谷城 康眞 | 東工大院理工

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概要

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関連著者

• 谷城 康眞

  東工大院理工

• 高柳 邦夫

  東工大院理工

• 谷城 康眞

  東工大院

• 谷城 康眞

  東工大院理工:jst-crest

• 谷城 康眞

  東工大院総合理工

• 八木 克道

  東工大・理工学研究科

• 谷城 康眞

  東工大理

• 八木 克道

  東工大理

• 箕田 弘喜

  東工大理

• 高柳 邦夫

  東工大理工

• 谷城 康眞

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 八木 克道

  東京工業大学理学部

• 八木 克道

  Physics Department Tokyo Institute Of Technology Oh-okayama

• 高柳 邦夫

  東京工業大学

• 高柳 邦夫

  東工大

• 鈴木 孝将

  物性研

• 高柳 邦夫

  東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻

• 高柳 邦夫

  東工大理

• 高柳 邦夫

  東工大総理工

• 高柳 邦夫

  東工大 総理工

• 出川 雅士

  東工大院理工

• 高柳 邦夫

  東工大院総合理工

• 高柳 邦夫

  東京工業大学物性物理学専攻

• 箕田 弘喜

  東工大院理工

• 鈴木 孝将

  東工大理

• 沢田 英敬

  Jst-crest:日本電子

• 沢田 英敬

  東大工

• 沢田 英敏

  Jst-ceest:日本電子

• 赤堀 千明

  東工大院理工

• 出川 雅士

  東工大理

• 伊藤 亮治

  東工大院理工

• 沢田 英敬

  JST-CREST

• 石黒 菜美

  東工大理

• 小川 慶太

  東工大院理工

• 澤田 英敬

  Jst-cresta:日本電子

• 三輪 哲史

  東工大院理工

• 柴田 沙希子

  東工大院総理工

• 八木 克道

  東工大・理

• 大島 義文

  東工大総理工

• 八木 克道

  東工大院理工

• 大島 義文

  東工大 総理工

• 金 秀鉉

  東工大院理工

• 神保 雄

  東工大院理工

• 近藤 行人

  JST-CREST

• 服部 司

  東工大院理工:東工大理

• 竹口 雅樹

  物質・材料研究機構

• 西村 穂積

  東京工業大学理学部物理

• 谷城 康眞

  東京工業大学理学部物理

• 有本 明希子

  東工大院総理工

• 近藤 行人

  Jst-crest:日本電子

• 島倉 智一

  東工大理

• 寺口 聡

  東工大院理工

• 竹口 雅樹

  Nims

• 竹口 雅樹

  物質・材料研究機構 超高圧電子顕微鏡ステーション

• 竹口 雅樹

  (独)物質・材料研究機構 ナノ計測センター

• 和田 麻友香

  東工大院理工

• 小柳 聖

  東工大院理工

• 寺口 聡

  東工大院理工:東工大理

• 田中 崇之

  東工大院理工

• 小林 国男

  東工大理

• 外村 修

  東大工

• 小林 国男

  東工大・理

• 八木 克道

  東工大 理

• 小林 国男

  東工大 理

• 箕田 弘喜

  東工大・理工学研究科

• 谷城 康眞

  東工大・理工学研究科

• 橋川 直人

  ルネサステクノロジ

• 大島 義文

  JST-CREST

• 澤田 英敬

  JST-CRESTA

• 谷城 康眞

  東京工業大学大学院理工学研究科物性物理学専攻

• 箕田 弘喜

  東京農工大・工:jst-crest

• 奥西 栄治

  日本電子:jst-crest

• 谷城 康眞

  東工大 理

• 外村 修

  東工大理

• 小林 國男

  東工大 理

• 大島 義文

  東工大院総理工

• 岡本 公人

  日本電子

• 竹口 雅樹

  金材研

• 橋川 直人

  日本電子

• 朝山 匡一郎

  東工大院理工

• 奥西 栄治

  JST-CEEST

• 田中 崇之

  東工大院理工:jst-crest

• 澤田 英敬

  Jst-crest:日本電子

• 田中 崇之

  東工大院総理工:東工大院理工

• 倉橋 暢彦

  東工大理

• 西村 穂積

  東工大理

• 田中 崇之

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 八木 克道

  東工大

• 谷城 康眞

  東工大・理

• 小林 国男

  東工大

• 安部 悠介

  東工大院理工

• 三宅 秀人

  三重大学大学院工学研究科

• 橋本 豊

  東工大

• 三宅 秀人

  三重大工

• 長谷川 修司

  東大院理

• 出口 俊二

  日本電子株式会社電子光学機器本部

• 大鉢 忠

  同志社大工

• 岩槻 正志

  日本電子

• 八本 克道

  東工大理

• Peng Y.

  東工大院理工

• 箕田 弘喜

  東京工業大学・理工学研究科

• 森島 育栄

  東工大理

• 鈴木 孝将

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 出川 雅士

  東京工業大学理学部物理

• 出川 雅士

  東大工理

• 箕田 弘喜

  東大工理

• 谷城 康眞

  東大工理

• 八木 克道

  東大工理

• 小川 慶大

  東工大院理工

• 伊藤 亮治

  東工大理

• 大鉢 忠

  同志社大・理

• 成瀬 幹夫

  日本電子

• 高柳 邦夫

  東工大院理工:jst-crest

• 三宅 秀人

  三重大

• 三宅 秀人

  三重大学 工学部

• 箕田 弘喜

  東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻

• 成瀬 幹夫

  日本電子(株)

• 長倉 繁磨

  東工大工

• 大橋 宣宏

  東工大理

• 三輪 菅史

  東工大院理工

• 赤堀 千明

  東工大理

• 青木 進

  日本電子

• 天草 貴昭

  日本電子

• 天草 貴昭

  日本電子(株)

• 千田 満

  東工大理

• 竹下 茜

  東工大院総理工

• 日比野 紘大

  東工大院理工

• 久保田 忠弘

  本田技研

• 長倉 繁磨

  東京工大・工

• 中山 佳子

  Nims

• 谷城 眞城

  東工大院理工

• 鈴木 孝将

  東工大院理工

• 石黒 菜美

  東工大院理工

• 岡本 公治

  日本電子

• 河西 亨

  日本電子

• 守谷 幸二

  日本電子

• 川添 宗之

  日本電子

• 谷城 康眞

  東工大・物理

• 箕田 弘喜

  東工大・物理

• 鈴木 孝将

  東工大・物理

• 八木 克道

  東工大・物理

• 箕田 弘善

  東工大理

• 橋本 豊

  東工大院総合理工

• 長倉 繁磨

  東工大.工

• 小宮山 英明

  東工大院理工

• 出口 俊二

  日本電子

• 金 スヒョン

  東工大院理工

• 金 秀鉱

  東工大院理工

• 小平 靖宣

  東工大

• 有本 明希子

  東京工業大学大学院理工学研究科材料物理科学専攻

• 李 少淵

  東工大

• 李 少淵

  東工大院総合理工

• 大島 義文

  阪大電顕センター

• 和田 麻友番

  東工大院理工

• 和田 麻友番

  東工大院理工:JST-CREST

• 八木 克道

  東京工業大学

• 三宅 秀人

  三重大学

• 谷城 康眞

  東工大院理工・物性物理

• 谷城 康眞

  東京工業大学

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著作論文

• 21pGP-9 宙づり単層及び二層グラフェンの長周期構造直接観察(21pGP グラフェン(成長と評価),領域7(分子性固体・有機導体))
• 20aHT-5 収差補正STEMによる単原子観察とZコントラストイメージング(20aHT 領域10 格子欠陥・ナノ構造(水素,ナノ粒子,金属),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 28aXC-7 反射電子顕微鏡法におけるenergy-filtered electron interferometry II
• 29pPSA-26 高分解能超高真空電子顕微鏡を用いたSi高指数面や微斜面の観察
• 28aTA-14 Si(111)微斜面上の直流通電加熱誘起のin-phase step wanderingの直流電流成分依存性の研究
• 24pPSA-57 Si(111)微斜面上における通電効果のoff角依存性
• 24pPSA-16 Si(5 5 12)面上のAu吸着過程の高分解能REM観察
• 反射電子顕微鏡法におけるEnergy filtered holography
• 25pT-1 Si(111)面上における通電によるSi adatomのドリフト方向
• 24aPS-52 Si(111)面上における直流通電加熱によるステップ不安定性の研究
• 24aPS-51 Si(111)微斜面上のstep-down通電によるin-phase step wandering
• 24aPS-40 反射電子顕微鏡法におけるエネルギーフィルタリング
• 23aT-7 Si表面における通電と吸着によるステップダイナミックス
• 22aT-11 反射電子顕微鏡法におけるEnergy filtered holography
• Si微斜面での通電効果と表面形態
• 26aPS-44 Si(111)面上におけるSi粒子のエレクトロマイグレーション
• 26aPS-29 電界放出型エネルギーフィルター電子顕微鏡の開発と表面研究への応用III : エネルギーフィルタリング
• 20pYE-5 TEM-STMによるAgナノワイヤの構造観察および電気計測II(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 24pXC-6 TEM-STMを用いた銀ナノワイヤの構造とコンダクタンスの研究II(ナノワイヤ・ナノチューブ,領域9(表面・界面, 結晶成長))
• 15aPS-76 TEM-STM を用いた銀ナノワイヤの構造とコンダクタンスの研究(領域 9)
• 12aXG-10 TEM-STM による Ag ナノワイヤの構造観察および電気計測(ナノチューブ・ナノワイヤ, 領域 9)
• 21aYE-9 TEM-STM 内で成長させた銀ナノワイヤーの構造とコンダクタンス
• 20aPS-69 TEM-STM による銀ナノワイヤーのコンダクタンス計測
• 28pPSB-63 電子顕微鏡組込用超小型 STM の開発と金属ナノワイヤーへの応用
• 25pWZ-3 Si結晶中Sbドーパント不活性クラスター構造(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 25pWZ-2 球面収差補正ADF-STEM像におけるZ-contrast(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 25pWZ-1 CuInSe_2結晶の欠陥のSTEM観察(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 21aTG-2 応力変化に伴う金ナノワイヤの構造変化(ナノチューブ・ナノワイヤー,表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 25aYC-3 応力印加に伴う金ナノワイヤの構造変化II(25aYC ナノチューブ・ナノワイヤ・結晶成長,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 30aPS-70 応力印加時の金ナノワイヤの変形・破断過程の構造観察(30aPS 領域9ポスターセッション(表面,界面,結晶成長),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 30pXJ-5 応力変化に伴う金ナノワイヤの構造変化(30pXJ ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 21aPS-79 Auナノワイヤの構造と機械的性質(領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 20pYE-6 TEM-AFMによる金ナノワイヤの力学特性と構造のその場同時観察(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 24pXC-5 TEM-AFMによるAuナノワイヤーの力計測と構造観察II(ナノワイヤ・ナノチューブ,領域9(表面・界面, 結晶成長))
• 28pYH-5 収差補正STEMによる単原子のZコントラストイメージング(微粒子・クラスター,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 27aTE-11 収差補正STEMによる軽元素の単原子観察(27aTE 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 29a-PS-16 双探針STMを用いた金属吸着Si(111)-√×√-Ag表面の研究
• 27a-PS-46 双探針STMの開発II
• 31a-PS-36 双探計STMの開発
• 30pWP-5 金属ナノワイヤの半整数量子化コンダクタンス(ナノチューブ・ナノワイヤ)(領域9)
• 21aYE-10 TEM-AFM による Au ナノワイヤーの構造観察および力計測
• 20aPS-70 TEM-AFM を用いた Au ワイヤーの研究
• 31aZF-8 UHV-TEM 装着用超小型 AFM ユニットの開発
• 28pPSB-64 UHV-TEM 装着用超小型 AFM ユニットを用いた Au ナノワイヤーの力計測
• 24pW-8 通電によるSi(111)微斜面上のステップパンチングとワンダリング
• 29a-PS-18 Si(111)表面およびその微斜面における通電効果II
• 27a-PS-39 Si(111)表面およびその微斜面における通電効果
• 25aWS-8 球面収差補正TEMによるアモルファスカーボン膜上での金単原子の動的観察(25aWS 表面界面構造(金属・酸化物),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 25pPSB-59 高感度CCD-TEM-STMによるナノワイヤ構造変化の動的観察(25pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 30aPS-71 TEM-STMを用いたAgナノワイヤの構造と電気伝導の研究(30aPS 領域9ポスターセッション(表面,界面,結晶成長),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 30pXJ-4 TEM-STMによるAgナノワイヤの構造観察および電気計測III(30pXJ ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 26aPS-28 電界放出型エネルギーフィルター電子顕微鏡の開発と表面研究への応用 II : 高分解能REM
• 24aY-6 電界放出型エネルギーフィルター電子顕微鏡の開発と表面研究への応用 I
• 24aY-4 Si(111), (110)微斜面の熱平衡形状のREM観察III
• Ω型エネルギーフィルターを内臓した超高真空電子顕微鏡の開発
• 27a-PS-16 Si微斜面の熱平衡形状への移行の初期過程のREM観察II
• 31a-PS-13 Si微斜面と高指数表面のREM観察
• 24pPSA-4 Energy-filtering TEMを用いた金EELSの膜厚依存(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 19pPSB-54 超イオン導電体AgIを利用したAg細線の作製
• REM-RHEEDにおけるエネルギー損失分光 : Ωフィルターによるエネルギーフィルタリング
• 領域9「ナノコンタクト・ナノワイヤの伝導」(2003年秋季大会シンポジウム(物性分科会)の報告)
• 超高真空エネルギーフィルター電子顕微鏡による表面研究
• 24aPS-37 Si結晶の高角度入射-STEM像の定量解析(24aPS 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 22pPSB-20 収差補正STEMによる単原子観察(22pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 26pPSB-46 球面収差補正STEMによる低温炭素膜上の金属ナノ粒子観察(領域9ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 26aTD-4 広領域観察可能なTEM-STM開発と半導体物性の研究(表面界面電子物性,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 22aXJ-3 広域観察のTEM-STM開発(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 20aPS-39 広域観察可能なTEM-STMの開発(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 25pPSB-26 広領域観察可能なTEM-STMの開発(25pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 2p-D-1 超高真空電顕によるAg(111)表面ステップの動的観察
• 30a-F-9 超高電圧, 超高真空電顕その場観察用蒸着源の試作
• 超イオン導電体AgIからの銀細線の成長と電気伝導
• 12aXG-9 TEM-AFM による Au ナノワイヤの力計測と構造観察(ナノチューブ・ナノワイヤ, 領域 9)
• 30pWP-10 TEM-AFMによるAuナノワイヤーの構造観察および力計測II(ナノチューブ・ナノワイヤ)(領域9)
• 30a-YF-10 Si(111)急冷表面のSTM観察III
• 27pTN-14 球面収差補正ADF-STEMによるZコントラストイメージング(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27pTN-13 球面収差補正TEMによる非晶質炭素膜を移動する金原子の動的観察(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 31aZF-4 Agl から析出した Ag 細線のコンダクタンス
• 21aJA-9 球面収差補正STEMによるZコントラストイメージング(21aJA X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 29a-PS-17 Si(001)微斜面上における通電効果II
• 27a-PS-38 Si(001)及びその微斜面上における通電効果
• 29a-PS-12 Si高指数面上のAu吸着誘起ファセッティングのREM-RHEED観察II
• 27a-PS-40 Si高指数面上のAu吸着誘起ファセッティングのREM-RHEED観察
• 27aCL-4 薄膜試料における環状明視野像メカニズムの解明(27aCL X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27aCL-3 球面収差補正STEMによるZコントラストイメージング(27aCL X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 24pYF-3 反射電子顕微鏡法(REM-RHEED)におけるエネルギーフィルタリング(24pYF 領域9,領域10合同シンポジウム 主題:電子回折の新展開,領域9(表面・界面,結晶成長分野))
• 25pPSB-11 表面プラズモン損失したRHEED電子の触分布:理論計算(25pPSB 表面界面・結晶成長,領域9(表面・界面,結晶成長分野))

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