25aWB-4 UHV-TEM/STMによるSi(111)上Pdシリサイドの観察
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 2000-09-10
著者
-
保田 英洋
金属材料技術研究所精密励起場ステーション
-
竹口 雅樹
物材機構
-
古屋 一夫
金属材料技術研究所筑波支所
-
竹口 雅樹
金属材料技術研究所
-
田中 美代子
金属材料技術研究所
-
古屋 一夫
金属材料技術研究所
-
田中 美代子
物質・材料研究機構量子ドットセンター
-
保田 英洋
金属材料技術研究所
関連論文
- 特集「顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(9)」 : -先端顕微鏡法開発がもたらす材料科学の新たな展開-企画にあたって
- 27pRE-6 シミュレーションによる共焦点STEM像への熱散漫散乱の影響の評価(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 電子線誘起蒸着法研究
- 収束電子線を利用したナノ構造作製法の開発--白金ナノ構造物の作製
- 電子線照射効果を用いたナノ構造作製
- 電子線誘起蒸着(EBID)による磁性ナノ構造創製
- 電子線誘起蒸着法によるナノ構造物作製とその評価
- 収束電子線を用いたナノ構造作製
- 電子線誘起蒸着法によるナノ立体構造作製とその組織
- 電子線誘起蒸着によるナノ構造作製
- 22aYC-10 STEM を用いた電子励起蒸着によるナノ構造作成
- 28pZF-6 電子線による金属ナノ粒子構造作製と評価
- Ni-15Cr-25W 合金の高温ガス炉近似ヘリウム中における低サイクル疲労挙動におよぼす長時間時効の効果
- 23pTC-5 高分解能共焦点STEM像の結像理論とその可能性(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 25pWZ-4 2次元検出器を用いた共焦点電子顕微鏡法(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
- 希ガスイオン照射したγ-TiAlの照射誘起結晶構造変化
- Xeイオン注入したγ-TiAl合金における照射誘起相変態
- Cs補正HAADF-STEMによるAlGaAs中のGaAs量子リングの観察
- 分析透過電子顕微鏡法によるAl中Xe析出物の構造変化の解析
- 28pXE-10 UHV-TEMによるSiナノ粒子表面構造の観察
- 22aYH-1 弾性波を取り込んだHAADF-STEM像の新しい計算手法
- 25aWB-4 UHV-TEM/STMによるSi(111)上Pdシリサイドの観察
- 23pTA-8 UHV-TEM/REMによるPd_2Siアイランド形成その場観察
- MeV電子照射によって不規則化したGaAsの構造解析
- Al薄膜リフロー過程の電顕内その場観察
- 合金ナノ粒子において出現するアモルファス的微細組織
- III-V族化合物半導体ナノ粒子における構造安定性
- 先端的透過電子顕微鏡法によるSm-Co系永久磁石の微細組織と磁区構造評価
- 超高真空電界放射型電子顕微鏡 (UHV-FE-TEM) ・ 走査トンネル顕微鏡 (UHV-STM) 複合システム
- V. デバイス, デバイス材料 集束イオンビームによる半導体微細加工のその場観察
- 多孔質シリコン層中の化学結合に及ぼす室温エージングの影響
- EDSを備えたその場観察用分析型高分解能超高圧電子顕微鏡
- Ni-Cr-W 合金の低サイクル疲労挙動におよぼす高温ガス炉近似ヘリウムの影響
- 700 Ni-Cr-W 合金の高温ガス炉近似環境中における高温低サイクル疲労挙動に及ぼす長時間時効の効果(高温疲れ・疲れ, 材料, 日本鉄鋼協会 第 105 回(春季)講演大会)
- 699 Ni-Cr-W 合金の高温低サイクル疲労挙動に及ぼす高温ガス炉近似ヘリウム環境の効果(高温疲れ・疲れ, 材料, 日本鉄鋼協会 第 105 回(春季)講演大会)
- 低サイクル疲労特性からみた第1壁候補材料の比較 (第5回核融合炉材料研究会報告)
- SUS316ステンレス鋼の真空中高温低サイクル疲労
- 430 高真空下における SUS316 鋼の高温低サイクル疲れ特性とひずみ速度効果(耐熱鋼・耐熱合金, 性質, 日本鉄鋼協会第 94 回(秋季)講演大会)
- SEM/STEMにおける波長分散型X線分光分析とマッピング
- 「第 2 回核融合炉材料国際会議」印象記
- イオン照射による原子配列変化の直接観察
- 窒化ホウ素表面偏析の透過型電子顕微鏡による構造変化の観察
- 18aWD-8 Si上直接遷移型シリサイドアイランドの構造と特性
- 走査型共焦点電子顕微鏡法の開発
- Alにイオン注入で生成した希ガス析出物のHRTEM観察と成長プロセスの解析
- イオン照射に誘起されたステンレス鋼のマルテンサイト変態のHRETMによる解析
- 24aPS-68 Al中のXe析出物への異種希ガスイオン照射
- Alにイオン注入で生成したXe析出物のEnergy-Filtered ImagingとEELSによる解析
- HRTEMと両立する超高圧電子顕微鏡用二重イオン注入システムの開発
- UHV中で生成しHRTEM観察したMo, InとPb多重双晶粒子の構造
- 18aWD-6 UHV-TEMによるPd蒸着Si(111)表面の観察
- サマリー・アブストラクト
- Al中のXe微結晶原子のHAADF-STEM及びHRTEMによる観察
- ステンレス鋼表面に析出したh-BN膜の高分解能観察
- UHV-TEM/STMで観察したSi(111)再構成表面
- Si清浄表面上へのPd蒸着過程のUHV-FE-TEMその場観察
- Si上金属再構成-ナノ粒子のUHV-TEM観察
- Si(113)3x2再構成表面構造の断面HRTEM観察
- 24pW-10 超高真空電子顕微鏡による金属ナノ粒子の形態観察
- 22aT-10 Si(113)再構成表面の断面的構造のHRTEM観察
- マルチスライス法による HAADF-STEM 像の計算
- 電子線励起SiO_2分解によって形成された結晶性Siナノ構造
- 電子線励起SiO_2還元によって創製されたSi清浄ナノ粒子のTEM観察
- 電子線励起SiO_2還元によるSiナノ結晶ドット配列の創製
- 7aSL-8 HAADF-STEMによるAu薄膜の原子数マッピング((電子線),X線・粒子線,領域10)