超高真空電界放射型電子顕微鏡 (UHV-FE-TEM) ・ 走査トンネル顕微鏡 (UHV-STM) 複合システム

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概要

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• 日本電子顕微鏡学会の論文
• 2001-03-31

著者

• 古屋 一夫

  物材機構

• 古屋 一夫

  物質・材料研究機構

• 古屋 一夫

  金属材料技術研究所筑波支所

• 古屋 一夫

  金属材料技術研究所

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