北村 真一 | 日本電子株式会社

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概要

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• 北村 真一

  日本電子株式会社

• 岩槻 正志

  日本電子

• 岩槻 正志

  日本電子株式会社

• 鈴木 克之

  日本電子株式会社

• 佐藤 智重

  日本電子

• 佐藤 智重

  日本電子株式会社

• 鈴木 克之

  日本電子(株)

• 安田 安生

  静岡大学電子工学研究所

• 福田 安生

  静岡大学電子工学研究所

• 福田 安生

  静岡大学電子科学研究科

• 福田 安生

  日本鋼管(株)中央研究所

• 北村 真一

  日本電子

• 佐藤 智重

  日本電子(株)

• 岩槻 正志

  日本電子(株)

• 中本 圭一

  日本電子株式会社

• 末吉 孝

  JEOL

• 末吉 孝

  日本電子データム株式会社

• 北村 真一

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• 岩槻 正志

  日本電子 (株)

• 北村 真一

  日本電子 (株)

• 佐藤 智重

  日本電子 (株)

• 福田 安生

  静岡大 電子工研

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著作論文

• 超高真空ノンコンタクト原子間力顕微鏡の開発とその応用
• SPMによる表面の計測と加工
• 超高真空走査ケルビンプローブ顕微鏡による原子レベルの電位像観察
• 原子分解能SKPMによる半導体材料科学への応用法
• 超高真空 SPM による原子レベルの電位像観察
• 低温UHV-AFM/STMの開発
• SPMで観察する極微の世界
• 温度可変機能を付加した環境制御SPM
• 試料バイアス電圧のUHV NC-AFM観察に及ぼす影響
• 高温走査型トンネル顕微鏡 (HT-STM) によるSi 表面の実時間観察

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