橋本 豊 | 東工大
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概要
関連著者
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高柳 邦夫
東工大院理工
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橋本 豊
東工大
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大島 義文
東工大総理工
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谷城 康眞
東工大院理工:jst-crest
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高柳 邦夫
東工大理工
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谷城 康眞
東工大院総合理工
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谷城 康眞
東京工業大学大学院理工学研究科
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谷城 康眞
東工大院理工
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近藤 行人
JST-CREST
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橋川 直人
ルネサステクノロジ
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大島 義文
JST-CREST
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澤田 英敬
JST-CRESTA
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朝山 匡一郎
ルネサステクノロジ
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谷城 康眞
JST-CREST
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高柳 邦夫
JST-CREST
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近藤 行人
Jst-crest:日本電子
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高柳 邦夫
東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻
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高柳 邦夫
東京工業大学
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澤田 英敬
Jst-cresta:日本電子
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大島 義文
東工大院総理工
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橋本 豊
東工大院総合理工
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沢田 英敏
Jst-ceest:日本電子
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高柳 邦夫
東工大
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大島 義文
東工大 総理工
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朝山 匡一郎
東工大院理工
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澤田 英敬
Jst-crest:日本電子
著作論文
- 26aYK-13 収差補正走査型透過電子顕微鏡法によるシリコン結晶中ヒ素ドーパントの検出(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 24pPSA-4 Energy-filtering TEMを用いた金EELSの膜厚依存(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)