本電子
-
木村 嘉伸
東工大総理工
-
沢田 英敏
Jst-ceest:日本電子
-
谷城 康眞
東工大院理工:jst-crest
-
柴田 晃秀
理工
-
李 少淵
東工大
-
沢田 英敬
Jst-crest:日本電子
-
沢田 英敬
東大工
-
近藤 行人
JST-CREST
-
樋山 拓己
東工大総理工
-
柴田 晃秀
東工大総理工
-
樋山 拓巳
東工大 総理工
-
近藤 行人
日本電子
-
大島 義文
阪大電顕センター
-
沢田 英敬
JST-CREST
-
谷城 康眞
東工大理
-
小泉 弘明
東工大総理工
-
大島 義文
JST-CREST
-
内藤 賀公
東工大総理工
-
内藤 賀公
東京工業大学大学院総合理工学研究科
-
川田 隆弘
東工大総理工
-
和田 麻友香
東工大院理工
-
田中 崇之
東工大院理工:jst-crest
-
大島 義文
大阪大学超高圧電子顕微鏡センター
-
李 少淵
東工大院総合理工
-
田中 崇之
東工大院総理工:東工大院理工
-
田中 崇之
東京工業大学大学院理工学研究科
-
田中 崇之
東工大院理工
-
近藤 行人
日本電子株式会社電子光学機器本部
-
毛利 啓之介
東工大総理工
-
恩賀 明子
東工大総理工
-
水野 悠
東工大総理工
-
山口 直
東工大総理工
-
橋川 直人
ルネサステクノロジ
-
澤田 英敬
JST-CRESTA
-
清水 良浩
東工大院理工
-
谷城 康眞
東工大院
-
沢田 英敬
日本電子(株)
-
堀江 亮子
東工大総理工
-
志甫 康仁
東工大 総理工
-
小溝 剛弘
東工大理工
-
谷口 英広
東工大総理工
-
橋川 直人
日本電子
-
朝山 匡一郎
東工大院理工
-
小柳 聖
東工大院理工
-
三留 正則
東工大総理工
-
富取 正彦
北陸先端大 材料科学研
-
富取 正彦
北陸先端大
-
志甫 康仁
東工大総理工
-
清水 良浩
東工大総理工
-
近藤 行人
科技団
-
澤田 英敬
Jst-crest:日本電子
-
新宮 謙介
東工大総理工
-
李 少淵
東京工業大学大学院理工学研究科
-
山本 直紀
東工大院理工
-
横山 崇
横浜市大国際総合科学
-
久留井 慶彦
東京工業大学大学院理工学研究科
-
三宅 秀人
三重大学大学院工学研究科
-
三宅 秀人
三重大工
-
富取 正彦
北陸先端大材料
-
奥西 栄治
日本電子(株)
-
小野 倫也
阪大院工
-
炭屋 亜美
東工大院総合理工
-
佐野 健太郎
東工大院理工
-
竹口 雅樹
物質・材料研究機構
-
川本 泰
東工大総理工
-
三井 正
東工大理
-
三宅 秀人
三重大
-
三宅 秀人
三重大学 工学部
-
新垣 均
東工大 総理工
-
新澤 雄彦
東工大総理工
-
柴田 晃秀
東工大理
-
新垣 均
東工大総理工
-
三井 正
東工大総理工
-
奥西 栄治
日本電子:jst-crest
-
中山 博之
東工大総理工
-
坂本 浩隆
東工大・理
-
坂本 浩隆
東工大理
-
岩成 俊一
東工大総理工
-
竹下 茜
東工大院総理工
-
日比野 紘大
東工大院理工
-
久保田 忠弘
本田技研
-
大島 義文
東工大院総理工
-
中山 佳子
Nims
-
竹口 雅樹
Nims
-
竹口 雅樹
物質・材料研究機構 超高圧電子顕微鏡ステーション
-
竹口 雅樹
(独)物質・材料研究機構 ナノ計測センター
-
高島 章
東工大・総理工
-
宮里 美季江
東工大総理工
-
山下 淳一
東工大総理工
-
壱岐 拓則
東工大総理工
-
金 スヒョン
東工大院理工
-
金 秀鉉
東工大院理工
-
久留井 慶彦
東工大院理工
-
神保 雄
東工大院理工
-
菅田 慶一
東工大総理工
-
斉藤 康誌
東工大理工
-
横山 崇
金材研
-
小野澤 高史
東工大理工
-
小泉 弘明
東工大理
-
高島 章
東工大総理工
-
江成 めぐみ
東工大院理工
-
Huy Nguyen
阪大院工
-
中出 浩之
東工大総理工
-
南郷 智子
東工大総理工
-
奥西 栄治
日本電子
-
李 少淵
東京工業大学物性物理学専攻
-
高柳 邦夫
東京工業大学大学院理工学研究科
-
三宅 秀人
三重大学
-
室岡 賢一
東工大理
-
高柳 邦夫
東工大院総合理工:JST-CREST
-
李 少〓
東工大院総合理工
-
大島 義文
JST-CREST:阪大電顕センター
-
吉田 亮
東工大総理工
-
田中 崇之
東京工業大学
-
谷城 康眞
東京工業大学
著作論文
- 20aHT-5 収差補正STEMによる単原子観察とZコントラストイメージング(20aHT 領域10 格子欠陥・ナノ構造(水素,ナノ粒子,金属),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 31aZF-2 UHV-TEM 法による Au ナノコンタクト構造に依存した電気伝導度の観察
- 20aWD-5 PtナノチューブのUHV-TEM観察
- 20aWD-4 150KでのAuナノワイヤと原子鎖のUHV-TEM観察
- 19pPSB-30 Ge/Si(001)表面上Siエピタキシャル成長のSTM観察
- 19aRH-7 Ag/Si(111)ショットキー障壁
- 28a-S-4 原子間隙ティップ-表面相互作用 : TEM-STMによるティップ先端の観察
- 28p-WB-8 Si(111)7x7 表面の再構築過程の高温"その場"STM観察
- 15a-DH-10 Sn吸着によるSi(111)7×7表面の再構築過程の高温STM観察
- 13a-PS-44 ショットキー障壁高の超高真空中"その場"計測
- 30p-BPS-9 Si(111)5×2-Au相のSTM-RHEED観察
- 30a-ZD-8 Si7×7表面に成長する?×?-Au相のSTM-RHEED観察
- 25pWZ-3 Si結晶中Sbドーパント不活性クラスター構造(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
- 25pWZ-2 球面収差補正ADF-STEM像におけるZ-contrast(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
- 25pWZ-1 CuInSe_2結晶の欠陥のSTEM観察(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
- 25aWS-7 O_2導入によって形成されるAu/TiO_2界面のピラー構造のTEM観察(25aWS 表面界面構造(金属・酸化物),領域9(表面・界面,結晶成長))
- 25aWS-8 球面収差補正TEMによるアモルファスカーボン膜上での金単原子の動的観察(25aWS 表面界面構造(金属・酸化物),領域9(表面・界面,結晶成長))
- 15a-DH-11 Si(100)2×1表面上のSn吸着相II : STMによる観察
- 30a-ZD-10 Si(100)-Snの整合・不整合相
- 30a-ZD-1 Si(111)7×7表面に吸着したAgの?×?構造
- 29p-BPS-53 金属・半導体界面層の高分解能REM観察 : Ag/Si(100)
- 23aW-3 デュアル探針を用いた電子コンタクトの直列接続
- 30aYQ-2 Si(111)7x7及び√√-Ag表面SHG郷土の励起光波長依存性
- 22aWA-4 Si(111)√√表面SHG強度の励起光波長依存性
- 23aT-5 Si(111)-3×1-Ag表面上のAgナノislandの自己組織的成長
- 22pW-5 Ag/Si(111)表面から発生するSHG光の位相測定
- 27aW-3 光第2高調波発生(SHG)によるAg/Si(111)界面形成モニタリング
- 24aY-7 Ag原子点欠陥導入によるSi(111)-√×√-Ag表面上のAgナノクラスター形成過程の制御
- 30p-Q-8 融解金属(In, Pb)の量子化コンダクタンス
- 23aW-1 STM探針とSi(111)表面との原子間力相互作用のREM-STM観察
- 2p-YD-11 REM-STMによるSTM探針先端とSi(111)7×7表面のその場観察
- 23aW-4 安定構造をもつPbナノヤイヤーのコンダクタンスの計測
- 24aPS-37 Si結晶の高角度入射-STEM像の定量解析(24aPS 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 4p-B4-7 金属超微粒子の構造不安定性
- 22pT-7 UHV-TEM法におけるAl/Si(001)に現れるクラスター秩序配列の構造解析
- 13a-PS-24 表面変性エピタクシー : Surfactantを用いたSi(111)表面のヘテロエピタクシー
- 13a-PS-8 Si(111)7×7表面に吸着したCuの非整合構造
- 29a-T-4 超高真空中で生成されたCr超微粒子のHRTEM観察
- 23aW-2 金原子鎖の電子顕微鏡像シミュレーションによる検討
- 30p-Q-3 UHV-TEM法によるPtナノワイヤーの形成過程の観察
- 環状明視野法によるリチウム原子の定量観察 (Li電池材料解析の最前線)
- ArイオンスパッタしたSi(111)表面のSTM観察
- 3p-Q-7 電界放射探針評価型STM/STSによる表面分析
- 27pTN-14 球面収差補正ADF-STEMによるZコントラストイメージング(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 27pTN-13 球面収差補正TEMによる非晶質炭素膜を移動する金原子の動的観察(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 27pTN-12 LiV2O4結晶の環状明視野像におけるリチウムカラム強度解析(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 28aTH-1 カーボン原子にアシストされた金アトミックチェーンの生成(28aTH ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 29a-PS-60 Auナノワイヤーの高分解能電子線ホログラフィー観察2
- 25p-YM-11 Auナノワイヤーの高分解能電子線ホログラフィー観察
- 22pT-3 Si(001)面上におけるGe吸着構造のTEM/TED印観察 II
- 25aTA-6 融解Pb量子接点のフラクショナルコンダクタンス
- 19aWD-10 ナノ粒子の結晶対称性上昇と臨界サイズ
- 18aWD-7 Si(111)√x√-Ag表面とAg薄膜のC-ICストライプ界面
- 24pW-11 UHV-TEM法によるIndiumナノ粒子安定構造の研究
- 21aJA-9 球面収差補正STEMによるZコントラストイメージング(21aJA X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 21aJA-10 環状明視野像メカニズムの解明(21aJA X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 1p-YE-2 STMトンネルギャップで形成される単層カーボンナノチューブのTEM観察とコンダクタンス測定
- 超高分解能電子顕微鏡によるリチウム原子の可視化
- 球面収差補正透過型電子顕微鏡法を用いたアトミックスケールでの構造解析
- 27pBL-8 表面プラズモンによるZnOナノワイヤーのルミネッセンス増強(27pBL 微粒子・ナノ結晶,顕微・近接場分光,領域5(光物性))
- 27aCL-4 薄膜試料における環状明視野像メカニズムの解明(27aCL X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 収差補正ABF-STEM法によるLi原子の直接観察
- タイトル無し
- 25aJB-9 イオン液体とマンガン酸リチウム界面におけるリチウムイオン移動と電極相変化(結晶成長,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 25pPSB-58 金ナノチューブのUHV-TEM低温観察(25pPSB 表面界面・結晶成長,領域9(表面・界面,結晶成長分野))
- 25pPSB-28 Ge/Si(001)表面の欠陥列とダイマー構造の関係(25pPSB 表面界面・結晶成長,領域9(表面・界面,結晶成長分野))
- 28a-TJ-2 高分解能反射電子顕微鏡によるSi(111)-7×7表面構造の観察(28aTJ 表面・界面)
- 28p-TG-8 Pb超微粒子の融解 : 高分解能・超高真空電子顕微鏡による"その場"観察(28pTG 表面・界面(超微粒子))
- 25pPSB-5 Si(111)7×7,√×√-Ag,1×1-Agのバリアハイトイメージング(25pPSB 表面界面・結晶成長,領域9(表面・界面,結晶成長分野))