谷城 康眞 | 東京工業大学大学院理工学研究科
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概要
関連著者
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谷城 康眞
東京工業大学大学院理工学研究科
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高柳 邦夫
東京工業大学
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高柳 邦夫
東工大理工
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谷城 康眞
東工大院総合理工
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高柳 邦夫
東工大院理工
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谷城 康眞
東工大院理工
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谷城 康眞
東工大院理工:jst-crest
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高柳 邦夫
東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻
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高柳 邦夫
東工大
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高柳 邦夫
東京工業大学物性物理学専攻
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高柳 邦夫
東工大理
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高柳 邦夫
東工大総理工
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高柳 邦夫
東工大 総理工
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高柳 邦夫
東工大院総合理工
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沢田 英敏
Jst-ceest:日本電子
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大島 義文
東工大総理工
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澤田 英敬
Jst-cresta:日本電子
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近藤 行人
Jst-crest:日本電子
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沢田 英敬
Jst-crest:日本電子
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沢田 英敬
東大工
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沢田 英敬
JST-CREST
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大島 義文
東工大 総理工
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谷城 康眞
東京工業大学大学院理工学研究科物性物理学専攻
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神保 雄
東工大院理工
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近藤 行人
JST-CREST
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谷城 康眞
東京工業大学理学部物理
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奥西 栄治
日本電子:jst-crest
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和田 麻友香
東工大院理工
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小柳 聖
東工大院理工
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田中 崇之
東工大院理工:jst-crest
-
田中 崇之
東工大院総理工:東工大院理工
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田中 崇之
東京工業大学大学院理工学研究科
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谷城 康眞
東京工業大学
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田中 崇之
東工大院理工
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橋本 豊
東工大
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八木 克道
東京工業大学理学部
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橋川 直人
ルネサステクノロジ
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大島 義文
JST-CREST
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澤田 英敬
JST-CRESTA
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谷城 康眞
東工大院
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箕田 弘喜
東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻
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沢田 英敬
日本電子(株)
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大島 義文
東工大院総理工
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朝山 匡一郎
東工大院理工
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奥西 栄治
JST-CEEST
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近藤 行人
日本電子
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澤田 英敬
Jst-crest:日本電子
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李 少淵
東工大
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李 少淵
東工大院総合理工
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大島 義文
阪大電顕センター
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安部 悠介
東工大院理工
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大島 義文
東京工業大学大学院総合理工学研究科
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三宅 秀人
三重大学大学院工学研究科
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三宅 秀人
三重大工
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奥西 栄治
日本電子(株)
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八木 克道
東工大・理工学研究科
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山本 直紀
東京工業大学大学院理工学研究科
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鈴木 孝将
物性研
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箕田 弘喜
東京工業大学・理工学研究科
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出川 雅士
東工大院理工
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鈴木 孝将
東京工業大学大学院理工学研究科
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出川 雅士
東京工業大学理学部物理
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西村 穂積
東京工業大学理学部物理
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朝山 匡一郎
ルネサステクノロジ
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谷城 康眞
JST-CREST
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高柳 邦夫
JST-CREST
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有本 明希子
東工大院総理工
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八木 克道
Physics Department Tokyo Institute Of Technology Oh-okayama
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谷城 康眞
独立行政法人科学技術振興機構・CREST
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近藤 行人
独立行政法人科学技術振興機構・CREST
-
高柳 邦夫
独立行政法人科学技術振興機構・CREST
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三宅 秀人
三重大
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三宅 秀人
三重大学 工学部
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竹下 茜
東工大院総理工
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日比野 紘大
東工大院理工
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久保田 忠弘
本田技研
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橋本 豊
東工大院総合理工
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金 スヒョン
東工大院理工
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橋川 直人
日本電子
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金 秀鉉
東工大院理工
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近藤 行人
日本電子(株)顕微鏡開発研究グループ
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有本 明希子
東京工業大学大学院理工学研究科材料物理科学専攻
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大島 義文
東京工業大学大学院理工学研究科物理学専攻
-
大島 義文
大阪大学超高圧電子顕微鏡センター
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奥西 栄治
日本電子
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八木 克道
東京工業大学
-
三宅 秀人
三重大学
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田中 崇之
東京工業大学
著作論文
- 21pGP-9 宙づり単層及び二層グラフェンの長周期構造直接観察(21pGP グラフェン(成長と評価),領域7(分子性固体・有機導体))
- 20aHT-5 収差補正STEMによる単原子観察とZコントラストイメージング(20aHT 領域10 格子欠陥・ナノ構造(水素,ナノ粒子,金属),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 26aYK-13 収差補正走査型透過電子顕微鏡法によるシリコン結晶中ヒ素ドーパントの検出(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- Si微斜面での通電効果と表面形態
- 国産球面収差補正電子顕微鏡R005の開発
- 25pWZ-3 Si結晶中Sbドーパント不活性クラスター構造(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
- 25pWZ-2 球面収差補正ADF-STEM像におけるZ-contrast(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
- 25pWZ-1 CuInSe_2結晶の欠陥のSTEM観察(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
- 28pYH-5 収差補正STEMによる単原子のZコントラストイメージング(微粒子・クラスター,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 27aTE-11 収差補正STEMによる軽元素の単原子観察(27aTE 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 25aWS-8 球面収差補正TEMによるアモルファスカーボン膜上での金単原子の動的観察(25aWS 表面界面構造(金属・酸化物),領域9(表面・界面,結晶成長))
- 24pPSA-4 Energy-filtering TEMを用いた金EELSの膜厚依存(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
- REM-RHEEDにおけるエネルギー損失分光 : Ωフィルターによるエネルギーフィルタリング
- ナノ現象の顕微研究
- 22pPSB-20 収差補正STEMによる単原子観察(22pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 26pPSB-46 球面収差補正STEMによる低温炭素膜上の金属ナノ粒子観察(領域9ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 26aTD-4 広領域観察可能なTEM-STM開発と半導体物性の研究(表面界面電子物性,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 27pTN-14 球面収差補正ADF-STEMによるZコントラストイメージング(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 27pTN-13 球面収差補正TEMによる非晶質炭素膜を移動する金原子の動的観察(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 27pTN-12 LiV2O4結晶の環状明視野像におけるリチウムカラム強度解析(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 超イオン導電体AgIからの銀細線の成長と電気伝導
- 21aJA-9 球面収差補正STEMによるZコントラストイメージング(21aJA X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 21aJA-10 環状明視野像メカニズムの解明(21aJA X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 球面収差補正透過型電子顕微鏡法を用いたアトミックスケールでの構造解析
- 金属吸着表面上のSiおよびGe成長の研究 : 無機結晶II