竹口 雅樹 | 物質・材料研究機構 超高圧電子顕微鏡ステーション

スポンサーリンク

概要

• 同名の論文著者
• 物質・材料研究機構 超高圧電子顕微鏡ステーションの論文著者

関連著者

• 竹口 雅樹

  物質・材料研究機構

• 竹口 雅樹

  Nims

• 竹口 雅樹

  物質・材料研究機構 超高圧電子顕微鏡ステーション

• 竹口 雅樹

  (独)物質・材料研究機構 ナノ計測センター

• 谷城 康眞

  東工大院理工

• 谷城 康眞

  東工大院

• 八木 克道

  東工大・理工学研究科

• 鈴木 孝将

  物性研

• 岡本 公人

  日本電子

• 竹口 雅樹

  金材研

• 野中 聡

  旭川医科大学耳鼻咽喉科・頭頸部外科学講座

• 野中 誠

  昭和大学藤が丘病院呼吸器外科

• 高柳 邦夫

  東工大院理工

• 松井 良夫

  物材機構

• 長井 拓郎

  物質・材料研究機構

• 木本 浩司

  物質・材料研究機構

• 松井 良夫

  物質・材料研究機構

• 松井 良夫

  編集委員会

• 松井 良夫

  物材機構物質研

• 木本 浩司

  物材機構

• 木本 浩司

  日立

• 木本 浩司

  (株)日立製作所日立研究所研究員

• 木本 浩司

  日立 日立研

• 近藤 行人

  JST-CREST

• 高柳 邦夫

  東工大理

• 出口 俊二

  日本電子株式会社電子光学機器本部

• 大島 義文

  東工大総理工

• 高柳 邦夫

  東工大総理工

• 青木 敏洋

  アリゾナ州立大学

• SMITH David

  アリゾナ州立大学固体科学センター&物理学科

• 高柳 邦夫

  東工大 総理工

• 箕田 弘喜

  東工大院理工

• 八木 克道

  東工大院理工

• 石黒 菜美

  東工大理

• 橋川 直人

  ルネサステクノロジ

• 大島 義文

  JST-CREST

• 澤田 英敬

  JST-CRESTA

• 木本 浩司

  物質・材料研究機構 ナノ計測センター 先端電子顕微鏡グループ

• 近藤 行人

  Jst-crest:日本電子

• 谷城 康眞

  東工大院理工:jst-crest

• 成瀬 幹夫

  日本電子

• 高柳 邦夫

  東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻

• 高柳 邦夫

  東京工業大学

• 沢田 英敬

  Jst-crest:日本電子

• 沢田 英敬

  東大工

• 澤田 英敬

  Jst-cresta:日本電子

• 成瀬 幹夫

  日本電子(株)

• 松井 良夫

  NIRIM

• 木本 浩司

  名古屋大学大学院工学研究科応用物理学専攻

• 木本 浩司

  物質・材料研究機構 ナノ計測センター

• 木本 浩司

  株式会社日立製作所日立研究所

• Smith David

  アリゾナ州立大学

• 松井 良夫

  科学技術庁・無機材質研究所

• 松井 良夫

  NIMS

• 青木 敏洋

  アリゾナ州立大学固体科学センター

• 中山 佳子

  Nims

• 谷城 眞城

  東工大院理工

• 鈴木 孝将

  東工大院理工

• 石黒 菜美

  東工大院理工

• 岡本 公治

  日本電子

• 河西 亨

  日本電子

• 守谷 幸二

  日本電子

• 川添 宗之

  日本電子

• 谷城 康眞

  東工大・物理

• 箕田 弘喜

  東工大・物理

• 鈴木 孝将

  東工大・物理

• 八木 克道

  東工大・物理

• 沢田 英敏

  Jst-ceest:日本電子

• 高柳 邦夫

  東工大

• 高柳 邦夫

  東工大理工

• 大島 義文

  東工大 総理工

• 出口 俊二

  日本電子

• 橋川 直人

  日本電子

• 朝山 匡一郎

  東工大院理工

• 金 秀鉉

  東工大院理工

• 松井 良夫

  物質・材料研究機構 物質研究所

• 澤田 英敬

  Jst-crest:日本電子

• Smith David

  アリゾナ州立大学固体科学センター&物理学科

• 高柳 邦夫

  東工大院総合理工

• 高柳 邦夫

  東京工業大学物性物理学専攻

• 竹口 雅樹

  (独)物質・材料研究機構

もっと見る 閉じる

著作論文

• Cu-Fe-Ni合金の時効過程における析出粒子の構造変化
• HgTe/(Hg)CdTe超格子中のループ欠陥の断面TEM/STEM観察
• コラーゲンの基本構造 (特集 コラーゲン・テクノロジーの新展開--安心・安全なうろこコラーゲンの基礎から応用まで)
• ローレンツTEM法による強磁性ナノワイヤの磁化分布解析
• 24aY-6 電界放出型エネルギーフィルター電子顕微鏡の開発と表面研究への応用 I
• Ω型エネルギーフィルターを内臓した超高真空電子顕微鏡の開発
• 24aPS-37 Si結晶の高角度入射-STEM像の定量解析(24aPS 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 先端透過型電子顕微鏡法を用いたIII族窒化物半導体ヘテロ界面評価
• ASU滞在記
• Cu75-Fe5-Ni20合金における時効組織と磁気的特性の関係
• Ni添加によるCu-Co系合金の組織と磁気特性への影響
• Nanofabrication of Si and its related materials with an electron beam (日本電子顕微鏡学会第46回シンポジウム 材料のナノ・生物のナノ) -- (材料系セッション3 TEMとナノファブリケーション)

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク