岩槻 正志 | 日本電子(株)
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
岩槻 正志
日本電子(株)
-
岩槻 正志
日本電子
-
岩槻 正志
日本電子(株)電子光学機器技術部
-
佐藤 智重
日本電子
-
佐藤 智重
日本電子(株)
-
天草 貴昭
日本電子(株)
-
栃原 浩
九大総理工
-
一宮 彪彦
名大工
-
近藤 康
アトムテクノロジー研究体(jrcat)-オングストロームテクノロジー研究機構
-
谷城 康眞
東工大理
-
高柳 邦夫
東工大理
-
北村 真一
日本電子株式会社
-
徳本 洋志
Jrcat-nair
-
徳本 洋志
アトムテクノロジー研究体-産業技術融合領域研究所
-
野村 晴彦
名大工
-
堀尾 吉巳
名大工
-
末松 孝
日本電子(株)
-
中本 圭一
日本電子株式会社
-
徳本 洋志
アトムテクノロジー研究体
-
近藤 康
JRCAT-ATP
-
柴田 信正
日本電子(株)
-
千葉 聡
日本電子(株)
-
鈴木 克之
日本電子株式会社
-
栃原 浩
九州大学工学部
-
岩槻 正志
日本電子株式会社
-
北村 真一
日本電子(株)
-
鈴木 克之
日本電子(株)
-
中本 圭一
日本電子(株)研究開発部
-
関根 賢
日本電子(株)研究開発部
-
徳本 洋志
Jrcat
-
岩槻 正志
日本電子(株)研究開発部
-
室岡 賢一
東工大理
-
大井 公郎
日本電子(株)
-
内海 博
日本電子(株)
著作論文
- 25p-Y-2 Si(111)√×√-Ag 表面における√×√(Au, Ag)構造の揺動
- 低温STMの開発
- 温度可変STMで観察したSi(001), Ge(001)表面の動的現象
- 試料バイアス電圧のUHV NC-AFM観察に及ぼす影響
- AFMによる凍結割断試料のその場観察の試み
- 表面のナノオーダ観察・分析
- 走査プローブ顕微鏡(SPM)
- II ノーベル賞, その分析法への展開 原子の観察
- SPMとSEM/TEMとの複合化装置
- 1 STM 加工(生産技術のニューウェーブ《マイクロ加工》)
- 31p-F4-9 TEMに組合せたSTM機構の試作(表面・界面)