先端透過型電子顕微鏡法を用いたIII族窒化物半導体ヘテロ界面評価
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概要
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- 2008-12-01
著者
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竹口 雅樹
物質・材料研究機構
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竹口 雅樹
Nims
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竹口 雅樹
物質・材料研究機構 超高圧電子顕微鏡ステーション
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竹口 雅樹
(独)物質・材料研究機構 ナノ計測センター
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竹口 雅樹
(独)物質・材料研究機構
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