天草 貴昭 | 日本電子(株)

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概要

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関連著者

• 岩槻 正志

  日本電子

• 天草 貴昭

  日本電子(株)

• 栃原 浩

  九大総理工

• 天草 貴昭

  日本電子

• 栃原 浩

  北大触媒研

• 栃原 浩

  北大触媒セ

• 佐藤 智重

  日本電子

• 佐藤 智重

  日本電子(株)

• 岩槻 正志

  日本電子株式会社

• 近藤 康

  アトムテクノロジー研究体(jrcat)-オングストロームテクノロジー研究機構

• 徳本 洋志

  Jrcat-nair

• 徳本 洋志

  アトムテクノロジー研究体-産業技術融合領域研究所

• 岩槻 正志

  日本電子(株)

• 徳本 洋志

  アトムテクノロジー研究体

• 末吉 孝

  JEOL

• 谷城 康眞

  東工大院理工

• 河合 伸

  九大理

• 八木 克道

  東工大理

• 水野 清義

  北大触媒セ

• 谷城 康眞

  東工大理

• 中山 正敏

  九大理

• 八木 克道

  東工大・理工学研究科

• 末吉 孝

  日本電子

• 箕田 弘喜

  東工大理

• 谷城 康眞

  東工大院

• 島倉 智一

  東工大理

• 中村 美道

  東京大学大学院工学系研究科

• 佐藤 智重

  JEOL

• 岩槻 正志

  JEOL

• 青木 進

  日本電子

• 徳本 洋志

  産業技術融合領域研究所

• 近藤 康

  JRCAT-ATP

• 柴田 信正

  日本電子(株)

• 千葉 聡

  日本電子(株)

• 中村 美道

  九大理

• 天草 貴昭

  JEOL

• 栃原 浩

  九州大学工学部

• 徳本 洋志

  Jrcat

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著作論文

• 31a-PS-36 双探計STMの開発
• 24aY-8 低温STMによるSi(001)上に吸着されたXe原子の観察
• 低温STMの開発
• 31p-PSB-22 ステップのあるSi(001)表面のc(4×2)ドメイン形成
• 温度可変STMで観察したSi(001), Ge(001)表面の動的現象
• 31p-PSB-25 Ge(001)表面のダイマーのフリップ・フロップ運動のSTMによる観察
• 3a-Q-1 Si(001)2x1表面の低温でのSTM像

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