福田 安生 | 静岡大学電子工学研究所
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概要
関連著者
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福田 安生
静岡大学電子工学研究所
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福田 安生
日本鋼管(株)中央研究所
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安田 安生
静岡大学電子工学研究所
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福田 安生
静岡大学電子科学研究科
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福田 安生
静岡大 電子工研
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鈴木 佳子
静岡大学電子工学研究所
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橋本 哲
鋼管計測株式会社分析センター
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眞田 則明
静岡大学電子工学研究所
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橋本 哲
鋼管計測(株)
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土谷 康夫
静岡大学電子科学研究科
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橋本 哲
NKK鉄鋼研究所
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鈴木 佳子
静大
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薄木 智亮
住友金属工業(株)総合技術研究所
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薄木 智亮
住友金属株式会社
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薄木 智亮
住友金属工業 総技研
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鈴木 堅市
新日本製鉄株式会社鉄鋼研究所
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源内 規夫
(株)コベルコ科研
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広川 吉之助
東北大学金属材料研究所
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吉田 鎮男
大同特殊鋼(株)中央研究所
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大坪 孝至
(社)日本鉄鋼連盟
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吉田 鎮雄
大同特殊鋼(株)中央研究所
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大坪 孝至
新日本製鉄株式会社鉄鋼研究所
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大坪 孝至
新日本製鉄(株)第一技術研究所
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広川 吉之助
アルバック・ファイ株式会社
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広川 吉之助
東北大
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源内 規夫
コベルコ科研
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佐々木 澄夫
セイコー電子工業(株)
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薄木 智亮
住友金属工業 (株) 未来技術研究所
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薄木 智亮
住友金属工業 (株)
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鈴木 敏子
川崎製鉄(株)分析物性研究センター
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甲田 満
日新製鋼(株)鉄鋼研究所
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瀬崎 博史
日立金属(株)冶金研究所
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堀江 浩
九州電子金属(株)半導体研究センター
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土谷 康夫
日本鋼管(株)中央研究所
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田中 彰博
アルバック・ファイ株式会社
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田中 彰博
アルバック・ファイ(株)
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大澤 隆雄
セイコー電子工業(株)
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橋本 哲
日本鋼管(株)中央研究所
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寺坂 正二
日本鋼管(株)中央研究所
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下村 勝
静岡大電子研
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下村 勝
静岡大 大学院電子科学研究科
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田中 彰博
アルバック・ファイ (株)
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福田 安生
静岡大学大学院電子科学研究科
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石橋 耀一
鋼管計測株式会社分析センター
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石橋 耀一
鋼管計測(株) 分析センター
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橋本 哲
日本鋼管
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市川 祐永
静岡大 電子工研
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虻川 匡司
東北大多元研
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虻川 匡司
東北大学多元物質科学研究所
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大坪 孝至
新日本製鉄(株)分析研究センター
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下村 勝
静岡大学大学院電子科学研究科
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浦川 隆之
NKK総合材料技術研究所
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市川 祐永
鋼管計測(株)
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土谷 康夫
鋼管計測(株)分析センター
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石橋 耀一
鋼管計測(株)分析センター
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中岡 一秀
日本鋼管(株)中央研究所
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河野 省三
東北大科研
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河野 省三
東北大多元研
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岡戸 昭佳
日本鋼管(株)中央研究所
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浦川 隆之
日本鋼管(株)福山研究所
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大橋 善治
川崎製鉄(株)技術研究所
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石田 英明
日新製鋼(株)市川研究所
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河野 省三
東北大・理
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大澤 隆雄
東工大原子炉
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大沢 隆雄
東工大原子炉
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大澤 隆雄
(株)第二精工舎
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中岡 一秀
Nkk中央研究所
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大橋 善治
川崎製鉄(株)鉄鋼研究所分析物性研究部
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土谷 康夫
鋼管計測(株)
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河野 省三
東北大
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岡戸 昭佳
NKK福山研究所
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関本 靖裕
日立金属(株)磁性材料研究所
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福田 安生
日本鋼管(株)中研
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中岡 一秀
日本鋼管 技研
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石橋 耀一
鋼管計測(株)
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石田 明広
静岡大学工学部
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中西 洋一郎
静岡大学電子工学研究所
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菊地 英一
早稲田大学大学院先進理工学研究科
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原 富啓
(株)アイロックス-nkk
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立木 昌
金材技研
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虻川 匡司
東北大理
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名越 正泰
NKK
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福田 安生
静大電研
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庄野 安彦
東北大金研
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立木 昌
東北大金研
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名越 正泰
鋼管計測
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福田 安生
静岡大電子研
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庄野 安彦
東北大学金属材料研究所
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立木 昌
東大新領域:jst-crest
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中村 誠
静岡大学大学院電子科学研究科
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稲垣 淳一
NKK総合材料技術研究所
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下村 勝
東北大学科学計測研究所
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虻川 匡司
東北大学科学計測研究所
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河野 省三
東北大学科学計測研究所
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平川 剛
ガルバテックス(株)
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鈴木 敏子
1
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広川 吉之助
2
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福田 安生
3
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鈴木 堅市
4
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橋本 哲
5
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薄木 智亮
6
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源内 規夫
7
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吉田 鎮男
8
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甲田 満
9
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瀬崎 博史
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堀江 浩
11
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田中 彰博
12
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大坪 孝至
13
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道井 敏
日本鋼管(株)中央研究所
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鷺山 勝
日本鋼管(株)鉄鋼研福山研究所
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岩澤 康裕
東京大学理学系研究科化学専攻
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仲 晃一
静岡大学電子工学研究所
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眞田 則明
静岡大学大学院電子科学研究科
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P.J. メラー
コペンハーゲン大学科学研究所IV
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市川 祐永
静岡大学大学院電子科学研究科・鋼管計測株式会社 分析センター
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岩槻 正志
日本電子
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原 富啓
日本鋼管(株)中央研究所
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稲垣 淳一
早稲田大学理工学部
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北村 真一
日本電子株式会社
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竹内 彰矢
静岡大学電子工学研究所
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村田 純一
静岡大学電子工学研究所
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Gong Xiuying
浜松ホトニクス(株)中央研究所
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藤安 洋
静岡大学工学部電子工学科
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藤安 洋
静岡大学工学部
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石野 健英
静岡大学工学部
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稲垣 淳一
日本鋼管 総合材料技研
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伊ヶ崎 泰宏
静岡大学電子工学研究所
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山口 十六夫
静岡大学
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熊野 裕司
静岡大学電子工学研究所
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友田 和一
静岡大学地域共同研究センター
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島岡 五朗
静岡大学電子工学研究所
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鈴木 克之
日本電子株式会社
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友田 和一
地域共同研究センター
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金田 源太
静岡大学電子科学研究科
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岩槻 正志
日本電子株式会社
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福田 安生
静岡大学 電子工学研究所
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山口 十六夫
静岡大 電子工研
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菊地 英一
早稲田大学
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虻川 匡司
東北大学多原研
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石野 健英
静岡大学工学部電子工学科
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石田 明広
静岡大学工学部電子工学科
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鈴木 友久
静岡大学電子工学研究所
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虻川 匡司
東北大学理
著作論文
- 5p-YE-5 高温超伝導酸化物におけるBa、Sr、Ca、およびYの内殻レベルの結合エネルギー
- 次世代デバイス用ゲート絶縁膜としてのハフニウム系薄膜の表面分析法を用いた評価
- (NH_4)_2S_x溶液処理したInAs(lll)表面の研究
- (NH_4)_2S_x処理したInAs(111)A-(2×2)-S表面の構造解析
- X線光電子分光法(XPS)による(NH_4)_2S_x処理InSb(001)表面の研究
- Bi_2(Sr_1-_xLa_x)_2CoO_yセラミックの作製と電子状態の研究
- 高分解能X線光電子分光法(XPS)による(NH_4)_2S_x処理 GaAs(111)A,(111)B表面の研究(II)
- H_2S処理を行ったInP(001)の表面構造および電子状態
- 高分解能X線光電子分光(XPS)による(NH_4)_2S_x処理InAs(001)表面の研究
- 高分解能X線光電子分光(XPS)による(NH4)2Sx処理GaAs(001),(111)A,(111)B表面の研究
- (NH4)2Sx処理GaP(001),(111)A,(111)B表面の高分解能X線光電子分光(XPS)による研究
- Zn-Mn合金電気めっきの皮膜構造解析
- 熱延鋼板における溶融亜鉛めっき合金化挙動
- Si含有鋼板の表面構造と溶融亜鉛めっき密着性の関係
- オージェ電子分光法定量分析における装置補正因子
- 酸化物試料の X 線光電子分光法による定量分析
- イオンスパッタリングによる酸化物の X 線光電子ペクトルの変化
- 深さ方向分析におけるイオンスパッタリング収率の測定
- オージェ電子分光法による状態分析のためのスペクトル微細構造観察
- 321 鉄-亜鉛合金電気めっき鋼板界面の分析(元素分析, 表面分析, 分析, 日本鉄鋼協会第 108 回(秋季)講演大会)
- 404 Zn-Mn 合金電気めっき層の結晶構造と加熱による相変化(表面解析, 表面分析, 元素分析, 分析・表面処理, 日本鉄鋼協会第 113 回(春季)講演大会)
- Zn-13%Ni 電気合金めつき鋼板の腐食生成物の各種表面分析機器による解析(表面処理分析小特集)
- 27a-PB-2 ターシャリブチルホスフィン(TBP)のSi(001)上での分解機構の研究
- 26pXC-8 Si表面上におけるピロール及びピラジンの吸着構造(表面・界面構造(シリコン表面),領域9(表面・界面, 結晶成長))
- 講義 III-V族化合物半導体表面及び硫黄処理表面分析--組成、構造、電子状態
- 高分解能X線光電子分光(XPS)による(NH_4)_2S_x処理GaAs(001),(111)A,(111)B表面の研究
- (NH_4)_2S_x処理GaP(001),(111)A,(111)B表面の高分解能X線光電子分光(XPS)による研究
- 窒素イオンビームによるInP(001)表面の窒化
- 456 Zn-Mn 合金電気めっき層の構造解析(電気 Zn 系めつき・化成処理, 分析・表面処理, 日本鉄鋼協会第 111 回(春季)講演大会)
- 金属の表面分析の現状と課題 (2)(共同研究会鉄鋼分析部会表面分析小委員会)
- 金属の表面分析の現状と課題 (1)(共同研究会鉄鋼分析部会表面分析小委員会)
- 討 28 X 線光電子分光法 (XPS) による状態分析 : 鉄鋼共同研究会分析部会表面分析小委員会報告(V 鉄鋼における表面分析の現状と問題点, 第 111 回 講演大会討論会講演概要)
- 討 25 Ni(13%)-Zn 電気合金めっき腐食層の AES, XPS X 線回折による分析(IV 薄板・表面処理鋼板の表面解析とその応用, 第 109 回 講演大会討論会講演概要)
- 高分解能電子エネルギー損失分光器(HREELS)の作製とトリメチルホスフィンのSi(111)表面での分解過程への応用
- 表面状態の解析-33-紫外光電子分光法(UPS),逆光電子分光法(IPES)
- 超高真空走査ケルビンプローブ顕微鏡による原子レベルの電位像観察
- International Symposium on Surface Nano-Control of Environmental Catalysts and Related Materials (6th Iketai Conference)-Toward Understanding Material Surfaces and Surface Reactions in an Atomic/Molecular Scale-報告
- 「オーストラリア-アジアXPSシンポジウム1995」報告
- 企画および講演大会の15年の歩み
- ホットウォ-ル蒸着法によるSrSe薄膜の作製 (第29回真空に関する連合講演会プロシ-ディングス)