橋川 直人 | ルネサステクノロジ

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概要

• 同名の論文著者
• ルネサステクノロジの論文著者

関連著者

• 橋川 直人

  ルネサステクノロジ

• 朝山 匡一郎

  東工大院理工

• 高柳 邦夫

  東工大院理工

• 近藤 行人

  JST-CREST

• 大島 義文

  東工大総理工

• 大島 義文

  JST-CREST

• 澤田 英敬

  JST-CRESTA

• 近藤 行人

  Jst-crest:日本電子

• 谷城 康眞

  東工大院理工:jst-crest

• 高柳 邦夫

  東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻

• 高柳 邦夫

  東京工業大学

• 澤田 英敬

  Jst-cresta:日本電子

• 沢田 英敏

  Jst-ceest:日本電子

• 高柳 邦夫

  東工大

• 高柳 邦夫

  東工大理工

• 大島 義文

  東工大 総理工

• 澤田 英敬

  Jst-crest:日本電子

• 谷城 康眞

  東工大院理工

• 高柳 邦夫

  東工大理

• 高柳 邦夫

  東工大総理工

• 高柳 邦夫

  東工大 総理工

• 沢田 英敬

  Jst-crest:日本電子

• 沢田 英敬

  東大工

• 橋川 直人

  日本電子

• 谷城 康眞

  東工大院総合理工

• 高柳 邦夫

  東工大院総合理工

• 高柳 邦夫

  東京工業大学物性物理学専攻

• 谷城 康眞

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 橋本 巌

  東理大理

• 橋本 豊

  東工大

• 矢野 史子

  (株)ルネサステクノロジ 解析技術開発部

• 竹口 雅樹

  物質・材料研究機構

• 渡辺 和人

  都立高専

• 菊地 吉男

  MIRAIプロジェクト

• 菊地 吉男

  富士通研

• 橋川 直人

  東理大

• 朝山 匡一郎

  ルネサステクノロジ

• 谷城 康眞

  JST-CREST

• 高柳 邦夫

  JST-CREST

• 大島 義文

  富士通

• 菊地 吉男

  富士通(株)

• 谷城 康眞

  東工大院

• 橋本 巌

  東理大 理

• 中山 佳子

  Nims

• 竹口 雅樹

  Nims

• 竹口 雅樹

  物質・材料研究機構 超高圧電子顕微鏡ステーション

• 竹口 雅樹

  (独)物質・材料研究機構 ナノ計測センター

• 金 スヒョン

  東工大院理工

• 金 秀鉉

  東工大院理工

• 橋本 巌

  東理大

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著作論文

• 26aYK-13 収差補正走査型透過電子顕微鏡法によるシリコン結晶中ヒ素ドーパントの検出(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 分析用半導体試料作製法 (試料作製の新展開)
• 低加速ArイオンによるFIB加工ダメージ除去技術 (試料作成法の新展開)
• 位置分解型TEM-EELSによる半導体界面の解析 (先端材料への新展開)
• 28p-B-5 収束電子線回折像におよぼす不純物原子の効果
• 25pWZ-3 Si結晶中Sbドーパント不活性クラスター構造(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 24aPS-37 Si結晶の高角度入射-STEM像の定量解析(24aPS 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))

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