18aWD-6 UHV-TEMによるPd蒸着Si(111)表面の観察
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 2001-09-03
著者
-
古屋 一夫
物材機構
-
古屋 一夫
物質・材料研究機構
-
竹口 雅樹
物質・材料研究機構
-
竹口 雅樹
物材機構
-
田中 美代子
物質・材料研究機構量子ドットセンター
-
竹口 雅樹
物材機構ナノマテ研
-
田中 美代子
物材機構ナノマテ研
-
Liu Junliang
物材機構ナノマテ研
-
古屋 一夫
物材機構ナノマテ研
関連論文
- Cu-Fe-Ni合金の時効過程における析出粒子の構造変化
- 603 SPS による SiC 焼結体への粒子径の影響
- 27aYJ-13 Polycrystalline In_2O_3-ZnO薄膜のEELS観察と輸送特性(27aYJ 超伝導・密度波,領域6(金属,超低温,超伝導・密度波))
- 20aYE-13 InO-ZnO膜の微細構造と輸送特性(20aYE 電荷密度波・超伝導,領域6(金属,超低温,超伝導・密度波))
- 特集「顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(9)」 : -先端顕微鏡法開発がもたらす材料科学の新たな展開-企画にあたって
- HgTe/(Hg)CdTe超格子中のループ欠陥の断面TEM/STEM観察
- 27pRE-6 シミュレーションによる共焦点STEM像への熱散漫散乱の影響の評価(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 24aTH-10 金属超薄膜およびナノ細線の超伝導特性(超伝導,領域6,金属,超低温,超伝導・密度波)
- 電子線誘起蒸着法研究
- 収束電子線を利用したナノ構造作製法の開発--白金ナノ構造物の作製
- 電子線照射効果を用いたナノ構造作製
- 電子線誘起蒸着(EBID)による磁性ナノ構造創製
- 電子線誘起蒸着法によるナノ構造物作製とその評価
- 電子線誘起蒸着によるナノ構造の直接描画
- 収束電子線を用いたナノ構造作製
- 電子線誘起蒸着法によるナノ立体構造作製とその組織
- 電子線誘起蒸着によるナノ構造作製
- 22aYC-10 STEM を用いた電子励起蒸着によるナノ構造作成
- 28pZF-6 電子線による金属ナノ粒子構造作製と評価
- コラーゲンの基本構造 (特集 コラーゲン・テクノロジーの新展開--安心・安全なうろこコラーゲンの基礎から応用まで)
- アルミニウム結晶中に析出したキセノン原子クラスターの結晶構造解析
- ディフォーカスレーザ溶接による鋼/アルミニウム合金重ね合わせ接合材の界面組織の成長挙動
- ローレンツTEM法による強磁性ナノワイヤの磁化分布解析
- 23pTC-5 高分解能共焦点STEM像の結像理論とその可能性(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 25pYS-5 Kr-doped Geの再結晶化領域の構造観察(X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
- 25pWZ-4 2次元検出器を用いた共焦点電子顕微鏡法(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
- 水素イオン注入によるウスタイト還元の電顕観察
- Cs補正HAADF-STEMによるAlGaAs中のGaAs量子リングの観察
- 分析透過電子顕微鏡法によるAl中Xe析出物の構造変化の解析
- 28pXE-10 UHV-TEMによるSiナノ粒子表面構造の観察
- 22aYH-1 弾性波を取り込んだHAADF-STEM像の新しい計算手法
- 25aWB-4 UHV-TEM/STMによるSi(111)上Pdシリサイドの観察
- 23pTA-8 UHV-TEM/REMによるPd_2Siアイランド形成その場観察
- 固体炭素による酸化鉄還元TEM内その場観察(高温プロセス基盤技術)
- TEM-EDXと電子回折図形による鉄/アルミニウム合金レーザ接合材の界面組織解析
- 先端的透過電子顕微鏡法によるSm-Co系永久磁石の微細組織と磁区構造評価
- 超高真空電界放射型電子顕微鏡 (UHV-FE-TEM) ・ 走査トンネル顕微鏡 (UHV-STM) 複合システム
- V. デバイス, デバイス材料 集束イオンビームによる半導体微細加工のその場観察
- 文部科学省および物質・材料研究機構におけるナノテクノロジー関連プログラム
- SEM/STEMにおける波長分散型X線分光分析とマッピング
- 電子線誘起蒸着法による W-nanodendrite 構造作製と電子線加速電圧の効果
- イオン注入によるウスタイト還元への添加元素の影響のTEM解析
- カルシウム含有ウスタイトへの水素イオン注入効果
- 独立行政法人「物質・材料研究機構」 (日本の研究所の現状と未来(1)国立材料研究機関はどう変わろうとしているのか)
- 組織委員会活動報告 総務・広報委員会 (第16回国際顕微鏡学会議(IMC16)報告集)
- 第16回国際顕微鏡学会議(IMC16)の記録 (第16回国際顕微鏡学会議(IMC16)報告集)
- 24aY-6 電界放出型エネルギーフィルター電子顕微鏡の開発と表面研究への応用 I
- Ω型エネルギーフィルターを内臓した超高真空電子顕微鏡の開発
- 窒化ホウ素表面偏析の透過型電子顕微鏡による構造変化の観察
- 24aPS-37 Si結晶の高角度入射-STEM像の定量解析(24aPS 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 先端透過型電子顕微鏡法を用いたIII族窒化物半導体ヘテロ界面評価
- ASU滞在記
- 18aWD-8 Si上直接遷移型シリサイドアイランドの構造と特性
- 走査型共焦点電子顕微鏡法の開発
- パルスレーザーアベレーションによって作製したTi_Si_膜の準安定相
- 高速電子線照射によるウスタイトの構造変化
- ウスタイト還元に対するカルシウム添加効果の電顕観察
- UHV中で生成しHRTEM観察したMo, InとPb多重双晶粒子の構造
- 18aWD-6 UHV-TEMによるPd蒸着Si(111)表面の観察
- Cu75-Fe5-Ni20合金における時効組織と磁気的特性の関係
- Al中のXe微結晶原子のHAADF-STEM及びHRTEMによる観察
- Ni添加によるCu-Co系合金の組織と磁気特性への影響
- ステンレス鋼表面に析出したh-BN膜の高分解能観察
- UHV-TEM/STMで観察したSi(111)再構成表面
- Si清浄表面上へのPd蒸着過程のUHV-FE-TEMその場観察
- Si上金属再構成-ナノ粒子のUHV-TEM観察
- Si(113)3x2再構成表面構造の断面HRTEM観察
- 24pW-10 超高真空電子顕微鏡による金属ナノ粒子の形態観察
- 22aT-10 Si(113)再構成表面の断面的構造のHRTEM観察
- マルチスライス法による HAADF-STEM 像の計算
- Nanofabrication of Si and its related materials with an electron beam (日本電子顕微鏡学会第46回シンポジウム 材料のナノ・生物のナノ) -- (材料系セッション3 TEMとナノファブリケーション)
- パルス通電焼結によるSiC焼結体に及ぼす粒子径の影響
- 電子線励起SiO_2分解によって形成された結晶性Siナノ構造
- 電子線励起SiO_2還元によって創製されたSi清浄ナノ粒子のTEM観察
- 電子線励起SiO_2還元によるSiナノ結晶ドット配列の創製
- 8aSM-3 Si(111)上Mn・Feシリサイドアイランドのin-situ評価(表面界面構造・電子物性,領域9)
- 27pYF-2 Si上Mn・Feシリサイドの構造と特性(27pYF 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長分野))
- 7aSL-8 HAADF-STEMによるAu薄膜の原子数マッピング((電子線),X線・粒子線,領域10)
- 25pYF-5 Si(111)r3xr3-Pd表面構造のHRTEM観察(25pYF 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長分野))
- 26pWD-7 二相析出微粒子の組成と析出形態物質・材料研究機構(26pWD クラスター・表面ナノ構造,領域9(表面・界面,結晶成長分野))